67 patentes, modelos y diseños de QINETIQ LIMITED (pag. 3)

SUPERFICIE ESPECIALIZADA.

Secciones de la CIP Técnicas industriales diversas y transportes Física

(01/05/2004). Inventor/es: LAWRENCE, CHRISTOPHER ROBERT, VUKUSIC, PETER, UNIVERSITY OF EXETER, SAMBLES, JOHN ROY, UNIVERSITY OF EXETER. Clasificación: B42D15/10, G07D7/00.

Un método para determinar si un artículo está falsificado, que comprende; (a) crear de una superficie de capas múltiples texturizada ; (b) determinar de las características de reflexión de la superficie , en la que dicha reflexión se debe a múltiples reflexiones desde las intercaras de las múltiples capas de dicha superficie; (c) comparar de estas con las características esperadas para determinar si la superficie está falsificada.

BOLOMETRO CON UNA ESTRUCTURA DE MICROPUENTE.

Sección de la CIP Física

(16/10/2003). Inventor/es: GILLHAM, JOHN PETER, WATTON, REX, ALDERMAN, JOHN CHARLES. Clasificación: G01J5/20.

Un bolómetro que comprende una estructura de micropuente que posee un substrato encima del cual se prevé un elemento de soporte , dispuesto para absorber la radiación incidente, y en el lado inferior del elemento de soporte se ha colocado un material sensible resistivo dispuesto para cambiar su resistencia en respuesta a la radiación incidente, estando soportado el material incidente encima del substrato por el elemento de soporte, pero conectado en regiones de conexión a pistas sobre el substrato, y en el que el elemento de soporte está formado por una única capa de material.

SISTEMA DE PRODUCCION DE IMAGENES TRIDIMENSIONALES.

Sección de la CIP Física

(16/06/2003). Inventor/es: GREENAWAY, ALAN, HOWARD, BLANCHARD, PAUL, MICHAEL. Clasificación: G11B7/135, G02B5/18, G02B27/00, G02B5/32, G02B27/10.

Un aparato para producir simultáneamente una pluralidad de imágenes separadas espacialmente, que comprende: un sistema óptico dispuesto para producir una imagen asociada a una primera función óptica de transferencia; una rejilla de difracción dispuesta para producir, en concierto con el sistema óptico, imágenes asociadas con cada orden de difracción; módulos ópticos auxiliares que funcionan en órdenes de difracción individuales y medios para detectar las imágenes, en donde el sistema óptico y la rejilla de difracción están situados sobre un eje óptico, la rejilla de difracción está situada en un plano de rejilla adecuado y los módulos ópticos auxiliares modifican las funciones de transferencia óptica asociadas con las imágenes caracterizado porque el sistema óptico y la rejilla de difracción están dispuestos de forma tal que se hace imagen de múltiples planos objeto y cada imagen asociada con un orden de difracción corresponde a un plano objeto diferente.

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