CIRCUITO INTEGRADO DE CONTROL DE MEMORIA PARA TRANSCEPTOR DE FIBRA OPTICA.

Circuito para monitorizar un dispositivo optoelectrónico, que comprende:

una memoria (120, 122, 128), que incluye una o más matrices de memoria para almacenar la información relativa al dispositivo optoelectrónico; un circuito de conversión analógi- co a digital (127) configurado para recibir una pluralidad de seña- les analógicas del dispositivo optoelectrónico, correspondiendo las señales analógicas a las condiciones de operación del disposi- tivo optoelectrónico, convertir las señales analógicas recibidas en valores digitales, y almacenar los valores digitales en localizacio- nes representadas en la memoria predefinidas dentro de la memo- ria; una lógica de comparación (131) configurada para comparar los valores digitales con valores límite para generar valores de bandera, en el que los valores de bandera son almacenados en lo- calizaciones de almacenamiento de banderas representadas en la memoria predefinidas dentro de la memoria durante la operación del dispositivo optoelectrónico; y una interfaz (121) configurada para permitir a un dispositivo principal leer de las localizaciones representadas en la memoria especificas del dispositivo principal dentro de la memoria, que incluyen las localizaciones de almace- namiento de banderas representadas en la memoria predefinidas, de acuerdo con comandos recibidos desde el dispositivo princi- pal.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: FINISAR CORPORATION.

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: 1308 MOFFETT PARK DRIVE,SUNNYVALE, CA 95060-1133.

Inventor/es: ARONSON, LEWIS B., HOSKING, LUCY G.

Fecha de Publicación: 16 de Mayo de 2007.

Fecha Concesión Europea: 25 de Octubre de 2006.

Clasificación Internacional de Patentes:

H04B10/24

Clasificación PCT:

G01M11/00 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01M ENSAYO DEL EQUILIBRADO ESTATICO O DINAMICO DE MAQUINAS O ESTRUCTURAS; ENSAYO DE ESTRUCTURAS O APARATOS, NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR. › Ensayo de aparatos ópticos; Ensayo de aparatos y estructuras por métodos ópticos, no previstos en otro lugar.
H01S5/042 ELECTRICIDAD. › H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS. › H01S DISPOSITIVOS QUE UTILIZAN EL PROCESO DE AMPLIFICACION DE LUZ MEDIANTE EMISION ESTIMULADA DE RADIACIÓN [LASER] PARA AMPLIFICAR O GENERAR LUZ; DISPOSITIVOS QUE UTILIZAN EMISION ESTIMULADA DE RADIACION ELECTROMAGNETICA EN RANGOS DE ONDA DISTINTOS DEL ÓPTICO. › H01S 5/00 Láseres de semiconductor (diodos superluminiscentes H01L 33/00). › Excitación eléctrica.
H01S5/068 H01S 5/00 […] › Estabilización de los parámetros de salida del láser (H01S 5/0625 tiene prioridad).
H04B10/08
H04B10/152
H04B10/28

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