CIP-2021 : G01N 23/227 : Medición del efecto fotoeléctrico, p. ej. microscopía de emisión de fotoelectrones [PEEM].
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G FISICA.
G01 METROLOGIA; ENSAYOS.
G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q).
G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos G01N 3/00 - G01N 17/00, G01N 21/00 o G01N 22/00.
G01N 23/227 · · Medición del efecto fotoeléctrico, p. ej. microscopía de emisión de fotoelectrones [PEEM].
CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.
Disposición de análisis para espectrómetro de partículas.
(19/10/2016) Un método para determinar al menos un parámetro relacionado con partículas cargadas emitidas desde una muestra emisora de partículas , que comprende las etapas de:
formar un haz de partículas de dichas partículas cargadas y transportar las partículas entre dicha muestra emisora de partículas y una entrada de una región de medición por medio de un sistema de lentes que tiene un eje óptico sustancialmente recto ;
desviar el haz de partículas en al menos una primera dirección de coordenadas (x, y) perpendicular al eje óptico del sistema de lentes antes de la entrada del haz de partículas en la región de medición,
detectar las posiciones de dichas partículas cargadas en dicha región de medición, siendo las posiciones…
ANALISIS DE PARTICULAS CARGADAS.
(16/07/2003). Solicitante/s: COUNCIL FOR THE CENTRAL LABORATORY OF THE RESEARCH COUNCILS. Inventor/es: DERBYSHIRE, GARETH, E., BATEMAN, EDMOND, J.
Un analizador de partículas cargadas que comprende una fuente de partículas cargadas y un detector de partículas cargadas separado de la fuente e inmerso con la fuente en un gas ionizable, comprendiendo el detector al menos un par de electrodos , caracterizado porque el par de electrodos están separados por una distancia que es substancialmente menor que la separación entre la fuente y el detector , los electrodos del par están mantenidos a diferentes potenciales, y la fuente es mantenida a un potencial diferente de los potenciales de los electrodos , estando los potenciales seleccionados de manera que las partículas cargadas emitidas por la fuente son atraídas de la fuente hacia cada uno del par de electrodos , y de manera que las partículas cargadas adyacentes al detector son aceleradas hasta unas energías suficientes para ionizar el gas.
DISPOSITIVO DE ANALISIS POR ESPECTROMETRIA FOTOELECTRONICA DE UNA MUESTRA DE MATERIAL AISLANTE.
(01/12/1977). Solicitante/s: COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE.
Resumen no disponible.
PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO DE ANALISIS ELEMENTAL Y QUIMICO DE UNA MUESTRA.
(16/11/1977). Solicitante/s: COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE.
Resumen no disponible.