7 inventos, patentes y modelos de ROYO ROYO,SANTIAGO

Sistema y método para escanear una superficie y programa de ordenador que implementa el método.

(24/10/2014) Sistema y método para escanear una superficie y programa de ordenador que implementa el método. El sistema comprende:- medios para iluminar, con un haz de luz (Be), diferentes sub-áreas (Si) de una superficie (S), de manera alternada, y -- medios para recibir y detectar las porciones de luz reflejada (Br) en las mismas, que incluyen: - uno o más detectores de luz (D); y - unos medios de redirección de luz que incluyen una cuadrícula (Qr) de elementos de redirección de luz (GM), que reciben las porciones de luz reflejada (Br) y las redirigen, de manera secuencial, hacia el detector o detectores de luz (D). El método está adaptado para realizar las funciones llevadas a cabo por el sistema de la invención. El programa de ordenador implementa el método de la invención.

SISTEMA Y MÉTODO PARA ESCANEAR UNA SUPERFICIE Y PROGRAMA DE ORDENADOR QUE IMPLEMENTA EL MÉTODO.

Sección de la CIP Física

(21/08/2014). Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSITAT POLITECNICA DE CATALUNYA. Clasificación: G01S17/89.

El sistema comprende: - medios para iluminar, con un haz de luz (Be), diferentes sub-áreas (Si) de una superficie (S), de manera alternada, y - medios para recibir y detectar las porciones de luz reflejada (Br) en las mismas, que incluyen: - uno o más detectores de luz (D); y - unos medios de redirección de luz que incluyen patrón de distribución espacial determinado (Qr) de elementos de redirección de luz (GM), que reciben las porciones de luz reflejada (Br) y las redirigen, de manera secuencial, hacia el detector o detectores de luz (D). El método está adaptado para realizar las funciones llevadas a cabo por el sistema de la invención. El programa de ordenador implementa el método de la invención.

Sistema y método de medida del desplazamiento transversal de un eje físico giratorio.

(26/07/2013) Sistema y método de medida del desplazamiento transversal de un eje físico giratorio. El sistema comprende: - unos detectores ópticos (Dm1, Dm2) dispuestos para detectar, sin contacto, el acercamiento/alejamiento del eje físico giratorio (E) respecto a dos correspondientes puntos predeterminados; y - un sistema electrónico (S) en conexión con los detectores ópticos (Dm1, Dm2), y previsto para procesar las señales eléctricas (SDm1, SDm2) provenientes de los mismos con el fin de determinar el desplazamiento transversal del eje físico giratorio (E) y de detectar, discriminando de las mismas, una componente relativa al perfil o forma del eje físico giratorio (E). El método comprende determinar el desplazamiento…

MÉTODO Y SISTEMA PARA COMPENSAR ABERRACIONES ÓPTICAS EN UN TELESCOPIO.

(30/01/2013) Método y sistema para compensar aberraciones ópticas en un telescopio. El método está aplicado a un telescopio donde el elemento receptor de un haz primario es un dispositivo de adquisición de imágenes , y comprende utilizar un algoritmo sin sensor de procesamiento de imágenes para: a) detectar unas aberraciones ópticas que afectan al foco primario, mediante el análisis de las imágenes adquiridas por el dispositivo de adquisición de imágenes , b) calcular y generar unos primeros valores de corrección posicionales, mediante el procesamiento de los valores de las aberraciones ópticas detectadas,y comprende también una etapa c) consistente en mover, de manera controlada, al dispositivo de adquisición…

MÉTODO Y SISTEMA PARA COMPENSAR ABERRACIONES ÓPTICAS EN UN TELESCOPIO.

Sección de la CIP Física

(01/03/2012). Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSITAT POLITECNICA DE CATALUNYA. Clasificación: G02B23/06, G02B26/08.

Método y sistema para compensar aberraciones ópticas en un telescopio. El método está aplicado a un telescopio donde el elemento receptor de un haz primario es un dispositivo de adquisición de imágenes , y comprende utilizar un algoritmo sin sensor de procesamiento de imágenes para: a) detectar unas aberraciones ópticas que afectan al foco primario, mediante el análisis de las imágenes adquiridas por el dispositivo de adquisición de imágenes , b) calcular y generar unos primeros valores de corrección posicionales, mediante el procesamiento de los valores de las aberraciones ópticas detectadas, y comprende también una etapa c) consistente en mover, de manera controlada, al dispositivo de adquisición de imágenes aplicando unas señales de control adecuadas generadas a partir de dichos primeros valores de corrección posicionales. El sistema está adaptado para implementar el método propuesto.

DISPOSITIVO OPTICO Y PROCEDIMIENTO PARA LA RECONSTRUCCION Y LA COMPENSACION DEL FRENTE DE ONDAS PROVENIENTE DE UN ELEMENTO OPTICO COMPLEJO.

(27/05/2011) Dispositivo óptico y procedimiento para la reconstrucción y la compensación del frente de ondas proveniente de un elemento óptico complejo.El dispositivo óptico de compensación comprende esencialmente una fuente de luz puntual, un colimador óptico, un polarizador lineal, un elemento óptico complejo tal como una lente oftálmica progresiva, opcionalmente un prisma compensador, un divisor de haz de película delgada, un elemento óptico activo que permite modificar la fase del frente de ondas, un sistema óptico afocal reductor, un filtro óptico antidifracción de densidad neutra, un segundo divisor de haz de película delgada, un sensor de frente de ondas de muy elevado rango dinámico de medida, un sistema de inversión conectado al sensor, y un sistema de control. La invención proporciona un dispositivo de tecnología óptica que permite caracterizar de manera…

DISPOSITIVO Y PROCEDIMIENTO PARA LA MEDIDA COMPLETA DEL FRENTE DE ONDA EN SISTEMAS OPTICOS ARBITRARIOS.

(20/05/2009) Dispositivo y procedimiento para la medida completa del frente de onda en sistemas ópticos arbitarios.#La presente invención se refiere a un novedoso procedimiento de metrología óptica, y al equipo necesario, para la medida del frente de onda generado por cualquier sistema óptico.#El entorno de aplicación de dicho dispositivo, así como el procedimiento de la invención, es de especial aplicación en el campo de la fabricación de los elementos ópticos, de lentes oftálmicas y los instrumentos ópticos.#El principio de medida se basa en la determinación local de la dirección del frente de onda, de forma simultánea, en un conjunto continuo de grupos de posiciones de forma que el grupo completo de posiciones intercepta totalmente el frente de onda que se desea medir lo que permite realizar un muestreo exhaustivo del frente de onda.#Finalmente…

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