(22/02/2018). Solicitante/s: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS (CSIC). Inventor/es: PUIG MOLINA,MARIA TERESA, GICH GARCIA,Marti, OBRADORS BERENGUER,Francesc Xavier, RODRÍGUEZ GÓMEZ,Andrés, CARRETERO GENEVRIER,Adrien.

La presente invención se refiere a un microscopio piezoeléctrico de fuerza directa y a un método de formación de imágenes y/o caracterización de muestras ferroeléctricas y/o piezoeléctricas mediante el microscopio piezoeléctrico de fuerza directa . Este dispositivo y este método permiten obtener una medición cuantitativa directa de la constante piezoeléctrica en muestras piezoeléctricas y/o ferroeléctricas mediante el uso de medios amplificadores y una sonda que comprende una punta , que está adaptada para descargar todas las cargas superficiales de la muestra y tensionar un material piezoeléctrico con el fin de recoger la carga acumulada por el efecto piezoeléctríco directo.