APARATO DETECTOR DE FUNCIONES PARA MICROELECTRONICA.
1. Aparato detector de funciones para microelectrónica, caracterizado esencialmente por comprender un circuito de alta impedancia preparado para recibir tensiones de valores medios y bajos apara su ampliación automática al nivel adecuado y su conversión en señales audibles mediante un transductor electroacústico,
asociando un circuito temporizador para diferenciar las frecuencias bajas y altas en orden a la activación de un conversor digital/analógico.
2. Aparato detector de funciones para microelectrónica, según la reivindicación anterior, caracterizado por comprender un conversor analógico/digital para la codificación decimal en código binario de los diferentes valores de tensión proporcionados, y un decodificador para la asignación, a cada código diferente a su entrada, de posiciones de salida diferentes en orden a la activación de un grupo e elementos emisores de luz, correspondientes a una serie de grafismos réplica de la función a analizar.
3. Aparato detector de funciones para microelectrónica, según las reivindicaciones anteriores, caracterizado por comprender un amplificador de altísima ganancia con circuitos tampón separadores y conversores de nivel, capaz de reaccionar con la aplicación de un cristal de cuarzo y degenerar frecuencias en función de este último, ecualizadas mediante un temporizador y aplicadas a un conversor digital/analógico asociado a un circuito tampón generador de intensidad, que lleva acoplado un indicador óptico.
4. Aparato detector de funciones para microelectrónica, según las reivindicaciones anteriores, caracterizado por comprender un circuito generador de tensión en serie funcionando en modo interruptor, aplicado a un amplificador de intensidad que lleva asociado un indicador óptico.
5. Aparato detector de funciones para microelectrónica, según las reivindicaciones anteriores, caracterizado por estar materializado en una caja de montajes cuyo interior aloja la totalidad de componentes integrantes de los circuitos y cuya cara principal externa comporta los indicadores luminosos asociados a símbolos de las funciones correspondientes, orificios de salida para las señales sonoras generadoras por el transdutor acústico y bornes dobles asociados a pilotos indicadores, correspondientes a conexión a masa, ensayos de prueba, ensayos de cristales de cuarzo y ensayos de continuidad.
6. Aparado detector de funciones para microelectrónica.-
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: CALAF BINEFA,DOMINGO.
Nacionalidad solicitante: España.
Provincia: LLEIDA.
Fecha de Solicitud: 6 de Agosto de 1981.
Fecha de Publicación: .
Fecha de Concesión: 21 de Junio de 1982.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01R31