DISPOSICION DE SEGURIDAD DE VEHICULO.

EL OBJETIVO DE LA INVENCION ES UN DISPOSITIVO DE SEGURIDAD DE VEHICULO CON UN APARATO DE CONTROL DE PROTECCION DE ROBO, AL MENOS UN APARATO DE CONTROL DE FUNCIONAMIENTO, UN LUGAR DE INTERFASE PARA LA CONEXION DE UN APARATO EXTERNO, UN SISTEMA DE CONDUCCION QUE UNE EL APARATO DE CONTROL DE PROTECCION DE ROBO, EL APARATO DE CONTROL DE FUNCIONAMIENTO Y EL LUGAR DE INTERFASE, ASI COMO UN DISPOSITIVO DE CONEXION CON LAS SITUACIONES DE CONEXION ABIERTO Y CERRADO, DE FORMA QUE EN LA POSICION ABIERTO EL SISTEMA DE CONDUCCION ESTA DISPUESTO EN UNA PRIMERA PARTE DE CONDUCCION QUE UNE AL MENOS EL APARATO DE CONTROL DE PROTECCION DE ROBO Y UN APARATO

(30) DE CONTROL DE FUNCIONAMIENTO Y UNA SEGUNDA PARTE (21) DE CONDUCCION QUE UNE AL MENOS LOS LUGARES (50) DE INTERFASE. DE ACUERDO CON LA INVENCION LA DISPOSICION DE SEGURIDAD DE VEHICULO ESTA A DISPOSICION A TRAVES DE UN EQUIPO (13,14,15,15',16,16' ,11) PARA LA SUPERVISION DEL DISPOSITIVO (20) DE CONEXION. GENERA UNA SEÑAL DE FALLO, CUANDO LA POSICION REAL (ABIERTO, CERRADO) DEL DISPOSITIVO (20) DE CONEXION NO CORRESPONDE A LA POSICION DE CONEXION (ABIERTO, CERRADO) PREVIAMENTE DADA COMO SITUACION TEORICA.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: ROBERT BOSCH GMBH.

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: POSTFACH 30 02 20,70442 STUTTGART.

Inventor/es: .

Fecha de Publicación: .

Fecha Concesión Europea: 28 de Mayo de 1997.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • SECCION B — TECNICAS INDUSTRIALES DIVERSAS; TRANSPORTES > VEHICULOS EN GENERAL > VEHICULOS, EQUIPOS O PARTES DE VEHICULOS, NO PREVISTOS... > Equipamientos o sistemas para impedir o señalar... > B60R25/10 (que accionan una señal de alarma)
  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES... > G01R31/00 (Dispositivos para verificar propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizados por lo que es probado, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; Ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46))
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