Microscopio quirúrgico para observar una fluorescencia infrarroja y método correspondiente.

Un microscopio quirúrgico para observar una fluorescencia infrarroja,

comprendiendo el microscopio:

un sistema de cámaras (25) que tiene una lumbrera de entrada (31), un divisor de haz dicroico (33) y unos chips de cámara primero, segundo y tercero (35, 36, 37), en donde el divisor de haz dicroico (33) está configurado para dirigir luz roja (39) recibida en la lumbrera de entrada (31) principalmente hacia el primer chip de cámara (35) a través de una primera lumbrera de salida (30) del divisor de haz (33), para dirigir luz verde (40) recibida en la lumbrera de entrada (31) principalmente hacia el segundo chip de cámara (36) a través de una segunda lumbrera de salida (32) del divisor de haz y para dirigir luz azul (41) recibida en la lumbrera de entrada (31) principalmente hacia el tercer chip de cámara (37) a través de una tercera lumbrera de salida (34) del divisor de haz dicroico (33);

una óptica de microscopia configurada para formar ópticamente la imagen de un área de objeto sobre los chips de cámara (35, 36, 37) del sistema de cámaras (25); y

un sistema de visualización configurado para visualizar imágenes basadas en intensidades de luz detectadas por los chips de cámara (35, 36, 37) del sistema de cámaras (25);

caracterizado por que

el divisor de haz dicroico (33) está configurado, además, para dirigir luz infrarroja (42) recibida en la lumbrera de entrada (31) principalmente hacia sólo uno de los chips de cámara primero, segundo y tercero (35, 36, 37).

Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E09015577.

Solicitante: CARL ZEISS MEDITEC AG.

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: GÖSCHWITZER STRASSE 51-52 07745 JENA ALEMANIA.

Inventor/es: STEFFEN,JOACHIM, JESS,HELGE, QUENDT,DIETER, NAHM,WERNER.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G02B21/00 SECCION G — FISICA.G02 OPTICA.G02B ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene prioridad; elementos ópticos especialmente adaptados para ser utilizados en los dispositivos o sistemas de iluminación F21V 1/00 - F21V 13/00; instrumentos de medida, ver la subclase correspondiente de G01, p. ej. telémetros ópticos G01C; ensayos de los elementos, sistemas o aparatos ópticos G01M 11/00; gafas G02C; aparatos o disposiciones para tomar fotografías, para proyectarlas o para verlas G03B; lentes acústicas G10K 11/30; "óptica" electrónica e iónica H01J; "óptica" de rayos X H01J, H05G 1/00; elementos ópticos combinados estructuralmente con tubos de descarga eléctrica H01J 5/16, H01J 29/89, H01J 37/22; "óptica" de microondas H01Q; combinación de elementos ópticos con receptores de televisión H04N 5/72; sistemas o disposiciones ópticas en los sistemas de televisión en colores H04N 9/00; disposiciones para la calefacción especialmente adaptadas a superficies transparentes o reflectoras H05B 3/84). › Microscopios (oculares G02B 25/00; sistemas polarizantes G02B 27/28; microscopios de medida G01B 9/04; micrótomos G01N 1/06;   técnicas o aparatos de sonda de barrido G01Q).
  • G02B21/16 G02B […] › G02B 21/00 Microscopios (oculares G02B 25/00; sistemas polarizantes G02B 27/28; microscopios de medida G01B 9/04; micrótomos G01N 1/06;   técnicas o aparatos de sonda de barrido G01Q). › adaptados para iluminación ultravioleta.
  • G02B21/22 G02B 21/00 […] › Distribuciones estereoscópicas.
  • G02B27/14 G02B […] › G02B 27/00 Otros sistemas ópticos; Otros aparatos ópticos (medios para producir efectos ópticos especiales en las vitrinas o en los escaparates A47F, p. ej. A47F 11/06; juguetes ópticos A63H 33/22; dibujos o pinturas caracterizados por efectos de luz especiales B44F 1/00). › que funcionan únicamente por reflexión.
  • H01L27/146 SECCION H — ELECTRICIDAD.H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS.H01L DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES; DISPOSITIVOS ELECTRICOS DE ESTADO SOLIDO NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR (utilización de dispositivos semiconductores para medida G01; resistencias en general H01C; imanes, inductancias, transformadores H01F; condensadores en general H01G; dispositivos electrolíticos H01G 9/00; pilas, acumuladores H01M; guías de ondas, resonadores o líneas del tipo guía de ondas H01P; conectadores de líneas, colectores de corriente H01R; dispositivos de emisión estimulada H01S; resonadores electromecánicos H03H; altavoces, micrófonos, cabezas de lectura para gramófonos o transductores acústicos electromecánicos análogos H04R; fuentes de luz eléctrica en general H05B; circuitos impresos, circuitos híbridos, envolturas o detalles de construcción de aparatos eléctricos, fabricación de conjuntos de componentes eléctricos H05K; empleo de dispositivos semiconductores en circuitos que tienen una aplicación particular, ver la subclase relativa a la aplicación). › H01L 27/00 Dispositivos que consisten en una pluralidad de componentes semiconductores o de otros componentes de estado sólido formados en o sobre un sustrato común (detalles H01L 23/00, H01L 29/00 - H01L 51/00; conjuntos que consisten en una pluralidad de dispositivos de estado sólido individuales H01L 25/00). › Estructuras de captadores de imágenes.

PDF original: ES-2563284_T3.pdf

 

Microscopio quirúrgico para observar una fluorescencia infrarroja y método correspondiente.

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