SENSOR DE ELECTRONES PARA MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA.

Sensor de electrones para microscopia electrónica.

La presente invención es un sensor de electrones (1),

y un sistema con una pluralidad de sensores de electrones (1) para microscopia electrónica realizada mediante un microscopio electrónico. Más concretamente, el microscopio electrónico genera un haz de electrones (10) que comprende al menos un electrón que incide sobre una superficie de recepción lateral (3) de dicho sensor de electrones (1) y este genera una carga eléctrica de pares electrón-hueco (e-h) que son detectados y/o medidos por al menos electrodos (6, 7) vinculados con una unidad de circuitería eléctrica (12) para formar una imagen (11) con elevado rango dinámico y medir la energía de los electrones incidentes en cada pixel de la imagen.

Tipo: Patente de Invención. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: P201630925.

Solicitante: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS (CSIC).

Nacionalidad solicitante: España.

Provincia: MADRID.

Inventor/es: CARMONA GALÁN,Ricardo, CERVERA GONTARD,Lionel.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • H01J37/26 ELECTRICIDAD.H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS.H01J TUBOS DE DESCARGA ELECTRICA O LAMPARAS DE DESCARGA ELECTRICA (espinterómetros H01T; lámparas de arco, con electrodos consumibles H05B; aceleradores de partículas H05H). › H01J 37/00 Tubos de descarga provistos de medios o de un material para ser expuestos a la descarga, p. ej. con el propósito de sufrir un examen o tratamiento (H01J 33/00, H01J 40/00, H01J 41/00, H01J 47/00, H01J 49/00 tienen prioridad). › Microscopios electrónicos o iónicos; Tubos de difracción de electrones o de iones.
  • H01L31/08 H01 […] › H01L DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES; DISPOSITIVOS ELECTRICOS DE ESTADO SOLIDO NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR (utilización de dispositivos semiconductores para medida G01; resistencias en general H01C; imanes, inductancias, transformadores H01F; condensadores en general H01G; dispositivos electrolíticos H01G 9/00; pilas, acumuladores H01M; guías de ondas, resonadores o líneas del tipo guía de ondas H01P; conectadores de líneas, colectores de corriente H01R; dispositivos de emisión estimulada H01S; resonadores electromecánicos H03H; altavoces, micrófonos, cabezas de lectura para gramófonos o transductores acústicos electromecánicos análogos H04R; fuentes de luz eléctricas en general H05B; circuitos impresos, circuitos híbridos, envolturas o detalles de construcción de aparatos eléctricos, fabricación de conjuntos de componentes eléctricos H05K; empleo de dispositivos semiconductores en circuitos que tienen una aplicación particular, ver la subclase relativa a la aplicación). › H01L 31/00 Dispositivos semiconductores sensibles a la radiación infrarroja, a la luz, a la radiación electromagnética de ondas más cortas, o a la radiación corpuscular, y adaptados bien para la conversión de la energía de tales radiaciones en energía eléctrica, o bien para el control de la energía eléctrica por dicha radiación; Procesos o aparatos especialmente adaptados a la fabricación o el tratamiento de estos dispositivos o de sus partes constitutivas; Sus detalles (H01L 51/42 tiene prioridad; dispositivos consistentes en una pluralidad de componentes de estado sólido formados en o sobre un sustrato común, diferentes a las combinaciones de componentes sensibles a la radiación con una o varias fuentes de luz eléctrica H01L 27/00). › en los que la radiación controla el flujo de corriente a través del dispositivo, p. ej. fotorresistencias.

PDF original: ES-2653767_A1.pdf

 

Patentes similares o relacionadas:

Dispositivo para producir un parche de una capa sobre un sustrato y medir el espesor del parche, y método para medir un espesor de un parche de una estructura de capa sobre un sustrato, del 5 de Febrero de 2020, de TE Connectivity Germany GmbH: Dispositivo para producir un parche de una estructura de capa sobre un sustrato mediante la aplicación de un material sobre el sustrato y la fusión […]

SENSOR DE ELECTRONES PARA MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA, del 11 de Enero de 2018, de CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS (CSIC): La presente invención es un sensor de electrones , y un sistema con una pluralidad de sensores de electrones para microscopía electrónica realizada […]

Imagen de 'Microscopio electrónico de transmisión'Microscopio electrónico de transmisión, del 16 de Mayo de 2012, de MEDICAL RESEARCH COUNCIL: Microscopio electrónico de transmisión que presenta: una posición de un cuerpo de destino sobre el eje óptico electrónico del microscopio, una fuente […]

ELEMENTO PIEZOELECTRICO QUE PERMITE EL MOVIMIENTO TRIDIMENSIONAL Y ORTOGONAL., del 16 de Noviembre de 1999, de UNIVERSIDAD AUTONOMA DE MADRID: Elemento piezoeléctrico que permite el movimiento tridimensional y ortogonal caracterizado por estar compuesto de tres láminas piezoeléctricas polarizadas y conectadas de […]

MICROSCOPIO TUNEL PARA OPERACION EN ULTRA ALTO VACIO CON MOVIMIENTO DE LA MUESTRA MEDIANTE INCHWORM SEPARABLE Y POSICIONAMIENTO DEL PORTAMUESTRAS MEDIANTE PIEZAS V., del 1 de Julio de 1992, de UNIVERSIDAD AUTONOMA DE MADRID: MICROSCOPIO (STM) COMPATIBLE CON ULTRA ALTO VACIO (UHV). EL MECANISMO DE APROXIMACION DE LA MUESTRA A LA PUNTA ES MEDIANTE INCHWORM (QUE POSEE UN […]

METODO DE FABRICACION DE UNA PUNTA EMISORA DE ELECTRONES PARA UN MICROSCOPIO DE EXPLORACION POR EFECTO TUNEL., del 16 de Marzo de 1988, de INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION: METODO DE FABRICAR UNA PUNTA EMISORA DE ELECTRONES PARA UN MICROSCOPIO DE EXPLORACION POR EFECTO TUNEL. SE FABRICA UNA PUNTA EMISORA DE ELECTRONES PARA UN MICROSCOPIO […]

UN MICROSCOPIO DE EXPLORACION POR EFECTO TUNEL., del 1 de Julio de 1987, de INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION: MICROSCOPIO DE EXPLORACION POR EFECTO TUNEL. COMPRENDE: UNA SECCION CUADRADA, QUE ESTA ENLAZADA POR UN PRIMER PAR DE BANDAS A UNA SECCION EN FORMA DE L, Y ESTA […]

Fotoelectrodos de doble cara y método para hacer un fotoelectrodo de doble cara, del 1 de Julio de 2020, de King Abdullah University of Science and Technology: Un fotoelectrodo, que comprende: una primera capa de nanocables de nitruro III; un sustrato transparente, en contacto con la primera capa de nanocables en una […]

Utilizamos cookies para mejorar nuestros servicios y mostrarle publicidad relevante. Si continua navegando, consideramos que acepta su uso. Puede obtener más información aquí. .