Un método para determinar el perfil de densidad.
Un método para determinar el perfil de densidad de un material con forma de placa (M),
cuya densidad varía discreta o continuamente a través del espesor de la placa, mientras que la densidad en una profundidad específica de dicha placa es considerada preferentemente constante, como por ejemplo placas a base de madera, por medio de rayos X o de rayos gamma procedentes de una fuente (K) que se encuentra dispuesta en un lado de dicha placa (M), por lo que al menos dos detectores (T, F) se disponen en el lado opuesto de la placa sin fn que se hace avanzar en una dirección longitudinal durante una medición sin fn, estando colocado un primer detector (T) en la dirección de radiación de la fuente (K) de manera que mida la radiación transmitida a través de la placa (M), y estando colocado al menos un detector (F) fuera de la dirección de radiación de la citada fuente (K) para medir así la radiación dispersada desde los volúmenes parciales a lo largo de la dirección de radiación de la fuente (K), que se caracteriza por compensar la radiación dispersada múltiple en cada volumen parcial individual restando la radiación dispersada múltiple de la radiación dispersada medida, siendo calculada dicha radiación dispersada múltiple por medio dela fórmula (1) **fórmula** en donde I0 representa la intensidad incidente, és el coeficiente de absorción, p es la densidad media de la placa (M), t es el espesor y alfa y beta dependen de la disposición de medida.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: WESSER & DUEHOLM.
Nacionalidad solicitante: Dinamarca.
Dirección: DRONNINGENS TVAERGADE 6,1302 COPENHAGEN K.
Inventor/es: TELLER, STEEN.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 14 de Febrero de 1997.
Fecha Concesión Europea: 13 de Junio de 2001.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N23/16 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos G01N 3/00 - G01N 17/00, G01N 21/00 o G01N 22/00. › siendo el material una hoja móvil o una película.
- G01N9/24 G01N […] › G01N 9/00 Investigación del peso específico o de la densidad de los materiales; Análisis de los materiales determinando el peso específico o la densidad. › observando la propagación de la onda o de la radiación de partículas a través del material.
Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Suecia, Portugal, Irlanda, Finlandia, Oficina Europea de Patentes, Armenia, Azerbayán, Bielorusia, Kenya, Kirguistán, Kazajstán, Lesotho, República del Moldova, Malawi, Federación de Rusia, Sudán, Tayikistán, Turkmenistán, Uganda, Burkina Faso, Benin, República Centroafricana, Congo, Costa de Marfil, Camerún, Gabón, Guinea, Malí, Mauritania, Niger, Senegal, Chad, Togo, Organización Regional Africana de la Propiedad Industrial, Swazilandia, Organización Africana de la Propiedad Intelectual, Organización Eurasiática de Patentes.
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