(29/09/2014) Método bimodal para cuantificar propiedades no topográficas en microscopía de fuerzas, basado en modular en frecuencia y de forma simultánea al menos dos modos de vibración de la micropalanca de un microscopio, que emplea los desplazamientos de frecuencia de los modos excitados y los cambios en la fuerzas de excitación para cuantificar propiedades nanomecánicas.

(01/03/2013) Un microscopio de sonda de barrido que comprende una sonda , un accionador piezoeléctrico para hacer oscilar la sonda , un amplificador invertido que tiene una entrada de amplificador invertido, una salida de amplificador y unarama de retroalimentación entre dicha salida de amplificador y dicha entrada de amplificador invertido,caracterizado por que el accionador piezoeléctrico es accionado por una corriente de retroalimentación a travésde dicha rama de retroalimentación, y una fuente de corriente para alimentar una corriente de entrada oscilante a dicha entrada de amplificadorinvertido.