PROCEDIMIENTO Y SISTEMA PARA SEÑALIZACIÓN DE LA POSICIÓN DE DEFECTOS EN VIDRIOS.
Procedimiento y sistema para señalización de la posición de defectos en vidrios.
Procedimiento que permite localizar sobre una superficie los defectos de fabricación encontrados mediante medios de visión artificial una vez capturada la imagen de una superficie y analizada por un ordenador de acuerdo a unos criterios previamente establecidos. El procedimiento comprende las etapas de captura de la imagen de la superficie, análisis de dicha imagen detectando defectos, transmisión de la información necesaria de los defectos detectados a unas gafas de realidad aumentada, superposición en la propia gafa de la imagen real que se vería sin la gafa por un lado y el marcaje de la posición de los defectos por otro para que el operario localice los defectos de forma inmediata y los pueda evaluar.
Tipo: Patente de Invención. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: P201730776.
Solicitante: GEHITEK VISIÓN ARTIFICIAL S.L.
Nacionalidad solicitante: España.
Provincia: GUIPÚZCOA.
Inventor/es: LARREA ARANGUREN,Lander, MARTÍNEZ PINEDO,Juan Carlos, MOR ABAD,Francisco, IMAZ BASTARRICA,Gaiska.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N21/896 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › Defectos ópticos en o sobre materiales transparentes, p. ej. distorsiones, grietas superficiales.
PDF original: ES-2693175_A1.pdf
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