ELEMENTO DE MEDICION.

1. Elemento de medición, que comprende una superficie milimetrada a lo largo de la cual se desliza una corredera que determina la medición realizada,

comprendiendo dicha corredera una placa dispuesta substancialmente en perpendicular respecto a la superficie milimetrada, caracterizado por el hecho de que dicha placa está articulado respecto a dicha corredera, pudiendo adopta una posición substancialmente perpendicular respecto a la superficie milimetrada o una posición abatida sobre dicha superficie milimetrada.
2. Elemento de medición según la reivindicación 1, caracterizado por el hecho de que dicha superficie milimetrada es flexible.
3. Elemento de medición según la reivindicación 1, caracterizado por el hecho de que dicha corredera comprende un orificio dispuesto a la altura de la articulación de la placa, a través del cual se puede apreciar el valor medido indicado en la superficie milimetrada.
4. Elemento de medición según la reivindicación 1, caracterizado por el hecho de que dicha corredera comprenden elementos de tope que determinan la posición substancialmente perpendicular de la placa respecto a la superficie milimetrada.
5.Elemento de medición según cualquiera de las reivindicaciones anteriores, caracterizado por el hecho de que dicha superficie milimetrada comprende en sus extremos sendos orificios para la fijación del elemento de medición a una superficie.
6. Elemento de medición según cualquiera de las reivindicaciones anteriores, caracterizado por el hecho de que comprende una corredera adicional dispuesta en el sentido opuesto a la primera corredera.
7. Elemento de medición según la reivindicación 6, caracterizado por el hecho de que la corredera adicional está dispuesta en una posición fija respecto a la superficie milimetrada.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: GALEY MOLINA,JUAN.

Nacionalidad solicitante: España.

Provincia: BARCELONA.

Inventor/es: GALEY MOLINA,JUAN.

Fecha de Solicitud: 15 de Septiembre de 1999.

Fecha de Publicación: .

Fecha de Concesión: 27 de Julio de 2000.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01B3/10 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.G01B 3/00 Instrumentos según se especifica en los subgrupos y caracterizados por la utilización de medios de medida mecánicos (disposiciones para la medida de parámetros particulares G01B 5/00; dispositivos de uso general especialmente adaptados o configurados para almacenar, suministrar y almacenar de nuevo, repetitivamente, longitudes de material B65H 75/34). › Cintas de medir.
  • G01B3/20 G01B 3/00 […] › Galgas deslizantes.
ELEMENTO DE MEDICION.

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