UNIDAD DE ALIMENTACION DE DIAPOSITIVAS PARA UN MICROSCOPIO DE EXPLORACION AUTOMATICA.

Una unidad de alimentación de diapositivas para un microscopio,

que comprende: (a) un cargador (1) para recibir diapositivas (2), incluyendo dicho cargador (1) una placa base (3); (2) dos paredes finales (5); (3) una pared lateral (4); (4) un lado abierto; (5) una cremallera (7) fijada externamente a dicha pared lateral (4) y paralela a dicha placa base (3); y (6) elementos (6) de guía de las diapositivas, orientados perpendicularmente a dicho lado abierto; (b) un mecanismo de desplazamiento del cargador que incluye (1) una depresión (8) para recibir dicho cargador en una relación de ajuste con dicha placa base y dichas paredes finales; teniendo dicha depresión unas placas laterales opuestas (10), provistas cada una de ellas de aberturas; (2) dos ejes (22) soportados giratoriamente por dicha depresión y extendiéndose a lo largo de dichas placas, respectivamente; (3) primeros medios (19) de transmisión para hacer girar dichos ejes; (4) engranajes (14) de alimentación soportados giratoriamente en las respectivas dichas aberturas de dichas placas laterales, y que están adaptados para engranar con dicha cremallera para hacer avanzar dicho cargador en una dirección de avance; (5) engranajes (15) de elevación sostenidos giratoriamente en dichas placas laterales y que tienen caras interiores sustancialmente coplanarias con una superficie interior de dichas placas laterales; teniendo cada uno de los engranajes de elevación dos patillas (16) dispuestas en extremos opuestos del diámetro del engranaje de elevación y orientadas perpendicularmente a dicha cara del respectivo engranaje de elevación; y (6) engranajes sinfín (24) de transmisión girados por dicho eje y que engranan con dichos engranajes de alimentación y dichos engranajes de elevación; y (c) un dispositivo (18) de alimentación de diapositivas que atraviesa dicha depresión y que incluye (1) un brazo robotizado (28) que puede desplazarse perpendicularmente a dicha dirección de avance de dicho cargador para retirar una diapositiva de dicho cargador; y (2) segundos medios (26) de transmisión para desplazar dicho brazo robotizado.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: 3DHISTECH KFT.

Nacionalidad solicitante: Hungría.

Dirección: KONKOLY-THEGE M. U. 29-33,1121 BUDAPEST.

Inventor/es: VIRAG, TIBOR, LASZLO, ATTILA, VARGA, VIKTOR SEBESTYEN, MOLNAR, BELA.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 27 de Febrero de 2004.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N35/00 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › Análisis automático no limitado a procedimientos o a materiales tratados en uno sólo de los grupos G01N 1/00 - G01N 33/00; Manipulación de materiales a este efecto.
  • G02B21/34 G […] › G02 OPTICA.G02B ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene prioridad; elementos ópticos especialmente adaptados para ser utilizados en los dispositivos o sistemas de iluminación F21V 1/00 - F21V 13/00; instrumentos de medida, ver la subclase correspondiente de G01, p. ej. telémetros ópticos G01C; ensayos de los elementos, sistemas o aparatos ópticos G01M 11/00; gafas G02C; aparatos o disposiciones para tomar fotografías, para proyectarlas o para verlas G03B; lentes acústicas G10K 11/30; "óptica" electrónica e iónica H01J; "óptica" de rayos X H01J, H05G 1/00; elementos ópticos combinados estructuralmente con tubos de descarga eléctrica H01J 5/16, H01J 29/89, H01J 37/22; "óptica" de microondas H01Q; combinación de elementos ópticos con receptores de televisión H04N 5/72; sistemas o disposiciones ópticas en los sistemas de televisión en colores H04N 9/00; disposiciones para la calefacción especialmente adaptadas a superficies transparentes o reflectoras H05B 3/84). › G02B 21/00 Microscopios (oculares G02B 25/00; sistemas polarizantes G02B 27/28; microscopios de medida G01B 9/04; micrótomos G01N 1/06; técnicas o aparatos de sonda de barrido G01Q). › Platinas de microscopios, p. ej. montaje de muestras sobre las platinas de microscopio (preparación de muestras para el análisis G01N 1/28; medios de soporte de los objetos o materiales sometido al análisis en los microscopios electrónicos H01J 37/20).

Clasificación PCT:

  • G01N35/00 G01N […] › Análisis automático no limitado a procedimientos o a materiales tratados en uno sólo de los grupos G01N 1/00 - G01N 33/00; Manipulación de materiales a este efecto.
  • G02B21/34 G02B 21/00 […] › Platinas de microscopios, p. ej. montaje de muestras sobre las platinas de microscopio (preparación de muestras para el análisis G01N 1/28; medios de soporte de los objetos o materiales sometido al análisis en los microscopios electrónicos H01J 37/20).

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Oficina Europea de Patentes, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania.

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