DISPOSICION DE MEDIDA DEL PERFIL TRANSVERSAL DE ESPESOR DE UN PRODUCTO.
CONJUNTO DE MEDIDA DEL PERFIL TRANSVERSAL DE ESPESOR DE UN PRODUCTO.
CONSTA DE: UNA FUENTE DE RAYOS X QUE SE SITUA EN UN LADO DE LA BANDA (13), SE FIJA EN UNA ZONA Y PRODUCE UN HAZ (11) DE RAYOS X QUE SE CONFORMA MEDIANTE UN COLIMADOR (12) Y QUE TIENE FORMA DE ABANICO; UN DISPOSITIVO DE DETECCION (20) FORMADO POR UNA HILERA DE DETECTORES (21) ELEMENTALES YUXTAPUESTOS IDENTICOS, REAGRUPADOS EN MODULOS (22) Y ENSAMBLADOS EN UNA CAJA (23) PROVISTA DE UN COLIMADOR (21); Y UN CIRCUITO IMPRESO DE TRATAMIENTO DE SEÑALES. SE UTILIZA EN EL CONTROL DE CALIDAD DE PIEZAS METALICAS.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: INSTITUT DE RECHERCHES DE LA SIDERURGIE FRANCAISE.
Nacionalidad solicitante: Francia.
Dirección: VOIE ROMAINE, B.P. 64, 57210 MAIZIERES-LES-METZ.
Fecha de Solicitud: 6 de Marzo de 1986.
Fecha de Publicación: .
Fecha de Concesión: 1 de Abril de 1987.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01B15/04 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 15/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de radiación de ondas o partículas (G01B 9/00, G01B 11/00 tienen prioridad). › para la medida de contornos o curvaturas.
Patentes similares o relacionadas:
SISTEMA Y PROCEDIMIENTO PARA LA DETERMINACIÓN DE ÓRBITAS DE SATÉLITES, del 30 de Noviembre de 2018, de UNIVERSITAT POLITECNICA DE CATALUNYA: Sistema y procedimiento para la determinación de órbitas de satélites que permite que a partir de, por un lado, la recepción de la señal transmitida por un […]
Microscopio de rayos x para caracterizar forma y dimensiones de agujero en agujas quirúrgicas, del 30 de Julio de 2013, de ETHICON, INC.: Un método para caracterizar una perforación perforada con láser en una aguja quirúrgica , que comprende: dirigir un haz de rayo x […]
PROCESO Y DISPOSITIVO DE CALIBRADO PARA UN CONJUNTO DE MEDICION DEL PERFIL TRANSVERSAL DE ESPESOR DE UN PRODUCTO PLANO, del 1 de Marzo de 1998, de SOLLAC S.A.: EL DISPOSITIVO ESTA DESTINADO AL CALIBRADO DE UN CONJUNTO DE MEDICION DEL PERFIL DE ESPESOR DE PRODUCTOS PLANOS, POR EJEMPLO DE CHAPAS, QUE COMPRENDE UNA FUENTE DE […]
PROCESO Y DISPOSITIVO DE MEDICION DE PERFIL DE ESPESOR DE UNA BANDA METALICA, PARTICULARMENTE DE ACERO, del 16 de Diciembre de 1994, de SOLLAC: ESTE DISPOSITIVO COMPRENDE UN TUBO EMISOR DE RADIACION X Y UN DETECTOR LINEAL DISPUESTOS POR AMBAS PARTES DEL PLANO DE LA BANDA , MEDIOS […]
PERFECCIONAMIENTOS EN VEHICULOS DE MEDICION MOVILES SOBRE VIAS, del 1 de Julio de 1982, de FRANZ PLASSER BAHNBAUMASCHINEN-INDUSTRIEGESELLSCHA: VEHICULO DE MEDICION MOVIL SOBRE VIAS. CONSTA DE UN DISPOSITIVO PARA LA MEDICION ESENCIALMENTE CONTINUA Y SIN CONTACTO DEL TRANSCURSO DEL PERFIL LONGITUDINAL DE HUECOS […]
PROCEDIMIENTO PARA MEDIR LAS DIMENSIONES DE UNA CAVIDAD SUBTERRANEA, del 1 de Septiembre de 1980, de SOLVAY & CIE: Procedimiento para medir las dimensiones de una cavidad subterráneas, según el cual se introduce en la cavidad una sonda de medición con cabeza móvil […]