6 inventos, patentes y modelos de SANCHEZ-BREA,LUIS MIGUEL
Dispositivo optoelectrónico y métodos para determinar parámetros ópticos de una lente o un sistema de lentes.
Sección de la CIP Física
(09/02/2017). Solicitante/s: UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID. Clasificación: G01M11/02.
Dispositivo optoelectrónico y métodos para determinar parámetros ópticos de una lente o un sistema de lentes.
La presente invención se refiere a un dispositivo optoelectrónico para determinar parámetros ópticos de una lente, un sistema de lentes o un sistema óptico formador de imágenes 5, como son la posición de los planos principales y de los planos focales y las distancias focales, y a métodos para determinar estos parámetros. El dispositivo comprende un elemento de colimación 2, una red de difracción 4 de periodo p conocido, un sistema de detección 6, que puede ser una matriz de fotodetectores lineal o bidimensional CCD o CMOS, uno o más elementos de procesamiento de datos 7 y un dispositivo de desplazamiento 8, por ejemplo un motor lineal, para desplazar el sistema de detección 6 a lo largo del eje óptico del dispositivo. La lente, sistema de lentes o sistema óptico formador de imagen incógnita 5 se coloca entre la red de difracción 4 y el sistema de detección 6.
PDF original: ES-2600503_A1.pdf
PDF original: ES-2600503_B2.pdf
DISPOSITIVO OPTO-ELECTRÓNICO Y MÉTODO PARA COLIMAR Y DETERMINAR EL GRADO DE COLIMACIÓN DE UN HAZ DE LUZ.
Sección de la CIP Física
(15/09/2016). Solicitante/s: UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID. Clasificación: G01B11/00, G01T1/29, G02B27/30, G02B23/10.
La presente invención se refiere a un dispositivo opto-electrónico para determinar el grado de colimación de un haz de luz que, mediante la incorporación de un elemento de colimación 2, también puede utilizarse para colimar haces. El dispositivo comprende una red de difracción 3, una máscara 5 que incluye una multiplicidad de ventanas 4 cada una de ellas con una red de difracción, estando las redes de difracción de las ventanas 4 desfasadas entre sí, una matriz 7 de fotodetectores 8 cuyo numero puede ser igual o mayor al número de ventanas 4 de la máscara 5 o bien pueden estar ubicados en una matriz con distribución bidimensional (CMOS o CCD) y uno o más elementos de procesamiento de datos 8. La invención también incluye métodos para determinar el grado de colimación de un haz de luz o para colimar un haz.
Métodos y dispositivos optoelectrónicos para colimar y/o para determinar el grado de colimación de un haz de luz.
(03/11/2015) Métodos y dispositivos optolectrónicos para colimar y/o determinar el grado de colimación de un haz de luz.
La invención se refiere a un método para determinar el grado de colimación de un haz de luz y a un método para colimar un haz de luz mediante el cálculo de los periodos de dos autoimágenes, o más, generadas por una red de difracción a distancias diferentes.
Además, incluye dispositivos optoelectrónicos diseñados para llevar a cabo ambos métodos. Los distintos dispositivos comprenden una red de difracción , uno o varios sistemas de fotodetección y un dispositivo electrónico de procesamiento de datos . Cuando se incluye un único sistema de fotodetección, se obtienen dos o más autoimágenes mediante espejos o mediante la inclinación del sistema de fotodetección con respecto al eje óptico del…
Dispositivo opto-electrónico y métodos para colimar y determinar el grado de colimación de un haz de luz.
(14/07/2015) Dispositivo opto-electrónico y métodos para colimar y determinar el grado de colimación de un haz de luz.
La presente invención se refiere a un dispositivo opto-electrónico para determinar el grado de colimación de un haz de luz que, mediante la incorporación de un elemento de colimación 2, también puede utilizarse para colimar haces. El dispositivo comprende una red de difracción 3, una máscara 5 que incluye una multiplicidad de ventanas 4 cada una de ellas con una red de difracción, estando las redes de difracción de las ventanas 4 desfasadas entre sí, una matriz 7 de fotodetectores 6 cuyo número puede ser igual o mayor al número de ventanas 4 de la máscara 5 o bien pueden estar ubicados en una matriz con distribución bidimensional (CMOS o CCD) y uno o más elementos de procesamiento de datos 8. La invención también incluye métodos…
SENSOR OPTICO DE LA POSICION ABSOLUTA, CON UN FOTODETECTOR DE IMAGEN.
Sección de la CIP Física
(16/09/2005). Ver ilustración. Solicitante/s: FAGOR, S.COOP.. Clasificación: G01D5/347.
Sensor óptico de la posición absoluta de un objeto móvil, mediante el uso de una única pista de graduación pseudoaleatoria representando un código (Rm) binario, y un solo fotodetector con una sola formación lineal de fotodiodos (K1- Kn) cuyo paso "p" es ligeramente diferente del paso "p" de la graduación codificada. Las franjas de luz obtenidas como imagen sobre el fotodetector , son convertidas a una señal digital de puntos de intensidad de luz o "pixels" de lectura de la graduación , para introducir fotodiodos (Kf) ficticios en el fotodetector y establecer una correspondencia unívoca entre marcas de graduación y "pixels". Para la determinación de una medida de la posición absoluta (Xabs) son combinados los valores entero (Xente) y fraccionario (Xfrac) determinados mediante un procesador de señales del sensor siguiendo procesos paralelos.
DISPOSITIVO PARA LA DETECCION DE DEFECTOS SUPERFICIALES SOBRE CILINDROS.
Sección de la CIP Física
(16/12/2004). Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID. Clasificación: G01N21/952, G01B11/30.
Dispositivo para la detección de defectos superficiales sobre cilindros. El objetivo del invento es la realización de un dispositivo optoelectrónico sin contacto para la detección, distinción y ubicación espacial de estructuras o defectos superficiales. El sistema desarrollado se compone de tres unidades: a) unidad de iluminación, b) unidad de captación y c) unidad de procesado de la señal. Es aplicable a cilindros, cables o, en general, a hilos metálicos. En este caso particular denominamos estructura superficial a toda variación de la topografía respecto a la forma cilíndrica.
