INSTRUMENTO DE MEDICION DEL METRAJE DE SUPERFICIES.

Procedimiento de medición de la extensión superficial de superficies planas poligonales en el espacio,

en el cual:

- se utiliza un dispositivo (1) que comprende:

un telémetro (2) montado sobre un armazón de sostén (4) por medio de una montura (15) de punto central (16) que está adaptada para permitir a un usuario orientar el telémetro hacia un punto material de una superficie, llamado punto enfocado, de su elección, estando dicho telémetro adaptado para poder dar una señal representativa de la distancia que separa el punto central del punto enfocado,

medios (5, 6) de localización angular en el espacio de la dirección, llamada dirección de enfoque, que pasa por el punto central y el punto enfocado, estando estos medios de localización angular adaptados para poder dar señales representativas de la orientación de la dirección de enfoque con respecto a una referencia espacial centrada en el punto central,

estando el telémetro y los medios de localización angular así adaptados para poder dar señales representativas de las coordenadas esféricas del punto enfocado con respecto a dicha referencia espacial,

medios (82) de desencadenamiento, a la orden usuario, de la adquisición de las coordenadas esféricas del punto enfocado, que son aptos para desencadenar una memorización de datos numéricos representativos de estas coordenadas esféricas a partir de las señales dadas por el telémetro y los medios de localización angular,

una unidad de tratamiento numérico (9) que está adaptada para poder modelizar superficies planas poligonales a partir de las coordenadas esféricas adquiridas de puntos enfocados, llamados puntos de medición, que permiten determinar topológicamente dichas superficies planas poligonales, estando el procedimiento caracterizado por el hecho de que, para cada superficie plana poligonal a medir (13; 55):

- se elige una serie de puntos de medición (19-38; 60-63) que permita determinar topológica e individualmente dicha superficie plana poligonal, comprendiendo dicha serie a lo sumo, para cada arista de la superficie plana poligonal, dos puntos cuyas proyecciones sobre dicha superficie según una dirección predeterminada pertenecen a dicha arista,

- se efectúa una operación de modelización de dicha superficie, en la cual se levantan los puntos de medición de la serie orientando el telémetro sucesivamente hacia cada punto de medición y desencadenando la adquisición de sus coordenadas esféricas, estando la unidad de tratamiento adaptada para poder:

crear y memorizar un modelo numérico geométrico de la superficie plana poligonal generando un segmento o una recta para cada arista de dicha superficie, a partir de las coordenadas esféricas adquiridas de dos puntos de medición,

calcular y registrar un valor representativo del área del modelo numérico así creado

Tipo: Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: W05000365FR.

Solicitante: MEASURIX.

Nacionalidad solicitante: Francia.

Dirección: 4 AVENUE LOUIS ARAGON,31570 SAINTE FOY D'AIGREFEUILL.

Inventor/es: SCHIAVI,JEAN-PIERRE.

Fecha de Publicación: .

Fecha Concesión Europea: 10 de Junio de 2009.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01C15/00A

Clasificación PCT:

  • G01C15/00 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01C MEDIDA DE DISTANCIAS, NIVELES O RUMBOS; TOPOGRAFIA; NAVEGACION; INSTRUMENTOS GIROSCOPICOS; FOTOGRAMETRIA O VIDEOGRAMETRIA (medida del nivel de líquidos G01F; radio navegación, determinación de la distancia o velocidad mediante la utilización de efectos de propagación, p. ej. efecto Doppler, tiempo de propagación, de ondas de radio, disposiciones análogas que utilicen otras ondas G01S). › Instrumentos o accesorios topográficos no previstos en los grupos G01C 1/00 - G01C 13/00.

Clasificación antigua:

  • G01C15/00 G01C […] › Instrumentos o accesorios topográficos no previstos en los grupos G01C 1/00 - G01C 13/00.
INSTRUMENTO DE MEDICION DEL METRAJE DE SUPERFICIES.

Patentes similares o relacionadas:

Imagen de 'PLATAFORMA DE FONDO SUBMARINO CONFIGURABLE PARA MEDICIONES DIVERSAS,…'PLATAFORMA DE FONDO SUBMARINO CONFIGURABLE PARA MEDICIONES DIVERSAS, CON OPCIÓN DE CONTROL REMOTO, Y MODOS CAUTIVO O LIBRE, del 25 de Enero de 2012, de ARREDONDO DIEZ, JOSE FRANCISCO: Plataforma de fondo submarino configurable para mediciones diversas, con opción de control remoto, y modos cautivo o libre, consistente en una base […]

Imagen de 'PROCEDIMIENJTO PARA LA MEDICIÓN DE UNA POSICIÓN DE VÍA'PROCEDIMIENJTO PARA LA MEDICIÓN DE UNA POSICIÓN DE VÍA, del 19 de Mayo de 2011, de FRANZ PLASSER BAHNBAUMASCHINEN- INDUSTRIEGESELLSCHAFT M.B.H.: Procedimiento para la medición de una posición de vía, que es registrada con relación a una cuerda larga formada por un rayo láser como recta de […]

DERIVADOS DE PIRIDINA Y PIRIMIDINA COMO ANTAGONISTAS DEL mGluR2, del 30 de Marzo de 2011, de F. HOFFMANN-LA ROCHE AG: Un compuesto de fórmula (I): en el queuno de entre X o Y es N y el otro es CH, o ambos X e Y son N; Q es S, O, -CH=N- o -N=CH-; A es arilo o un heteroarilo […]

Imagen de 'EQUIPO MEDIDOR DE DISTANCIA'EQUIPO MEDIDOR DE DISTANCIA, del 1 de Febrero de 2011, de ROBERT BOSCH GMBH: Equipo medidor de distancia para la medición de distancias sin contacto, particularmente un equipo de mano, con una carcasa que presenta una superficie […]

Imagen de 'DISPOSICIÓN DE MEDICIÓN'DISPOSICIÓN DE MEDICIÓN, del 21 de Enero de 2011, de STABILA-MESSGERATE GUSTAV ULLRICH GMBH: Disposición de medición que comprende un aparato de medición como un aparato de medición láser con una carcasa , que está unida de forma desmontable a un trípode […]

Imagen de 'HERRAMIENTA AUTOMATICA SERVOCONTROLADA NIVELADA APLOMADA'HERRAMIENTA AUTOMATICA SERVOCONTROLADA NIVELADA APLOMADA, del 11 de Marzo de 2010, de ROBERT BOSCH COMPANY LIMITED: Un nivel óptico que comprende: un conjunto óptico para generar al menos un rayo de luz visible, incluyendo el conjunto óptico unas clavijas de […]

Nivel láser con soporte ajustable, del 22 de Julio de 2020, de KAPRO INDUSTRIES LTD.: Un nivel láser para ser colocado sobre una superficie de referencia horizontal, comprendiendo el nivel láser: (a) un cuerpo de nivel láser para proyectar […]

APARATO ASISTENTE DE LA ESTACIÓN TOTAL PARA LA MEDICIÓN CON OBSTÁCULOS, APLICADO A TOPOGRAFÍA, del 4 de Junio de 2020, de GÓMEZ PALACIO, Sergio: La presente invención se refiere a un dispositivo o aparato asistente de la estación total en topografía, el cual es usado para la medición con obstáculos, […]

Utilizamos cookies para mejorar nuestros servicios y mostrarle publicidad relevante. Si continua navegando, consideramos que acepta su uso. Puede obtener más información aquí. .