SISTEMA Y METODO PARA REALIZAR MEDICIONES OPTICAS SELECCIONADAS.

SISTEMA (11) Y PROCEDIMIENTO PARA REALIZAR MEDICIONES OPTICAS SELECCIONADAS EN UNA MUESTRA QUE UTILIZA UN REFLECTROMETRO DE AMBITO DE COHERENCIA OPTICA QUE INCLUYE UNA REJILLA DE DIFRACCION

(G). UNA FUENTE DE LUZ DE BANDA AMPLIA (13) PRODUCE LUZ QUE TIENE UNA LONGITUD DE COHERENCIA CORTA. UN DIVISOR DE HAZ (BS1) DIVIDE LA LUZ EN UN HAZ DE SEÑAL Y UN HAZ DE REFERENCIA. UN ESPEJO DE REFERENCIA (M5) ESTA DISPUESTO PARA RECIBIR EL HAZ DE REFERENCIA. UNA LENTE (O1) PONE EL HAZ DE LA SEÑAL EN UN FOCO CON LA MUESTRA. UNA REJILLA DIFRACTORA (G) RECIBE UNA REFLEXION DE LA MUESTRA Y DEL ESPEJO DE REFERENCIA, Y LAS REFLEXIONES INCIDEN SOBRE LA REJILLA DE DIFRACCION DE DONDE ESTAS REFLEXIONES RECIBIDAS SE PROPAGAN A LO LARGO DE UNA LINEA NORMAL A LA REJILLA DIFRACTORA. UNA LENTE (L1) CAPTA LAS ORDENES DIFRACTADAS DE LA REJILLA DIFRACTORA Y LLEVA LAS ORDENES DIFRACTADAS PARA ESTAR EN FOCO CON UN DETECTOR (23), DETECTOR QUE PRODUCE UNA SEÑAL DE SALIDA DE LAS PRIMERAS ORDENES DIFRACTADAS POSITIVA Y NEGATIVA RECIBIDAS. UN ORDENADOR (25) PROCESA LA SALIDA DEL DETECTOR (23).

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: THE RESEARCH FOUNDATION OF CITY COLLEGE OF NEW YORK.

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: 79 FIFTH AVENUE,NEW YORK, 10003.

Inventor/es: ZEYLIKOVICH, IOSIF, ALFANO, ROBERT, R.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 4 de Diciembre de 1997.

Fecha Concesión Europea: 1 de Junio de 2005.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > Investigación o análisis de los materiales por... > G01N21/47 (Dispersión, es decir, reflexión difusa (G01N 21/25, G01N 21/41 tienen prioridad))
  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES... > Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización... > G01B11/30 (para la medida de la rugosidad o la irregularidad de superficies)
  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES... > Instrumentos según se especifica en los subgrupos... > G01B9/02 (Interferómetros)

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Mónaco, Irlanda, Finlandia, Oficina Europea de Patentes, Armenia, Azerbayán, Bielorusia, Ghana, Kenya, Kirguistán, Kazajstán, Lesotho, República del Moldova, Malawi, Federación de Rusia, Sudán, Tayikistán, Turkmenistán, Uganda, Zimbabwe, Burkina Faso, Benin, República Centroafricana, Congo, Costa de Marfil, Camerún, Gabón, Guinea, Malí, Mauritania, Niger, Senegal, Chad, Togo, Organización Regional Africana de la Propiedad Industrial, Swazilandia, Organización Africana de la Propiedad Intelectual, Organización Eurasiática de Patentes.

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