Dispositivos para realizar medidas de frecuencia; Dispositivos para realizar análisis de espectros de frecuencia (discriminadores de frecuencia H 03 D)

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CIP: G01R23/00, Dispositivos para realizar medidas de frecuencia; Dispositivos para realizar análisis de espectros de frecuencia (discriminadores de frecuencia H 03 D)

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Inventos patentados en esta categoría

  1. 1.-

    Procedimiento para la medición del ancho de banda a 3dB en amplificadores sintonizados o de banda estrecha mediante mediciones de temperatura en pequeña señal. La presente invención se refiere a un procedimiento para la medición del ancho de banda a 3dB de amplificadores sintonizados o de banda estrecha mediante mediciones de temperatura en pequeña señal. La Fig. 1 muestra un circuito integrado que contiene un amplificador sintonizado . La figura también muestra el generador que suministra una tensión continua para alimentar al amplificador y el generador de señal que proporciona al amplificador dos funciones sinusoidales cuyas frecuencias difieren en Δf hercios. Mediciones de la amplitud de componente...

  2. 2.-

    Método y módulo para medir la tasa de cambio de frecuencia de una forma de onda relacionada con una unidad de convertidor de un aerogenerador, que consiste en: medir un valor instantáneo de dicha tasa de cambio de frecuencia de la forma de onda, calcular un primer valor filtrado de dicha tasa de cambio de frecuencia, teniendo dicho primer valor filtrado una buena precisión pero una baja respuesta temporal, y calcular un segundo valor filtrado de dicha tasa de cambio de frecuencia, teniendo dicho segundo valor filtrado una buena respuesta temporal pero poca precisión, comparar dicho primer y segundo valor filtrado y seleccionar que un valor de salida de dicha...

  3. 3.-

    Un aparato, que comprende: Una medición de un detector de corriente; Un almacén de al menos una medición histórica del detector; Un almacén de frecuencia de cortes potenciales, cada frecuencia de corte potencial está asociada con una diferencia de potencial respectiva entre la medición del detector de corriente y la medición histórica del detector almacenada; Un filtro que tiene una frecuencia de corte dinámicamente seleccionada de las frecuencias de corte potenciales almacenadas sobre la base...

  4. 4.-

    Procedimiento para la obtención de la frecuencia central en amplificadores sintonizados integrados en un cristal semiconductor mediante la medición de temperatura. La presente invención describe un procedimiento para la obtención de la frecuencia central en amplificadores sintonizados integrados en un cristal semiconductor mediante la medición de temperatura. La Fig. 1 muestra un cristal semiconductor que puede contener diferentes circuitos analógicos i/o digitales , siendo uno de ellos un amplificador sintonizado . El funcionamiento de dicho amplificador...

  5. 5.-

    PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO INSTANTANEO PARA LA FRECUENCIA DE UNAS SEÑALES

    . Solicitante/s: TELEFUNKEN SYSTEMTECHNIK GMBH. Inventor/es:

    SE PRESENTA UN NUEVO PROCEDIMIENTO DIGITRAL QUE POSIBILITA LA DETECCION DE FRECUENCIA INSTANTANEA DE SEÑAL DE ALTA FRECUENCIA CON PULSACIONES EN LAS ZONAS DE PICOSEGUNDO. ADEMAS ES APROPIADO PARA LA INTEGRACION MONOLITICA SOBRE UNO O VARIOS CHIPS-SEMICONDUCTORES. EL NITIDO PROCEDIMIENTO PARALELO SE BASA EN EL PRINCIPIO DE INTERFENOMETRO MENCIONADO Y PUEDE EFECTUAR DIRECTAMENTE LA DIRECCION DE LAS SEÑALES DE ENTRADA EN LA ZONA DE FRECUENCIA ORIGINAL. PARA LA REALIZACION DE ALTERNAR ELEMENTOS DE DEMORA, COMPARADORES Y CONEXIONES ALTERNATIVAS SENCILLAS (EX-OR/NOR-ALTERNADOR).COMO DISTRIBUIDOR DE SEÑALES Y CURSOR DE FASES SE UTILIZA UNA DISPOSICION DE ACOPLAMIENTO HIBRIDO (3DB).

