Aparato y método para diagnosticar mal funcionamiento de dispositivo de relé de alta tensión.
Aparato para diagnosticar el mal funcionamiento de un relé de alta tensión que incluye un primer relé (31) y un segundo relé (32) configurados para conectar o desconectar una batería de un circuito que utiliza la batería como fuente de energía,
comprendiendo el aparato:
un controlador (110) configurado para determinar si el primer relé (31) o el segundo relé (32), o ambos, tiene un mal funcionamiento basándose en una primera tensión (V1) y unas segundas tensiones (V2a, V2b) medidas encendiendo o apagando el primer relé (31) o el segundo relé (32),
una unidad de medición de tensión (120) configurada para obtener las segundas tensiones (V2a, V2b) que se miden respectivamente entre los terminales de salida de tensión de la batería y entre los terminales de entrada de tensión del circuito, en el que
la unidad de medición de tensión (120) se configura para obtener la primera tensión (V1) de o bien: (a) una tensión medida entre un terminal de salida de alta tensión (11) de la batería y un terminal de entrada de baja tensión (22) del circuito, o bien (b) una tensión medida entre un terminal de salida de baja tensión (12) de la batería y un terminal de tensión de entrada alta (21) del circuito.
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E14188260.
Solicitante: LSIS Co., Ltd.
Nacionalidad solicitante: República de Corea.
Dirección: 127 LS-ro, Dongan-gu Anyang-si, Gyeonggi-do 431-848 REPUBLICA DE COREA.
Inventor/es: PARK,Sung-Sik.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01R31/333 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de la capacidad de corte de los disyuntores de alta tensión.
PDF original: ES-2759335_T3.pdf
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