Sistema de captación de imagen y sistema de inspección de calidad con sistema de captación de imagen.

1. Un sistema de captación de imagen que comprende una cámara en línea (12),

configurada para captar una zona de visión lineal (20), un iluminador de campo oscuro (14) y un iluminador de campo claro (16) que iluminan la zona de visión (20), en el cual los componentes se han dispuesto de tal manera que, con respecto a un plano de referencia (M) que es perpendicular a la superficie de los elementos laminares (4) que pasan a través de la zona de visión (20) de donde se están captando imágenes, el plano óptico de la cámara en línea (12) se ha dispuesto formando un ángulo (α) de aproximadamente entre 10º y 30º, preferiblemente 20º, con respecto a un plano de referencia (M), el plano óptico del iluminador de campo oscuro (14) se ha dispuesto formando un ángulo (β) de aproximadamente entre 30º y 60º, preferiblemente 45º, con respecto al plano de referencia (M), y el plano óptico del iluminador de campo claro (16) se ha dispuesto formando un ángulo (γ) de aproximadamente entre 20º y 40º, preferiblemente 30º, con respecto al plano de referencia (M), teniendo el iluminador de campo claro (16) un ángulo de apertura comprendido entre 50º y 110º, preferiblemente entre 80º y 90º.

2. El sistema de captación de imagen de acuerdo con la reivindicación 1, en el cual la cámara (12) y el iluminado de campo oscuro (14) se han dispuesto a un mismo lado de un plano de referencia (M).

3. El sistema de captación de imagen de acuerdo con cualquiera de las reivindicaciones precedentes, en el cual el iluminador de campo claro (16) se ha dispuesto, con respecto a un plano de referencia (M), a un lado que es opuesto al lado en que se ha dispuesto la cámara (12).

4. El sistema de captación de imagen de acuerdo con una cualquiera de las reivindicaciones precedentes, en el cual el iluminador de campo oscuro (14) genera luz con una intensidad, en un campo de visión de la cámara (12), que no cambia significativamente en una altura del orden de entre 10 mm y 12 mm.

5. El sistema de captación de imagen de acuerdo con cualquiera de las reivindicaciones precedentes, en el cual la distancia entre el iluminador de campo oscuro (14) y la zona de visión (20) está comprendida entre 60 mm y 150 mm.

6. El sistema de captación de imagen de acuerdo con cualquiera de las reivindicaciones precedentes, en el cual el ángulo de apertura del iluminador de campo oscuro (14) está comprendido entre 10º y 25º.

7. El sistema de captación de imagen de acuerdo con cualquiera de las reivindicaciones precedentes, en el cual el iluminador de campo claro (16) comprende una pluralidad de hileras adyacentes de fuentes de luz (17).

8. El sistema de captación de imagen de acuerdo con la reivindicación 7, en el cual las fuentes de luz (17) pueden ser ajustadas.

9. El sistema de captación de imagen de acuerdo con la reivindicación 7 o la reivindicación 8, en el cual el iluminador de campo claro (16) comprende entre tres y doce hileras de fuentes de luz (17), preferiblemente entre cinco y ocho.

10. El sistema de captación de imagen de acuerdo con cualquiera de las reivindicaciones 7 a 9, en el cual las hileras de fuentes de luz (17) se han dispuesto las unas con respecto a las otras con desplazamientos angulares sustancialmente uniformes.

11. El sistema de captación de imagen de acuerdo con cualquiera de las reivindicaciones 7 a 10, en el cual se ha dispuesto un difusor (19) entre las fuentes de luz (17) y la zona de visión (20).

12. El sistema de captación de imagen de acuerdo con la reivindicación 11, en el cual la distancia entre el difusor y las fuentes de luz (17) del iluminador de campo claro (16) está comprendida entre 30 mm y 100 mm.

13. El sistema de captación de imagen de acuerdo con cualquiera de las reivindicaciones precedentes, en el cual cada fuente de luz del iluminador de campo claro consiste en una pluralidad de LEDs (17) adyacentes.

14. El sistema de captación de imagen de acuerdo con cualquiera de las reivindicaciones precedentes, en el cual la anchura de la zona de visión (20) es al menos 1.000 mm.

15. El sistema de captación de imagen de acuerdo con cualquiera de las reivindicaciones 1 a 13, en el cual el alojamiento (24) tiene una anchura que es menor que 30 cm.

