PROCESO Y DISPOSITIVO DE CALIBRADO PARA UN CONJUNTO DE MEDICION DEL PERFIL TRANSVERSAL DE ESPESOR DE UN PRODUCTO PLANO.

EL DISPOSITIVO ESTA DESTINADO AL CALIBRADO DE UN CONJUNTO DE MEDICION DEL PERFIL DE ESPESOR DE PRODUCTOS PLANOS,

POR EJEMPLO DE CHAPAS, QUE COMPRENDE UNA FUENTE (10) DE RADIACION, POR EJEMPLO DE RAYOS X, Y UNA HILERA (20) DE DETECTORES ELEMENTALES (21) ALINEADOS SEGUN LA DIRECCION (P) DEL PERFIL A MEDIR, COLOCADOS POR AMBAS PARTES DE UNA ZONA (2) DE PASO DE DICHO PRODUCTO. EL DISPOSITIVO COMPRENDE UN CONJUNTO (32) DE CUÑAS (33) QUE TIENEN CARACTERISTICAS DIFERENTES, UN CARRO (30) DE SOPORTE DE LAS CUÑAS MOVIL SEGUN ESTA DIRECCION. PARA EL CALIBRADO SE DESPLAZA EL CONJUNTO DE LAS CUÑAS EN LA ZONA DE PASO DE MANERA QUE CADA CUÑA PUEDA INTERCEPTAR LA RADIACION EMITIDA POR LA FUENTE EN DIRECCION DE CADA DETECTOR, Y A LO LARGO DEL DESPLAZAMIENTO DEL CARRO, SE EFECTUAN VARIAS LECTURAS DE LAS SEÑALES EMITIDAS POR LOS DETECTORES DE MANERA A OBTENER, PARA CADA DETECTOR, UN CONJUNTO DE VALORES DE LAS SEÑALES REPRESENTATIVAS DE LA INTENSIDAD DE LA RADIACION ABSORBIDA POR CADA CUÑA, Y SE ESTABLECE A PARTIR DE ESTOS VALORES, LA CURVA DE CALIBRACION DE CADA DETECTOR.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: SOLLAC S.A..

Nacionalidad solicitante: Francia.

Dirección: IMMEUBLE ELYSEES-LA-DEFENSE, 29, LE PARVIS,92800 PUTEAUX.

Inventor/es: CAMPAS, JEAN-JACQUES.

Fecha de Publicación: .

Fecha Concesión Europea: 21 de Enero de 1998.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01B15/04 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.G01B 15/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de radiación de ondas o partículas (G01B 9/00, G01B 11/00 tienen prioridad). › para la medida de contornos o curvaturas.

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