CIP-2021 : H01L 27/02 : incluyendo componentes semiconductores especialmente adaptados para rectificación,

amplificación, generación de oscilaciones, conmutación y teniendo al menos una barrera de potencial o una barrera de superficie.; incluyendo elementos de circuito pasivos integrados con al menos una barrera de potencial o una barrera de superficie.

CIP-2021HH01H01LH01L 27/00H01L 27/02[1] › incluyendo componentes semiconductores especialmente adaptados para rectificación, amplificación, generación de oscilaciones, conmutación y teniendo al menos una barrera de potencial o una barrera de superficie.; incluyendo elementos de circuito pasivos integrados con al menos una barrera de potencial o una barrera de superficie.

H ELECTRICIDAD.

H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS.

H01L DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES; DISPOSITIVOS ELECTRICOS DE ESTADO SOLIDO NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR (utilización de dispositivos semiconductores para medida G01; resistencias en general H01C; imanes, inductancias, transformadores H01F; condensadores en general H01G; dispositivos electrolíticos H01G 9/00; pilas, acumuladores H01M; guías de ondas, resonadores o líneas del tipo guía de ondas H01P; conectadores de líneas, colectores de corriente H01R; dispositivos de emisión estimulada H01S; resonadores electromecánicos H03H; altavoces, micrófonos, cabezas de lectura para gramófonos o transductores acústicos electromecánicos análogos H04R; fuentes de luz eléctricas en general H05B; circuitos impresos, circuitos híbridos, envolturas o detalles de construcción de aparatos eléctricos, fabricación de conjuntos de componentes eléctricos H05K; empleo de dispositivos semiconductores en circuitos que tienen una aplicación particular, ver la subclase relativa a la aplicación).

H01L 27/00 Dispositivos que consisten en una pluralidad de componentes semiconductores o de otros componentes de estado sólido formados en o sobre un sustrato común (detalles H01L 23/00, H01L 29/00 - H01L 51/00; conjuntos que consisten en una pluralidad de dispositivos de estado sólido individuales H01L 25/00).

H01L 27/02 · incluyendo componentes semiconductores especialmente adaptados para rectificación, amplificación, generación de oscilaciones, conmutación y teniendo al menos una barrera de potencial o una barrera de superficie.; incluyendo elementos de circuito pasivos integrados con al menos una barrera de potencial o una barrera de superficie.

CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.

Interruptor de alimentación de bloque con protección integrada contra descargas electrostáticas (esd) y polarización adaptativa del cuerpo.

(01/07/2020) Un procedimiento de fabricación de un circuito, que comprende: formar un interruptor de alimentación que comprenda múltiples etapas conectadas en paralelo, conectar el interruptor de alimentación entre una tensión de alimentación externa (Vdd_ex) y una tensión de alimentación interna (Vdd_in) y operable para encenderse en respuesta a un par de señales de activación (en_rest, en_few), las señales de activación independientes de un evento de descarga electrostática (ESD) e independientes de una tensión de carril de fuente de alimentación externa, en el que cada etapa de las etapas múltiples está formada por un transistor de PMOS, en el…

Protección contra descargas electrostáticas para un transistor de efecto de campo sensible a iones.

(04/12/2019). Solicitante/s: DNAE GROUP HOLDINGS LIMITED. Inventor/es: BAI,HUA, GARNER,DAVID.

Dispositivo que comprende una estructura de protección contra descargas electrostáticas , un transistor de efecto de campo sensible a iones que presenta una puerta flotante que incluye al menos una capa metálica y una capa de detección situada por encima de la puerta flotante, caracterizado por que el dispositivo tiene una estructura plana en capas y la estructura de protección contra descargas electrostáticas está situada en un plano entre la capa de detección y la puerta flotante de forma que la impedancia eléctrica desde dicha capa de detección a la estructura de protección contra descargas electrostáticas es menor que la impedancia eléctrica desde dicha capa de detección a la puerta flotante, donde la estructura de protección contra descargas electrostáticas incluye una capa metálica y está acoplada a una toma de tierra eléctrica y/o a una línea de alimentación eléctrica del dispositivo.

PDF original: ES-2773941_T3.pdf

Disposición del circuito para la protección de una unidad que debe operarse desde una red de suministro contra sobretensiones.

(06/11/2019) Disposición del circuito para proteger una unidad que debe operarse desde una red de suministro contra sobretensiones con una entrada que tiene una primera y una segunda conexión de entrada conectados a la red de suministro , y una salida con una primera conexión de salida y una segunda conexión de salida, a la que se puede conectar la unidad a proteger, así como con un circuito de protección, previsto entre la primera y la segunda conexión de entrada para limitar la tensión puesta en la misma, presentando el circuito de protección una conexión en serie consistente de un diodo bidireccional (D2) o un diodo tiristor y un elemento Zener (D1) caracterizada porque el circuito de protección presenta un semiconductor de potencia (HS), en el que entre el colector y la compuerta del semiconductor de potencia se conectó la conmutación en serie consistente…

Bloques de construcción distribuidos de circuitos de fijación r-c en el área central de la pastilla semiconductora.