16. El sistema de captación de imagen de acuerdo con la reivindicación 15, en el cual la cámara (12) y los iluminadores (14, 16) están combinados en una unidad autónoma.

17. El sistema de captación de imagen de acuerdo con la reivindicación 16, en el cual la cámara (12) y los iluminadores (14, 16) están dispuestos en un alojamiento común (24).

18. Una estación de inspección de calidad (2) que comprende el sistema de captación de imagen (10) de acuerdo con cualquiera de las reivindicaciones precedentes, de tal manera que la estación de inspección de calidad (2) está configurada para inspeccionar elementos laminares (4) en una máquina de tratamiento de elementos laminares.

19. La estación de inspección de calidad de acuerdo con la reivindicación 18, en la cual el sistema de captación de imagen (10) se ha dispuesto para inspeccionar el margen de los elementos laminares (4) que están siendo desplazados a través de la estación de inspección de calidad.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/EP2017/025133.

Solicitante: BOBST MEX SA.

Nacionalidad solicitante: Suiza.

Dirección: Route de Faraz 3 1031 Mex.

Inventor/es: RICHARD,MATTHIEU, PILLOUD,Francis.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01B11/00 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00).
  • G01N21/88 G01 […] › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › Investigación de la presencia de grietas, de defectos o de manchas.
  • G01N21/89 G01N 21/00 […] › en un material móvil, p. ej. del papel, de tejidos (G01N 21/90, G01N 21/91, G01N 21/94 tienen prioridad).
  • G01N21/896 G01N 21/00 […] › Defectos ópticos en o sobre materiales transparentes, p. ej. distorsiones, grietas superficiales.

PDF original: ES-1224499_U.pdf

 

Patentes similares o relacionadas:

DISPOSITIVO DE MEDICIÓN DE COTAS GEOMÉTRICAS, del 2 de Julio de 2020, de EMPRESA DE TRASPORTE MASIVO DEL VALLE DE ABURRA LTDA. - METRO DE MEDELLIN LTDA: La presente invención se refiere a dispositivos y métodos de medición de cotas geométricas en cables de un teleférico para verificar que el desplazamiento del cable […]

Sistema de medición óptica, del 10 de Junio de 2020, de METRONOR A/S: Un sistema para la medición de coordenadas espaciales y/o la orientación de una sonda , que comprende: a) un primer sensor de dirección espacial […]

Procedimiento y sistema para la calibración de un sistema de visión por ordenador, del 1 de Abril de 2020, de Oy Mapvision Ltd: Procedimiento para la calibración de un sistema de visión por ordenador tridimensional, comprendiendo dicho procedimiento las etapas de: disponer […]

Dispositivo de control tridimensional sin contacto de una pieza hueca con superficie interna de revolución y procedimiento correspondiente, del 1 de Abril de 2020, de DWFritz Automation, Inc: Dispositivo de control tridimensional sin contacto de una pieza hueca con superficie interna de revolución, denominada pieza hueca que va a controlarse, comprendiendo […]

Detección de posición, del 18 de Marzo de 2020, de Airbus Operations Limited: Aparato para determinar la posición de un objeto que tiene uno o más elementos magnéticos , el aparato comprende una […]

Método y sistema para inspeccionar una pieza de trabajo, del 18 de Marzo de 2020, de THE BOEING COMPANY: Un método para inspeccionar una pieza de trabajo , comprendiendo dicho método: la introducción de datos del modelo asociado con la pieza de trabajo […]

Imagen de 'Métodos y sistemas de unión ala-fuselaje'Métodos y sistemas de unión ala-fuselaje, del 29 de Enero de 2020, de THE BOEING COMPANY: Un metodo de union ala-fuselaje para una aeronave , comprendiendo el metodo: (a) calcular un ajuste virtual entre un conjunto […]

PROCEDIMIENTO DE CARACTERIZACION DE ELEMENTOS REFLECTORES A PARTIR DE LOS HACES DE LUZ REFLEJADOS EN LOS MISMOS, del 27 de Enero de 2020, de FUNDACION CENER-CIEMAT: Dispositivo, sistema y procedimiento de caracterización de elementos reflectores a partir de los haces de luz reflejados en los mismos y en […]

Utilizamos cookies para mejorar nuestros servicios y mostrarle publicidad relevante. Si continua navegando, consideramos que acepta su uso. Puede obtener más información aquí. .