CIP-2021 : G01N 23/207 : Difractometría, p. ej. utilizando una sonda en posición central y uno o varios detectores móviles dispuestos en círculo.
CIP-2021 › G › G01 › G01N › G01N 23/00 › G01N 23/207[2] › Difractometría, p. ej. utilizando una sonda en posición central y uno o varios detectores móviles dispuestos en círculo.
G FISICA.
G01 METROLOGIA; ENSAYOS.
G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q).
G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos G01N 3/00 - G01N 17/00, G01N 21/00 o G01N 22/00.
G01N 23/207 · · Difractometría, p. ej. utilizando una sonda en posición central y uno o varios detectores móviles dispuestos en círculo.
CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.
Procedimiento de medición de difracción de los rayos x, sus aplicaciones y dispositivo de implementación.
(03/05/2017). Solicitante/s: UNIVERSITE DE ROUEN. Inventor/es: COQUEREL, GERARD, SANSELME,MORGANE, LAFONTAINE,ANAÏS.
Procedimiento de medición de difracción de los rayos X, en el que se instala en un recipiente que comprende un fondo plano permeable a los rayos X, un compuesto que hay que analizar, y se procede a un análisis por difracción de los rayos X enviando un flujo de rayos X hacia arriba en dirección de dicho fondo permeable a los rayos X y midiendo el flujo de rayos X difractados reflejado hacia abajo, y caracterizado por que se proyecta hacia el fondo plano permeable a los rayos X, por el exterior del recipiente , un fluido termostático a la misma temperatura que la del compuesto que hay que analizar en el recipiente.
PDF original: ES-2634451_T3.pdf
Inspección de materiales por evaluación de la contribución de la dispersión de Bragg a los espectros de absorción de Rayos X.
(18/12/2015) Un método de obtención de datos de transmisión de la radiación de un objeto, que comprende las etapas de:
proporcionar una fuente de radiación electromagnética ionizante de alta energía y un sistema detector de radiación (21; 3a, 3b, 3c) separado de ella para definir una zona de exploración (Z) entre ambos, siendo el sistema detector capaz de detectar y recoger información espectroscópicamente resoluble acerca de la radiación incidente;
recoger un conjunto de datos de información acerca de la radiación incidente en el detector, y por ello de la transmisividad de un objeto en la zona de exploración, en al menos una y preferiblemente en una multiplicidad de posiciones de exploración a partir de la radiación…
DIFRACTOMETRO Y PROCEDIMIENTO PARA ANALISIS POR DIFRACCION.
(27/09/2010) Difractómetro que comprende:
- una unidad analítica que soporta una fuente de un haz de radiación, que tiene un eje de colimación ; y un detector de haz de radiación que tiene un eje de recepción , dichos ejes de colimación y recepción convergen en un centro del difractómetro , que está fijo con respecto a dicha unidad analítica ;
- medios para desplazar dicha unidad analítica en el espacio;
- medios (20, 20') para rotar dicha fuente y detector alrededor de dicho centro del difractómetro, de manera que dicho eje de colimación y dicho eje de recepción se mantienen en un plano ecuatorial, fijos con respecto a dicha primera unidad analítica ; común
- una estructura de…
METODO DE PREPARACION DE MUESTRAS PULVERULENTAS PARA SU ANALISIS EN UN DIFRACTOMETRO DE RAYOS X DE MONOCRISTAL.
(08/09/2010) Método de preparación de muestras pulverulentas para su análisis en un difractómetro de rayos X de monocristal. El método consiste en moler una muestra del sólido a analizar para alcanzar un tamaño de partícula comprendido entre 1 y 50 micras, formar una pasta homogénea consistente mediante adición y mezclado del sólido molido con un líquido de mayor densidad que el agua, introducir la pasta en una cámara y comprimirla hasta eliminar parcialmente el líquido mezclado y obtener así una barrita de muestra consistente. Finalmente se extrae dicha barrita de la cámara y se pega con resina en la punta de un capilar de vidrio de tamaño adecuado para su análisis en el difractómetro de rayos X de monocristal. Generalmente la cámara utilizada es tubular abierta en sus bases, y la compresión de la…
UTILIZACION DE ESTRUCTURAS CUASICRISTALINAS EN APLICACIONES OPTICAS DE RAYOS - X.
(16/04/2003). Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSIDAD AUTONOMA DE MADRID. Inventor/es: CAPITAN ARANDA,M. JOSE, ALVAREZ ALONSO,JESUS.
Utilización de estructuras cuasicristalinas en aplicaciones ópticas de rayos-X, que consiste en la presentación de un concepto dentro de la instrumentación óptica de rayos-X, mediante la introducción de un material de estructura cuasicristalina en el camino óptico de los rayos-X, que produce una eliminación de armónicos, y permitiendo una eliminación de la contaminación por armónicos de alta energía muy superior a la conseguida mediante la utilización de cristales periódicos.
METODO PARA LA CUANTIFICACION DE CEMENTO EN MORTEROS Y HORMIGONES BASADO EN LA DIFRACCION DE RAYOS X.
