(16/06/1996) EN UN PROCESO PARA LA COMPROBACION DE DEFECTOS EN UNA BANDA DE TEJIDO TEXTIL, SE EXPLORA DE MODO CONTINUO LA BANDA DE TEJIDO POR MEDIO DE UN CABEZAL EXPLORADOR ELECTRO-OPTICO . EN UNA ZONA DE EXPLORACION EN FORMA DE CINTA DEL CABEZAL EXPLORADOR, RECEPTORES DE LUZ MONTADOS ESTAN REUNIDOS POR GRUPOS Y EMITEN SEÑALES DE DEFECTOS ESPECIFICOS DE LOS GRUPOS. ESTAS SEÑALES DE DEFECTOS SE EVALUAN EN VARIAS DIMENSIONES PARA RECONOCIMIENTO DE DEFECTOS DE PUNTOS Y/O DE LONGITUDES, PARA LO CUAL SE EVALUAN COMO CRITERIOS DE VALORACION LAS AMPLITUDES DE LA SEÑAL, LAS LONGITUDES DE LA SEÑAL, LA FRECUENCIA DE APARICION DE LAS SEÑALES Y SU REPETICION PERIODICA EN CADA REVOLUCION DE LA MAQUINA. DEPENDIENTE DEL RESULTADO DE LA VALORACION SE GOBIERNAN LOS DISPOSITIVOS VISUALIZADORES , LOS DE CONTROL…