SISTEMA Y METODO PARA REALIZAR MEDICIONES OPTICAS SELECCIONADAS.
SISTEMA (11) Y PROCEDIMIENTO PARA REALIZAR MEDICIONES OPTICAS SELECCIONADAS EN UNA MUESTRA QUE UTILIZA UN REFLECTROMETRO DE AMBITO DE COHERENCIA OPTICA QUE INCLUYE UNA REJILLA DE DIFRACCION (G).
UNA FUENTE DE LUZ DE BANDA AMPLIA (13) PRODUCE LUZ QUE TIENE UNA LONGITUD DE COHERENCIA CORTA. UN DIVISOR DE HAZ (BS1) DIVIDE LA LUZ EN UN HAZ DE SEÑAL Y UN HAZ DE REFERENCIA. UN ESPEJO DE REFERENCIA (M5) ESTA DISPUESTO PARA RECIBIR EL HAZ DE REFERENCIA. UNA LENTE (O1) PONE EL HAZ DE LA SEÑAL EN UN FOCO CON LA MUESTRA. UNA REJILLA DIFRACTORA (G) RECIBE UNA REFLEXION DE LA MUESTRA Y DEL ESPEJO DE REFERENCIA, Y LAS REFLEXIONES INCIDEN SOBRE LA REJILLA DE DIFRACCION DE DONDE ESTAS REFLEXIONES RECIBIDAS SE PROPAGAN A LO LARGO DE UNA LINEA NORMAL A LA REJILLA DIFRACTORA. UNA LENTE (L1) CAPTA LAS ORDENES DIFRACTADAS DE LA REJILLA DIFRACTORA Y LLEVA LAS ORDENES DIFRACTADAS PARA ESTAR EN FOCO CON UN DETECTOR (23), DETECTOR QUE PRODUCE UNA SEÑAL DE SALIDA DE LAS PRIMERAS ORDENES DIFRACTADAS POSITIVA Y NEGATIVA RECIBIDAS. UN ORDENADOR (25) PROCESA LA SALIDA DEL DETECTOR (23).
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: THE RESEARCH FOUNDATION OF CITY COLLEGE OF NEW YORK.
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: 79 FIFTH AVENUE,NEW YORK, 10003.
Inventor/es: ZEYLIKOVICH, IOSIF, ALFANO, ROBERT, R.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 4 de Diciembre de 1997.
Fecha Concesión Europea: 1 de Junio de 2005.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01B11/30 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la medida de la rugosidad o la irregularidad de superficies.
- G01B9/02 G01B […] › G01B 9/00 Instrumentos según se especifica en los subgrupos y caracterizados por la utilización de medios de medida ópticos (disposiciones para la medida de parámetros particulares G01B 11/00). › Interferómetros.
- G01N21/47 G01 […] › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › Dispersión, es decir, reflexión difusa (G01N 21/25, G01N 21/41 tienen prioridad).
Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Mónaco, Irlanda, Finlandia, Oficina Europea de Patentes, Armenia, Azerbayán, Bielorusia, Ghana, Kenya, Kirguistán, Kazajstán, Lesotho, República del Moldova, Malawi, Federación de Rusia, Sudán, Tayikistán, Turkmenistán, Uganda, Zimbabwe, Burkina Faso, Benin, República Centroafricana, Congo, Costa de Marfil, Camerún, Gabón, Guinea, Malí, Mauritania, Niger, Senegal, Chad, Togo, Organización Regional Africana de la Propiedad Industrial, Swazilandia, Organización Africana de la Propiedad Intelectual, Organización Eurasiática de Patentes.
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