CIP-2021 : C30B 15/04 : añadiendo un material de dopado, p. ej. para una unión n– p.

CIP-2021CC30C30BC30B 15/00C30B 15/04[2] › añadiendo un material de dopado, p. ej. para una unión n– p.

Notas[g] desde C30B 7/00 hasta C30B 21/00: Crecimiento de monocristales a partir de líquidos; Solidificación unidireccional de materiales eutécticos

C QUIMICA; METALURGIA.

C30 CRECIMIENTO DE CRISTALES.

C30B CRECIMIENTO DE MONOCRISTALES (por sobrepresión, p. ej. para la formación de diamantes B01J 3/06 ); SOLIDIFICACION UNIDIRECCIONAL DE MATERIALES EUTECTICOS O SEPARACION UNIDIRECCIONAL DE MATERIALES EUTECTOIDES; AFINAMIENTO DE MATERIALES POR FUSION DE ZONA (afinamiento por fusión de zona de metales o aleaciones C22B ); PRODUCCION DE MATERIALES POLICRISTALINOS HOMOGENEOS DE ESTRUCTURA DETERMINADA (colada de metales, colada de otras sustancias por los mismos procedimientos o aparatos B22D; trabajo de materias plásticas B29; modificación de la estructura física de metales o aleaciones C21D, C22F ); MONOCRISTALES O MATERIALES POLICRISTALINOS HOMOGENEOS DE ESTRUCTURA DETERMINADA; TRATAMIENTO POSTERIOR DE MONOCRISTALES O DE MATERIALES POLICRISTALINOS HOMOGENEOS DE ESTRUCTURA DETERMINADA (para la fabricación de dispositivos semiconductores o de sus partes constitutivas H01L ); APARATOS PARA ESTOS EFECTOS.

C30B 15/00 Crecimiento de monocristales por estirado fuera de un baño fundido, p. ej. método de Czochralski (bajo un fluido protector C30B 27/00).

C30B 15/04 · · añadiendo un material de dopado, p. ej. para una unión n– p.

CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.

Procedimiento y dispositivo para la producción de varillas finas de silicio.

(14/10/2013) Procedimiento para la producción de varillas finas de silicio, que comprende las siguientes etapas: a) habilitaciónde una varilla de silicio; b) corte secuencial de tablas de un grosor determinado a partir de la varilla por medio de undispositivo de aserrado, en donde la varilla es girada axialmente entre dos cortes consecutivos en cada caso en 90º oen 180º de manera que de cuatro cortes consecutivos tienen lugar por pares en cada caso dos de los cuatro cortes encaras radialmente enfrentadas de la varilla o en donde el corte de las tablas tiene lugar simultáneamente al mismotiempo en caras radialmente enfrentadas de la varilla; c) aserrado de las tablas cortadas para formar varillas finas conuna sección transversal rectangular

Procedimiento de solidificación de semiconductor con adición de cargas de semiconductor dopado en el transcurso de la cristalización.

(02/04/2012) Procedimiento de solidificación de semiconductor, que incluye al menos las etapas de: - formar un baño de semiconductor fundido a partir de al menos una primera carga de semiconductor que incluye dopantes, - solidificar el semiconductor fundido , y que incluye además, en el transcurso de la solidificación del semiconductor fundido , la realización, en el curso de al menos una parte del procedimiento de solidificación, de una o varias etapas de adición de una o varias cargas suplementarias del semiconductor, que incluyen asimismo dopantes, al baño de semiconductor rebajando la variabilidad del valor del término **Fórmula** del semiconductor fundido del baño con relación a la variabilidad realizada de forma natural por los valores de los coeficientes de…

"PROCEDIMIENTO PARA LA PRODUCCION DE TRANSPOSICIONES PN VERTICALES EN EL ESTIRADO DE BANDAS, POLIGONOS O TUBOS DE SILICIO".

(01/12/1982). Solicitante/s: HELIOTRONIC FORSCHUNGS UND ENTWICKLUNGSGESELL SCHA.

PROCEDIMIENTO PARA LA PRODUCCION DE TRANSPOSICIONES PN VERTICALES EN EL ESTIRADO DE BANDAS, POLIGONOS O TUBOS DE SILICIO. CONSISTE EN AÑADIR A LA MASA FUNDIDA DE SILICIO, SUSTANCIAS IMPURIFICADORAS QUE ACTUAN EN EL CRISTAL DE SILICIO COMO ACEPTADORAS O DONADORAS; DURANTE EL ESTIRADO DE BANDA, EL CRECIMIENTO DE CRISTALES ESTA SOMETIDO A VARIACIONES PERIODICAS DE BAJA A ALTA VELOCIDAD EN LA MEDIDA EN QUE EN LA BANDA DE SILICIO CRISTALIZADA RESULTA UNA LONGITUD TOTAL DE 5 A 200 M DE CADA UNA DE LAS ZONAS CONDUCTORAS DE TIPOS P Y N. COMO PARES DE SUSTANCIAS IMPURIFICADORAS, SE EMPLEAN BORO/BISMUTO, INDIO/FOSFORO; GALIO/FOSFORO O ALUMINIO/ARSENICO. LA MODIFICACION PERIODICA DE BAJA A ALTA VELOCIDAD SE AJUSTA POR UNA MODIFICACION DE LA VELOCIDAD DE ESTIRADO O POR UNA VARIACION PERIODICA DE LA TEMPERATURA DE LA MASA FUNDIDA EN LA ZONA DEL FRENTE DE CRECIMIENTO.

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