COMPROBADOR DE TARJETAS DE CIRCUITO IMPRESO.
SE PRESENTA UN APARATO Y UN METODO PARA COMPROBAR LAS CONEXIONES ENTRE TARJETAS DE CIRCUITO IMPRESO Y LOS COMPONENTES MONTADOS SOBRE LAS MISMAS.
UN CIRCUITO CONDUCTOR SE FORMA PARA DESVIAR HACIA ADELANTE UN DIODO PARASITICO QUE ESTA INHERENTEMENTE PRESENTE ENTRE UN TERMINAL DE CONEXION DE UN CIRCUITO INTEGRADO (IC) Y EL PLANO DE TIERRA DEL IC. SE CREA UN CAMPO MAGNETICO MEDIANTE UNA ANTENA MONTADA ENCIMA DEL COMPONENTE A COMPROBAR. CUANDO LA ANTENA ES DOTADA DE ENERGIA MEDIANTE UNA FUENTE DE RADIOFRECUENCIA, SE INDUCE UN VOLTAJE EN EL CIRCUITO CONDUCTOR SI EL CIRCUITO ES CONTINUO, POR EJEMPLO, SI TODAS LAS CONEXIONES ESTA APROPIADAMENTE HECHAS. EL VOLTAJE EN EL CIRCUITO SE MIDE Y SE COMPARA CON UN LIMITE SELECCIONADO PARA PRODUCIR UNA INDICACION DE FALLO. ESTE COMPROBADOR PUEDE IMPLEMENTARSE COMO UNA MEJORA A UN COMPROBADOR DE CIRCUITO IMPRESO ESTANDAR DEL TIPO DE "LECHO DE PUNTAS". LA ANTENA PUEDE IMPLEMENTARSE COMO UNA MATRIZ DE ANTENAS DE CIRCUITO, CON ANTENAS ADYACENTES QUE PRODUCEN CAMPOS MAGNETICOS QUE ESTAN 90 (GRADOS) FUERA DE FASE ENTRE UNAS Y OTRAS.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: TERADYNE, INC..
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: 321 HARRISON AVENUE,BOSTON, MASSACHUSETTS 02118.
Inventor/es: SHEEN, TIMOTHY, W., CHEN, JIANN-NENG, COHEN, STEPHEN, A., BAGLINO, MICHAEL, A., WRINN, JOSEPH, F.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 16 de Septiembre de 1994.
Fecha Concesión Europea: 4 de Diciembre de 2002.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01R31/04
- G01R31/312 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › por métodos capacitivos.
Países PCT: Alemania, España, Francia, Reino Unido, Italia, Suecia, Oficina Europea de Patentes, Japón.
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