DISPOSITIVO DE INSPECCION DE CALIDAD INTERNA EN LINEA DE MULTIPLES LAMPARAS LATERALES.

Dispositivo de inspección de calidad interna en línea del tipo de lámpara múltiple, que comprende: una cinta

(1) de transporte dispuesta para transportar objetos (F) de inspección uno por uno; medios (2) de proyección de luz para proyectar haces de luz sobre el objeto (F) de inspección que está transportándose, incluyendo dichos medios (2) de proyección de luz una pluralidad de lámparas (21) de proyección de luz para proyectar de manera concentrada haces de luz de manera oblicua sobre el objeto (F) de inspección, desde diferentes posiciones y con ángulos diferentes que cubren un intervalo desde una parte delantera oblicuamente a una parte posterior oblicuamente en un lado del objeto (F) cuando el objeto (F) está en una posición de inspección sobre la trayectoria de transporte; medios (3) de recepción de luz para recibir luz transmitida a través del interior del objeto (F) de inspección con los haces de luz proyectada sobre los mismos; y medios de inspección para inspeccionar la calidad interna del objeto (F) de inspección realizando análisis espectral sobre la luz transmitida a través del interior del objeto (F) de inspección, en el que, dichos medios (2) de proyección de luz y dichos medios (3) de recepción de luz están opuestos entre sí a lo largo de la trayectoria de transporte de dicha cinta (1) de transporte; y dichos medios (3) de recepción de luz están dotados de un obturador (33) dentro de una caja oscura que contiene el paso de luz y tiene la parte circundante de la misma sellada herméticamente, estando dispuesto el obturador (33) para abrir y cerrar el paso de luz entre una lente (31) condensadora y una cara de entrada de luz de una fibra (32) óptica que está dispuesta para dirigir la luz a dichos medios de inspección.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: KABUSHIKI KAISHA KAJITSU HIHAKAI HINSHITSU KENKYUJO.

Nacionalidad solicitante: Japón.

Dirección: 317-67, OOKUBO, YOKOYAMA,KOSAI-SHI, SHIZUOKA 431-040.

Inventor/es: NAGAYOSHI,ATSUHIRO.

Fecha de Publicación: .

Fecha Concesión Europea: 15 de Agosto de 2007.

Clasificación PCT:

  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > Investigación o análisis de los materiales por... > G01N21/35 (utilizando la luz infrarroja (G01N 21/39 tiene prioridad))
  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > Investigación o análisis de los materiales por... > G01N21/25 (Color; Propiedades espectrales, es decir, comparación del efecto del material sobre la luz para varias longitudes de ondas o varias bandas de longitudes de ondas diferentes)
  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > Investigación o análisis de los materiales por... > G01N21/59 (Transmisibilidad (G01N 21/25 tiene prioridad))
  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > Investigación o análisis de los materiales por... > G01N21/27 (utilizando la detección fotoeléctrica (G01N 21/31 tiene prioridad))
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