MEDICION DE LOS DIAMETROS DE FIBRAS Y DETECCION DE LOS DEFECTOS.

SE PRESENTAN LOS METODOS PARA MEDIR LOS DIAMETROS DE FILAMENTOS TRANSPARENTES CON UNA GRAN PRECISION. LOS METODOS CONSISTEN EN DETERMINAR LA FRECUENCIA ESPACIAL MEDIA DEL DIAGRAMA DE INTERFERENCIA DE CAMPO LEJANO A BASE DE ILUMINAR EL FILAMENTO CON UN HAZ DE UNA LUZ LASER UTILIZANDO UNA SERIE DE TRANSFORMADAS DE FOURIER DE SECUENCIA DISCRETA

(DSFTS). TAMBIEN SE PRESENTAN LOS METODOS PARA HACER QUE LA MEDIDA DE LOS DIAMETROS SE EXTIENDA A LA ELEPTICIDAD DEL FILAMENTO A BASE DE DETERMINAR EL DIAMETRO EN DOS LUGARES SEPARADOS UNA CANTIDAD TAL QUE UNA GRAFICA DEL DIAMETRO EN FUNCION DEL ANGULO DE ROTACION DE UN FILAMENTO ELIPTICO CALCULADO EN EL PRIMER LUGAR TENGA UN DESFASE DE 90 (GRADOS) APROXIMADAMENTE RESPECTO A LA MISMA GRAFICA CALCULADA EN EL SEGUNDO LUGAR. TAMBIEN SE PRESENTAN LOS METODOS PARA DETECTAR DEFECTOS EN LOS FILAMENTOS SEGUN LOS CUALES SE DETECTA UN PICO CARACTERISTICO DEL ESPECTRO DE FRECUENCIA ESPACIAL DEL DIAGRAMA DE INTERFERENCIA QUE SE SUBDIVIDE EN DOS PICOS QUE MIGRAN EN DIRECCIONES OPUESTAS A MEDIDA QUE CRECE EL TAMAÑO DEL DEFECTO.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: CORNING INCORPORATED.

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: HOUGHTON PARK,CORNING NEW YORK 14831.

Inventor/es: .

Fecha de Publicación: .

Fecha Concesión Europea: 7 de Mayo de 1997.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES... > Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización... > G01B11/08 (para la medida de diámetros)
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