SISTEMA OPTICO DE ESCANEADO CON MICROESTRUCTURA DE RETICULA Y APARATO DE FORMACION DE IMAGENES.

Sistema óptico de escaneado, para escanear un haz de luz sobre un ángulo de escaneado,

estando formado dicho sistema por: fuente de luz (1); medio desviador (5) para desviar un haz de luz emitido desde dicha fuente de luz (1); y un medio óptico de escaneado (6, 16, 26) para guiar el haz de luz desviado por acción de dicho medio desviador (5) hacia una superficie de escaneado; en el que el citado medio óptico de escaneado incluye, como mínimo, un elemento óptico de escaneado (6a, 6b, 16a, 16b, 26a, 26b) que comprende una lente moldeada de material de resina, y el sistema está caracterizado porque: como mínimo una superficie óptica del citado medio óptico de escaneado está conformada integralmente sobre una microestructura de retícula (8), y la citada microestructura de retícula cumple la condición Py < lambda /(Ns + Ni · sen theta i) en la que Py es el paso de la retícula en una posición y desde el eje óptico, lambda es una longitud de onda de un haz de luz procedente de la fuente de luz, theta i es el ángulo de incidencia de un haz de luz en la citada posición y, Ni es el índice de refracción de un medio en el lado incidente de la citada microestructura de retícula y Ns es el índice de refracción de un medio en el lado de salida de la citada microestructura de retícula; y el valor de, como mínimo, uno de los tres factores siguientes, es decir, el paso de la retícula, la profundidad de la retícula y la constante de la retícula correspondientes a la microestructura de retícula en una posición fuera del eje es distinto del valor correspondiente en una posición sobre el eje, de forma que se cumple la condición 0,9 < Is(theta i) / Is(0) < 1,1 en la que Is(theta i) es la cantidad de luz transmitida al ángulo de incidencia theta i.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: CANON KABUSHIKI KAISHA.

Nacionalidad solicitante: Japón.

Dirección: 30-2, 3-CHOME, SHIMOMARUKO, OHTA-KU,TOKYO.

Inventor/es: KIMURA,KAZUMI.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 22 de Mayo de 2002.

Fecha Concesión Europea: 6 de Agosto de 2008.

Clasificación PCT:

  • G02B1/11 FISICA.G02 OPTICA.G02B ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene prioridad; elementos ópticos especialmente adaptados para ser utilizados en los dispositivos o sistemas de iluminación F21V 1/00 - F21V 13/00; instrumentos de medida, ver la subclase correspondiente de G01, p. ej. telémetros ópticos G01C; ensayos de los elementos, sistemas o aparatos ópticos G01M 11/00; gafas G02C; aparatos o disposiciones para tomar fotografías, para proyectarlas o para verlas G03B; lentes acústicas G10K 11/30; "óptica" electrónica e iónica H01J; "óptica" de rayos X H01J, H05G 1/00; elementos ópticos combinados estructuralmente con tubos de descarga eléctrica H01J 5/16, H01J 29/89, H01J 37/22; "óptica" de microondas H01Q; combinación de elementos ópticos con receptores de televisión H04N 5/72; sistemas o disposiciones ópticas en los sistemas de televisión en colores H04N 9/00; disposiciones para la calefacción especialmente adaptadas a superficies transparentes o reflectoras H05B 3/84). › G02B 1/00 Elementos ópticos caracterizados por la sustancia de la que están hechos (composiciones de vidrios ópticos C03C 3/00 ); Revestimientos ópticos para elementos ópticos. › Revestimientos antirreflejantes.
  • G02B13/00 G02B […] › Objetivos ópticos especialmente concebidos para empleos específicos detallados a continuación (con aumento variable G02B 15/00).
  • G02B26/10 G02B […] › G02B 26/00 Dispositivos o sistemas ópticos que utilizan elementos ópticos móviles o deformables para controlar la intensidad, el color, la fase, la polarización o la dirección de la luz, p. ej. conmutación, apertura de puerta o modulación (elementos móviles de dispositivos de iluminación para el control de la luz F21V; dispositivos o sistemas especialmente adaptados para medir las características de la luz G01J; dispositivos o sistemas cuyo funcionamiento óptico se modifica por el cambio de las propiedades ópticas del medio que constituyen estos dispositivos o sistemas G02F 1/00; control de la luz en general G05D 25/00; control de las fuentes de luz H01S 3/10, H05B 39/00 - H05B 47/00). › Sistemas de barrido (para aplicaciones particulares, ver los lugares correspondientes, p. ej. G03B 27/32, G03F 3/08, G03G 15/04, G09G 3/00, H04N).
  • G02B26/12 G02B 26/00 […] › que utilizan espejos de caras múltiples.
  • G02B3/00 G02B […] › Lentes simples o compuestas (ojos artificiales A61F 2/14; cristales de gafas o lentes de contacto para los ojos G02C; cristales de reloj o de péndulo G04B 39/00).
  • G02B5/18 G02B […] › G02B 5/00 Elementos ópticos distintos de las lentes (guías de luz G02B 6/00; elementos ópticos lógicos G02F 3/00). › Rejillas de difracción.
  • G02B5/30 G02B 5/00 […] › Elementos polarizantes (dispositivos moduladores de luz G02F 1/00).
  • H04N1/036 ELECTRICIDAD.H04 TECNICA DE LAS COMUNICACIONES ELECTRICAS.H04N TRANSMISION DE IMAGENES, p. ej. TELEVISION. › H04N 1/00 Exploración, transmisión o reproducción de documentos o similares, p. ej. transmisión facsímil; Sus detalles. › para la reproducción óptica.
  • H04N1/113 H04N 1/00 […] › utilizando espejos oscilantes o rotatorios.

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania.

SISTEMA OPTICO DE ESCANEADO CON MICROESTRUCTURA DE RETICULA Y APARATO DE FORMACION DE IMAGENES.

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