SENSOR ANALÍTICO Y MÉTODO DE OBTENCIÓN DEL MISMO.
Se describe un sensor analítico así como un método de producción de dicho sensor.
Sensor que se basa en la incorporación de una capa de un material fotosensible a un substrato y la deposición sobre dicha capa de un compuesto reactivo de ensayo, así como la incorporación de marcadores de manera opcional para obtener resultados de ensayos biológicos con altas prestaciones. El método operativo de este sensor se basa en la irradiación selectiva de la capa de material fotosensible mediante una fuente de radiación láser en un determinado intervalo de potencia, la incidencia del láser provoca cambios en dicho material fotosensible y a su vez en posibles compuestos que se encuentren sobre dicha capa, asimismo se pueden incorporar compuestos antena que al ser activados por el haz láser desarrollan un señal analítica proporcional a su concentración.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/ES2015/070059.
Solicitante: UNIVERSITAT POLITECNICA DE VALENCIA.
Nacionalidad solicitante: España.
Inventor/es: MAQUIEIRA CATALA, ANGEL, PUCHADES PLA, ROSA, MORAIS EZQUERRO,Sergi Beñat, AVELLÀ OLIVER,José Miguel, CARRASCOSA RUBIO,Javier.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N35/00 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › Análisis automático no limitado a procedimientos o a materiales tratados en uno sólo de los grupos G01N 1/00 - G01N 33/00; Manipulación de materiales a este efecto.
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