CABEZA MICROMETRICA PARA INSTRUMENTOS DE MEDICION DE INTERIORES.
1. Cabeza micrométrica para instrumentos de medición de interiores,
en la caja de la cual figura por lo menos una clavija medidora de base inclinadora, montada radialmente en una guía de deslizamiento y movida por el desplazamiento axial de un cono de medición sobre la superficie lateral inclinada del cual la referida clavija se halla mantenida en contacto por un órgano de retroceso y en la que el desplazamiento axial del cono de medición, cuya base va guiada en un alojamiento cilíndrico axial de la caja, se obtiene por el empuje de un vástago con tornillo micrométrico de arrastre axial y de medición, acoplado con un elemento roscado solidario de la caja, teniendo el referido cono y dicho vástago sus ejes de giro coaxiales y hallandose destinado el mencionado vástago a unirse el órgano de lectura del instrumento, cuya cabeza se caracteriza por el hecho de que el cono medidor y el vástago con tornillo micrométrico de medición incluyen un enlace por lo menor angular, de forma que el recorrido de contacto de la base inclinada de la clavija sobre el cono de mediación se extiende por una rampa en espiral cónica de desarrollo constante y de gran longitud, que resulta de los movimientos combinados de avance y giro del cono de medición, estando la sección de dicha rampa en espiral constituida, por lo menos, por la línea de contacto de la base inclinada de la clavija con el cono.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: TESA S.A..
Nacionalidad solicitante: Suiza.
Fecha de Solicitud: 22 de Junio de 1977.
Fecha de Publicación: .
Fecha de Concesión: 16 de Diciembre de 1980.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01B3/18 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 3/00 Instrumentos según se especifica en los subgrupos y caracterizados por la utilización de medios de medida mecánicos (disposiciones para la medida de parámetros particulares G01B 5/00; dispositivos de uso general especialmente adaptados o configurados para almacenar, suministrar y almacenar de nuevo, repetitivamente, longitudes de material B65H 75/34). › Micrómetros.
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