DISPOSITIVO Y PROCEDIMIENTO DE MEDICION QUE PERMITE CARACTERIZAR SUPERFICIES POR REFLECTOMETRIA.
(16/07/2010) Dispositivo de medición de caracterización por reflectometría que comprende una fuente que emite un haz luminoso, un detector , unos medios de tratamiento y de control de este haz luminoso de manera a enfocarlo en una superficie reflectante a medir en forma de un círculo y recibirlo en este detector , unos medios de mando y de adquisición, una cámara y unos medios para representar visualmente este círculo en este detector y en esta cámara , caracterizado porque esta cámara está conectada a los medios de mando y de adquisición, de manera a realizar una puesta a punto automática del círculo en la superficie reflectante a medir y conjugar automáticamente la superficie reflectante a medir con la superficie del detector