CIP-2021 : G01Q 60/34 : Modo de contacto intermitente.
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G FISICA.
G01 METROLOGIA; ENSAYOS.
G01Q TECNICAS O APARATOS DE SONDA DE BARRIDO; APLICACIONES DE TECNICAS DE SONDA DE BARRIDO, p. ej. MICROSCOPIA POR SONDA DE BARRIDO [SMP].
G01Q 60/00 Tipos particulares de microscopía por sonda de barrido [SPM] o aparatos empleados; Componentes esenciales al efecto.
G01Q 60/34 · · · Modo de contacto intermitente.
CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.
MÉTODO DINAMICO DE MICROSCOPÍA DE FUERZAS Y MICROSCOPIO PARA ADQUIRIR DE FORMA SIMULTANEA IMÁGENES DE TOPOGRAFIA Y MAPAS DE FUERZA.
(28/11/2019). Solicitante/s: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS. Inventor/es: GARCIA GARCIA,RICARDO, ALVAREZ AMO,Carlos.
Método dinámico de microscopía de fuerzas para adquirir imágenes de superficies, determinar de forma directa la fuerza ejercida sobre un material que permite, además, cuantificar las propiedades no topográficas, basado en excitar la micropalanca de un microscopio de fuerzas a una frecuencia menor que la frecuencia de resonancia y mantener constantes la amplitud de oscilación de la misma y la fuerza que se ejerce sobre la superficie mientras se adquiere una imagen.
MÉTODO DINÁMICO DE MICROSCOPIA DE FUERZAS Y MICROSCOPIO PARA
ADQUIRIR DE FORMA SIMULTÁNEA IMÁGENES DE TOPOGRAFIA Y MAPAS DE
FUERZA.
(25/11/2019). Solicitante/s: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS. Inventor/es: GARCIA GARCIA,RICARDO, ALVAREZ AMO,Carlos.
Método dinámico de microscopia de fuerzas y microscopio para adquirir de forma simultanea imágenes de topografía y mapas de fuerza.
Método dinámico de microscopia de fuerzas para adquirir imágenes de superficies, determinar de forma directa la fuerza ejercida sobre un material que permite, además, cuantificar las propiedades no topográficas, basado en excitar la micropalanca de un microscopio de fuerzas a una frecuencia menor que la frecuencia de resonancia y mantener constantes la amplitud de oscilación de la misma y la fuerza que se ejerce sobre la superficie mientras se adquiere una imagen.
PDF original: ES-2732721_A1.pdf
PROCEDIMIENTO DE CONTROL DE UN MICROSCOPIO DE BARRIDO.
(20/05/2013) Procedimiento de control de un microscopio de barrido.
Procedimiento de control con al menos dos lazos de control para un microscopio de barrido provisto de una micropalanca y un actuador adaptado para excitar la micropalanca, donde un primer lazo mantiene como variable controlada la amplitud de oscilación de la micropalanca y como variable manipulada la amplitud de la señal eléctrica introducida en el actuador y un segundo lazo usa como variable controlada amplitud de la señal eléctrica anterior y como variable manipulada la distancia punta-muestra. Gracias a este procedimiento es posible ignorar cambios de signo en la interacción punta-muestra.
PROCEDIMIENTO DE CONTROL DE UN MICROSCOPIO DE BARRIDO.
(18/04/2013). Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSIDAD AUTONOMA DE MADRID. Inventor/es: GOMEZ HERRERO,JULIO, MARTINEZ MARTIN,David, RUIZ-CASTELLANOS,Miriam Jaafar.
Procedimiento de control con al menos dos lazos de control para un microscopio de barrido provisto de una micropalanca y un actuador adaptado para excitar la micropalanca, donde un primer lazo mantiene como variable controlada la amplitud de oscilación de la micropalanca y como variable manipulada la amplitud de la señal eléctrica introducida en el actuador y un segundo lazo usa como variable controlada amplitud de la señal eléctrica anterior y como variable manipulada la distancia punta-muestra. Gracias a este procedimiento es posible ignorar cambios de signo en la interacción punta-muestra.
