PROCEDIMIENTO PARA DETERMINAR LAS CARACTERISTICAS ELECTRICAS DE CIRCUITOS ANALOGICOS INTEGRADOS.

Caracterización eléctrica de circuitos analógicos integrados en un cristal semiconductor mediante la medición de temperatura.

#La presente invención describe la caracterización eléctrica de circuitos analógicos integrados en un cristal semiconductor mediante la medición de temperatura. La Fig. 1 muestra un cristal semiconductor (1) que puede contener diferentes circuitos analógicos (2-3-4-6-7). Por ejemplo, y sin que la lista limite los ámbitos de aplicación de la presente, estos circuitos pueden ser amplificadores, mezcladores, PLLs u osciladores. El funcionamiento de un circuito analógico provoca una disipación de potencia y ésta un incremento de temperatura. Mediciones de ciertos componentes frecuenciales de dicha temperatura realizadas en diferentes zonas del cristal semiconductor (10) permiten obtener características eléctricas de los diferentes circuitos analógicos, tales como, y sin que la lista limite los ámbitos de aplicación de la presente, ganancia, no linealidades y ruido de fase. La medida de la temperatura puede hacerse bien mediante sensores de temperatura integrados en el mismo cristal semiconductor, bien mediante sensores externos.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: UNIVERSITAT POLITECNICA DE CATALUNYA.

Nacionalidad solicitante: España.

Provincia: BARCELONA.

Inventor/es: ALTET SANAHUJES,JOSEP, MATEO PEA,DIEGO.

Fecha de Solicitud: 16 de Junio de 2005.

Fecha de Publicación: .

Fecha de Concesión: 26 de Enero de 2009.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01R15/00 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › Detalles de dispositivos para proceder a las medidas de tipos previstos en los grupos G01R 17/00 - G01R 29/00, G01R 33/00 - G01R 33/26 o G01R 35/00.

Clasificación PCT:

  • G01R15/00 G01R […] › Detalles de dispositivos para proceder a las medidas de tipos previstos en los grupos G01R 17/00 - G01R 29/00, G01R 33/00 - G01R 33/26 o G01R 35/00.
PROCEDIMIENTO PARA DETERMINAR LAS CARACTERISTICAS ELECTRICAS DE CIRCUITOS ANALOGICOS INTEGRADOS.

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