APARATO ANALIZADOR DE PARTICULAS PARA DETERMINAR LAS PROPIEDADES DE PARTICULAS.

1. Aparato analizador de partículas para determinar las propiedades de partículas,

incluyendo dicho aparato analizador de partículas un recipiente 12 destinado a contener una suspensión líquida 14 de las partículas que han de ser analizadas, una primera cámara de contención de líquido 96, un director de circulación 74 que tiene un agujero 78, que constituye un paso para el líquido entre dicho recipiente y dicha primera cámara, una segunda cámara de contención de líquido 122, un dispositivo de orificio 66 que incluye un orificio de detección 68, que forma un paso limitado para líquidos y para la electricidad entre dicha primera cámara y dicha segunda cámara, un dispositivo de 34 y 35 para hacer pasar una corriente eléctrica a través de dicho orificio de detección con el fin de generar señales eléctricas detectables al paso de las partículas a través de dicho orificio de detección, un dispositivo de desplazamiento de fluido 130-154, para crear una pérdida de carga a través de dicho orificio de detección con el fin de desplazar una cantidad de líquido desde dicha primera cámara hasta dicha segunda cámara, un dispositivo 124, para suministrar un liquido exento de partículas a dicha primera cámaras con el objeto de formar un recubirmiento líquido alrededor de una cierta cantidad de dicha suspensión líquida procedente de dicho director de circulación caracterizado porque dicho director de circulación 74, y su agujero 78, están realizados y dispuestos de tal manera que se forma una pérdida de carga sustancialmente constante a través de dicho director de circulación para desplazar dicha cantidad de suspensión líquida desde dicho recipiente hasta dicha primera cámara, y para que dicha pérdida de carga sustancialmente constante establezca un caudal de circulación sustancialmente constante de dicha suspensión líquida a través de dicho orificio de detección.
2. Aparato analizador de partículas según la reivindicación 1, caracterizado porque dicho agujero 78 de dicho director de circulación 74 tiene una configuración alargada dimensionada para crear una resistencia a la circulación de los fluidos con el fin de limitar la circulación de dicha cantidad de dicha supensión a través de dicho agujero, con lo cual dicha resistencia a la circulación de los fluidos limita suficientemente la circulación que la atraviesa a un caudal de circulación deseado para permitir que dicha pérdida de carga a través de dicho director de circulación tenga una magnitud que puede ser regulada y medida.
3. Aparato analizador de partículas según la reivindicación 1 ó 2, caracterizado porque dicho director de circulación 74, está construido y dispuesto para presentar a través de él una pérdida de carga de por lo menos 25, 4 mm de mercurio (1 pulgada de mercurio).
4. Aparato analizador de partículas según una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 3, caracterizado porque dicho director de circulación 74, está montado en un soporte de director 76, montado de manera amovible entre dicho recipiente y dicha primera cámara.
5. Aparato analizador de partículas según una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 4, caracterizado porque incluye un soporte de director 76, que define una pared entre dicho recipiente 12 y dicha primera cámara 96, y que lleva montado en él un director de circulación 74; dicho dispositivo que hace pasar una corriente eléctrica a través de dicho orificio de detección incluye un primer electrodo 35, dispuesto en dicho recipiente; un segundo electrodo 34, dispuesto en dicha segunda cámara; un tercer electrodo 34, dispuesto en dicha segunda cámara; un tercer electrodo 103, 104, 105 montado en dicho soporte de director; teniendo dicho tercer electrodo una parte 104 que permite que el fluido comunique con dicha primera cámara, con lo cual dicho tercer electrodo constituye una derivación eléctrica respecto a dicho paso de líquido formado por dicho director de circulación.
6. Aparato analizador de particulas según la reivindicación 5, caracterizado porque dicho tercer electrodo 103, 104, 105, tiene una resistencia eléctrica sustancialmente inferior a la resistencia eléctrica de dicho paso de líquido formado por dicho agujero de dirección.
7. Aparato analizador de partículas según una cualquiera de las reivindicaciones 4 a 6, caracterizado porque dicho soporte de director 76, tiene la configuración de un disco con una periferia circular, dicha periferia está provista de hilos de rosca 96, formandos en ella para permitir el acoplamiento giratorio con dichos hilos de rosca de dicho soporte de director.
8. Aparato analizador de partículas, según una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 7, caracterizado porque dicho director de circulación 74, está hecho con un material ópticamente transparente, y tiene un par de superficies de lente óptica 80, 82, estando alineadas dichas superficies de lente óptica y dicho orificio de detección 68 coaxialmente en un eje óptico.
9. Aparato analizador de partículas según la reivindicación 8, caracterizado porque cada superficie de lente óptica 80, 82 tiene una configuración plana.
10. Aparato analizador de partículas para determinar las propiedades de partículas.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: COULTER ELECTRONICS, INC..

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: 590 WEST 20TH STREET - HIALEAH, FLORIDA 33010, EE.UU..

Fecha de Solicitud: 6 de Octubre de 1983.

Fecha de Publicación: .

Fecha de Concesión: 27 de Junio de 1984.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N15
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