(18/03/2020) Un aparato para escanear muestras de material, el aparato comprendiendo: una fuente de luz colimada que tiene una lente para emitir luz colimada; un segundo espejo ; múltiples primeros espejos planares, en donde la fuente luminosa es movible para iluminar directamente cada primer espejo planar de los múltiples primeros espejos planares, y en donde, para cada primer espejo planar, la iluminación directa del primer espejo planar comprende emitir luz de la lente de la fuente luminosa que se refleja por el segundo espejo para cruzar el primer espejo planar; un soporte de muestra configurado para suspender una muestra…