(01/04/2003). Solicitante/s: UNIVERSIDAD DE ALICANTE. Inventor/es: LOPEZ SOLER,ANGEL, CHINCHON YEPES,SERVANDO.
Método para la cuantificación de cemento en morteros y hormigones basado en la difracción de Rayos X. El método comprende: a) analizar una muestra de mortero u hormigón cuyo contenido en cemento se desea conocer mediante difracción de Rayos X (DRX), y b) calcular el contenido en cemento en dicha muestra de mortero u hormigón a partir del área del background en una o varias zonas determinadas del espectro de DRX exentas de reflexiones. De aplicación en la cuantificación de cemento en morteros y hormigones.
PROCESO DE MEDICION NO DESTRUCTIVA EN LINEA DE UNA CARACTERISTICA DE UN PRODUCTO FABRICADO EN CONTINUO, Y DISPOSITIVO ASOCIADO.
(16/04/1998). Solicitante/s: SOLLAC. Inventor/es: FRIEDRICH, MARC, MAREZ, JEAN-JACQUES, LEBRUN, JEAN-LOU, MICHAUD, HERVE PIERRE.
PROCESO DE MEDICION DE UNA CARACTERISTICA (X) DIFICILMENTE MEDIBLE DE UN PRODUCTO FABRICADO EN CONTINUO, CARACTERIZADO EN QUE: MENTE MEDIBLE Y CUYAS VARIACIONES ESTAN CORRELACIONADAS CON LAS DE DICHA PRIMERA CARACTERISTICA; RE EL PRODUCTO, EN UNA ZONA DETERMINADA DE LA LINEA DE FABRICACION, SE MODIFICA DICHA PRIMERA CARACTERISTICA DE MANERA A LLEVARLA A UN ESTADO DE REFERENCIA PREDETERMINADO CONOCIDO (X SUB 0); NDA CARACTERISTICA, Y; ICION PARA DETERMINAR UNA VARIACION DE DICHA PRIMERA CARACTERISTICA RESPECTO DE DICHO ESTADO DE REFERENCIA (X). APLICACION A LA MEDICION DE LA PLANEIDAD SOBRE UNA TIRA QUE SE DESLIZA EN CONTINUO EN UNA INSTALACION DE LAMINACION A CABADORA.
UN PROCEDIMIENTO DE INSPECCION NO DESTRUCTIVO PARA CARACTERIZAR E IDENTIFICAR LA TEXTURA CRISTALOGRAFICA DE UN TUBO METALICO.
(01/06/1987). Solicitante/s: WESTINGHOUSE ELECTRIC CORPORATION.
INSPECCION NO DESTRUCTIVA DE LA CRISTALOGRAFIA DE UN TUBO METALICO.LA INSPECCION SE REALIZA MEDIANTE DIFRACCION DE RAYOS X, CONSISTIENDO EN: DIRIGIR SOBRE EL TUBO METALICO RAYOS X, FORMANDO UN ANGULO CON LA SUPERFICIE PARA QUE LOS RAYOS SEAN DIFRACTADOS DESDE AHI, RECOGER EL PRODUCTO DE LA DIFRACCION DENTRO DE UNA GAMA PREDETERMINADA, CARACTERIZANDOSE POR REALIZAR UN MOVIMIENTO RELATIVO ENTRE LA FUENTE DE RAYOS X Y EL TUBO, TANTO EN DIRECCION ROTACIONAL COMO AXIAL Y MEDICION DE LAS INTENSIDADES DE LOS PICOS DE BRAGG DE LOS RAYOS DIFRACTADOS DESDE DISTINTAS POSICIONES EN EL TUBO.
UN DIFRACTOMETRO PARA POLVO,DE RAYOS X.
(16/12/1980). Solicitante/s: N.V. PHILIPS' GLOEILAMPENFABRIEKEN.
DIFRACTOMETRO DE RAYOS X PARA DETERMINACION DE LA TEXTURA Y ESTRUCTURA DE MUESTRAS DE POLVO. SOBRE UN ESPECIMEN DE POLVO INCIDEN LOS RAYOS X PROCEDENTES DE UNA FUENTE MONOCROMATICA ; LOS RAYOS X DIFRACTADOS POR EL ESPECIMEN , LLEGAN A UN DETECTOR , A TRAVES DE UNA HENDIDURA DE RECEPCION QUE LIMITA LA DIVERGENCIA DEL HAZ DIFRACTADO. TANTO EL DETECTOR COMO EL ESPECIMEN GIRAN ALREDEDOR DE UN EJE GEOMETRICO COMUN , HACIENDOLO EL DETECTOR A DOBLE VELOCIDAD QUE EL ESPECIMEN ; LA ROTACION ES PRODUCIDA POR UN MOTOR DE MOVIMIENTO POR PASOS MEDIANTE EL MECANISMO APROPIADO. EL DETECTOR VA SOBRE UNA CORREDERA , PUDIENDO ACERCARSE AL ESPECIMEN EN PASOS CON UNA RELACION K QUE DEPENDE DE LA DISTANCIA QUE HAY DEL DETECTOR AL ESPECIMEN , Y DE ESTE A LA FUENTE MONOCROMATICA.
