SISTEMA DE COMPROBACION DE UN CIRCUITO IMPRESO PROVISTO DE CIRCUITOS INTEGRADOS Y APLICACION DE ESTE SISTEMA EN LA COMPROBACION DE DICHO CIRCUITO IMPRESO.

ESTA INVENCION SE REFIERE A UN SISTEMA DE COMPROBACION DE UN CIRCUITO IMPRESO PROVISTO DE CIRCUITOS INTEGRADOS Y LA APLICACION DE ESTE SISTEMA EN LA COMPROBACION DE DICHO CIRCUITO IMPRESO.

EL SISTEMA DE COMPROBACION DE UN CIRCUITO IMPRESO PROVISTO DE CIRCUITOS INTEGRADOS COMPRENDE UN EQUIPAMIENTO DE COMPROBACION DOTADO DE UN ORGANO DE CONEXION, UN CIRCUITO INTEGRADO QUE COMPRENDE AL MENOS UNA CELULA FUNCIONAL (1) Y UNA CELULA DE COMPROBACION, COMPRENDIENDO EL CIRCUITO IMPRESO PISTAS FUNCIONALES (7, 8) Y PISTAS DE COMPROBACION QUE ACCEDEN RESPECTIVAMENTE A LA CELULA FUNCIONAL Y A LA CELULA DE COMPROBACION, COMPRENDIENDO DICHA CELULA DE COMPROBACION MEDIOS PARA CONECTAR UNA ENTRADA Y UNA SALIDA DE LA CELULA FUNCIONAL, LAS PISTAS DE COMPROBACION SIENDO PROPIAS DE UN CIRCUITO INTEGRADO Y ACCEDIENDO EL ORGANO DE CONEXION A CADA UNA DE LAS PISTAS DEL CIRCUITO IMPRESO, Y SE CARACTERIZA POR EL HECHO DE QUE LA CELULA DE COMPROBACION COMPRENDE ADEMAS MEDIOS PARA PONER TODAS LAS SALIDAS DE LA CELULA FUNCIONAL EN ESTADO DE ALTA IMPEDANCIA EN RESPUESTA A UNA SEÑAL DE NEUTRALIZACION QUE SE DERIVA DEL ESTADO DE LAS PISTAS DE COMPROBACION. PERMITE LA COMPROBACION DE UN CIRCUITO IMPRESO POR INYECCION DE SEÑALES MEDIANTE EL ORGANO DE CONEXION.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: ALCATEL MOBILE COMMUNICATION FRANCE.

Nacionalidad solicitante: Francia.

Dirección: 15, RUE DE LA BAUME,F-75008 PARIS.

Inventor/es: CASTEL, DOMINIQUE.

Fecha de Publicación: .

Fecha Concesión Europea: 1 de Mayo de 1996.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G06F11/26 FISICA.G06 CALCULO; CONTEO.G06F PROCESAMIENTO ELECTRICO DE DATOS DIGITALES (sistemas de computadores basados en modelos de cálculo específicos G06N). › G06F 11/00 Detección de errores; Corrección de errores; Monitorización (detección, corrección o monitorización de errores en el almacenamiento de información basado en el movimiento relativo entre el soporte de registro y el transductor G11B 20/18; monitorización, es decir, supervisión del progreso del registro o reproducción G11B 27/36; en memorias estáticas G11C 29/00). › Pruebas funcionales.

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