  6. 6.-

    DISPOSITIVO PARA REALIZAR UNA VIBRACION O EXPLORACION REPETITIVA DE UN ELEMENTO SENSOR Y METODO PARA IMPARTIR A DICHO ELEMENTO UN MOVIMIENTO DE BARRIDO.

    . Ver ilustración. Solicitante/s: STATE OF ISRAEL MINISTRY OF DEFENCE ARMAMENT DEVELOPMENT AUTHORITY. Inventor/es:

    DISPOSITIVO PARA REALIZAR UNA VIBRACION O EXPLORACION REPETITIVA DE UN ELEMENTO SENSOR, Y METODO PARA IMPARTIR A DICHO ELEMENTO UN MOVIMIENTO DE BARRIDO. EL ELEMENTO SENSOR ESTA UNIDO A UN IMAN PERMANENTE CON LOS POLOS DIAMETRALMENTE OPUESTOS, DANDO POR RESULTADO UN CIRCUITO MAGNETICO ABIERTO. EN TORNO A DICHO IMAN HAY DISPUESTA UNA BOBINA, A TRAVES DE LA CUAL SE PASA UNA CORRIENTE DE FRECUENCIA E INTENSIDAD PREDETERMINADAS, DISPONIENDOSE DE UNOS MEDIOS PARA PERMITIR EL GIRO DEL IMAN Y DEL SENSOR UNIDO A EL COMO RESULTADO DE LA INTERACCION DE LOS DOS CAMPOS MAGNETICOS. DE ACUERDO CON UNA REALIZACION PREFERIDA, LA EXPLORACION ES CONTROLADA POR UNAS SEÑALES ORIGINADAS A PARTIR DE UNOS MEDIOS SENSORES ELECTROOPTICOS DISPUESTOS EN LAZO CERRADO CON LA CORRIENTE QUE SE APLICA A LA BOBINA.

  7. 7.-

    Descodificador de precisión sobre el primer impulso de un par, que comprende, por una parte, un registro de descodificación activado permanentemente por un reloj de frecuencia F, y que recibe impulsos a descodificar, medios para determinar una ventana de tolerancia de descodificación y una puerta de coincidencia de descodificación, que suministra los impulsos, cada uno de los cuales indica la descofificación de un par, denominados impulsos descodificados, por otra parte, medios para memorizar el error e fluctuante, del que están afectados los impulsos descodificados, y medios para restituir este error en el momento de la descodificación,...

  8. 8.-

    UN METODO CON SU APARATO CORRESPONDIENTE PARA MEDIR LA CONTRIBUCION DE POTENCIA Y LA COMPRENSION INTERNA.

    . Solicitante/s: UNITED TECHNOLOGIES CORPORATION.

    Resumen no disponible.

  9. 10.-

    PERFECCIONAMIENTOS EN INSTALACIONES PARA LA IGUALACION DE TENSIONES CONTINUAS EN FORMA DE DIENTES DE SIERRA O PULSANTES

    . Ver ilustración. Solicitante/s: SIEMENS A. G..

    Resumen no disponible.

  10. 13.-

    UN FILTRO DE FRECUENCIA CON INTERRUPTORES GOBERNADOS POR SUCESIONES DE IMPULSOS, EN ESPECIAL PARA SISTEMAS DE TRANSMISION SUCESIVA DE SEÑALES

    . Ver ilustración. Solicitante/s: SIEMENS A. G..

    Resumen no disponible.

  11. 15.-

    MEJORAS EN O RELATIVAS A ANALIZADORES DE ONDAS ELÉCTRICAS

    . Ver ilustración. Solicitante/s: STANDARD ELECTRICA, S.A..

    Mejoras en analizadores de forma de onda para medir la amplitud de por lo menos una de las componentes de distorsión no lineal producida en una onda esencialmente sinusoide a su paso a través de un sistema amplificador termoiónico, caracterizado en que dicho sistema amplificador está dispuesto por medios incluidos en dicho analizador para proveer su propio suministro de frecuencia de prueba por auto-oscilación.