APARATO OPTICO DE MEDICION DE SUPERFICIES DE FORMA LIBRE Y METODO ASOCIADO.
Aparato de medición de superficie para medir una posición en una superficie de un elemento a montar en el mismo,
que comprende: - un bastidor de medición que comprende un soporte para montar el elemento a medir; - una plataforma que comprende un dispositivo giratorio, pudiendo moverse la plataforma, como mínimo, en una primera dirección con respecto a dicho bastidor de medición; y - un dispositivo de medición de distancia sin contacto para medir en dicha primera dirección una distancia entre dicho bastidor de medición y una superficie de medición predeterminada dispuesta en dicho dispositivo giratorio, - comprendiendo además dicho dispositivo giratorio: - un segundo dispositivo de medición de distancia, para medir en una segunda dirección una segunda distancia entre dicho dispositivo y una posición seleccionada en una superficie de un elemento montado con respecto a dicho bastidor de medición; y - un dispositivo de medición de giro para medir un ángulo de giro entre dichas primera y segundadirecciones.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST-NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO.
Nacionalidad solicitante: Países Bajos.
Dirección: SCHOEMAKERSTRAAT 97,2628 VK DELFT.
Inventor/es: HENSELMANS,RENS, ROSIELLE,PETRUS,CAROLUS,JOHANNES,NICOLAAS.
Fecha de Publicación: .
Fecha Concesión Europea: 21 de Febrero de 2007.
Clasificación PCT:
- G01B21/04 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 21/00 Disposiciones de medida o sus detalles en caso de no adaptarse a los tipos particulares de medios de medida de los otros grupos de esta subclase. › mediante la medida de coordenadas de puntos.
- G01B21/20 G01B 21/00 […] › para la medida de contornos o curvaturas, p. ej. determinación de perfiles.
- G01B9/02 G01B […] › G01B 9/00 Instrumentos según se especifica en los subgrupos y caracterizados por la utilización de medios de medida ópticos (disposiciones para la medida de parámetros particulares G01B 11/00). › Interferómetros.
- G01M11/02 G01 […] › G01M ENSAYO DEL EQUILIBRADO ESTATICO O DINAMICO DE MAQUINAS O ESTRUCTURAS; ENSAYO DE ESTRUCTURAS O APARATOS, NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR. › G01M 11/00 Ensayo de aparatos ópticos; Ensayo de aparatos y estructuras por métodos ópticos, no previstos en otro lugar. › Ensayos de las propiedades ópticas.
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