(26/06/2019) Un aparato, que comprende: una pastilla semiconductora que incluye un área central y un anillo de soporte; circuitos de fijación basados en temporizador configurados en el área central, con los circuitos de fijación que incluyen: una serie de bloques de condensadores, cada uno de los cuales comprende un condensador, ubicado en una primera ubicación del área central; una serie de bloques de resistencia, cada uno de los cuales comprende una resistencia, ubicada en una segunda ubicación del área central; una serie de bloques inversores, cada uno de los cuales comprende un inversor, ubicado en una tercera ubicación del área central; y una serie de inversores más bloques bigFET, cada uno de los cuales incluye un inversor…

Esquemas de interconexión posterior a la pasivación en la parte superior de los chips IC.

(26/06/2019) Una estructura de interconexión posterior a la pasivación, que comprende: uno o más circuitos internos que comprenden uno o más dispositivos activos formados en y sobre un sustrato semiconductor ; uno o más circuitos ESD formados en y sobre dicho sustrato semiconductor ; una capa de interconexiones de línea fina que comprende un sistema de metalización de línea fina, formado sobre dicho sustrato semiconductor en una o más capas delgadas de dieléctrico; una capa de pasivación sobre dicha capa de interconexiones de línea fina ; un sistema de metalización grueso y ancho que es una red de interconexión de cables anchos y gruesos formada sobre dicha capa de pasivación, en una o más capas gruesas de dieléctrico , en el que dichas capas gruesas de dieléctrico son más gruesas…

Montaje de circuito para la protección de una unidad que debe operarse desde una red de suministro contra sobretensiones.

(22/05/2019) Montaje de circuito para proteger una unidad que debe operarse desde una red de suministro contra sobretensiones con una entrada que tiene primera y segunda conexión de entrada (L; N) conectados a la red de suministro, y una salida (A), a la que se puede conectar la unidad a proteger, así como con un circuito de protección, proporcionado entre la primera y la segunda conexión de entrada (L; N) para limitar la tensión puesta en la misma, presentando circuito de protección un semiconductor de potencia (IGBT), estando además entre el colector y la puerta del semiconductor de potencia conectado al menos un elemento Zener (TVS), donde en la tensión del Zener arroja una tensión de sujeción para el semiconductor de potencia (IGBT), caracterizado porque varios elementos Zener (TVS1 a TVSn) están conectados en serie,…

Semiconductor de potencia no uniforme y método de fabricación.

(07/05/2019) Un dispositivo semiconductor transistor bipolar de puerta aislada comprendiendo: una pastilla semiconductora con un área activa comprendiendo un conjunto de celdas activas ; una primera parte del área activa compuesta por celdas (K) conforme con los primeros parámetros de diseño de celda seleccionados, donde los primeros parámetros de diseño de celda seleccionados determinan las dimensiones físicas de cada celda (K) de la primera parte del área activa , y donde la primera parte constituye la parte central del área activa ; una segunda parte del área activa compuesta por celdas (M) conforme con los segundos parámetros de diseño de celda seleccionados, donde los segundos parámetros de diseño…

Desfasador.

(30/01/2019) Un desfasador que comprende: una señal de entrada ; una señal de salida ; un circuito de protección contra descarga electrostática que comprende un primer dispositivo de dos puertos (110_1) y un segundo dispositivo de dos puertos (110_2), cada uno de los cuales es conmutable entre un estado de alta impedancia y un estado de baja impedancia; una primera trayectoria de la señal (108_1) entre la señal de entrada y la señal de salida , en el que la primera trayectoria de la señal (108_1) comprende el primer dispositivo de dos puertos (110_1) del circuito de protección contra descarga electrostática y una primera línea de retardo (112_1) configurada para proporcionar un primer desfase a una señal transmitida…

Dispositivo semiconductor de baja capacitancia.

(02/05/2018). Solicitante/s: LITTELFUSE, INC.. Inventor/es: RODRIGUES,RICHARD A.

Dispositivo de protección contra sobretensión del tipo que presenta un chip semiconductor de cuatro capas y por lo menos dos terminales, en el que la conducción se produce desde una cara de dicho chip hasta una cara opuesta de dicho chip cuando se aplica al dispositivo una tensión que supera un voltaje de transición conductiva, comprendiendo el dispositivo de protección contra sobretensión: una o más zonas enterradas de dopante formadas en una superficie de una capa semiconductora de dicho dispositivo de protección contra sobretensión, comprendiendo cada una de dichas zonas enterradas dos zonas semiconductoras unidas por una unión PN, y definiendo una concentración de impurezas de dichas zonas enterradas en parte el voltaje de transición conductiva de dicho dispositivo de protección contra sobretensión; y una capa epitaxial de material semiconductor formada sobre dicha capa semiconductora para cubrir dichas zonas enterradas.

PDF original: ES-2674724_T3.pdf

Protección de descarga electrostática de bomba de carga.

(03/06/2015) Un aparato que comprende: una pluralidad de conmutadores (M1-M6) configurados para sucesivamente acoplar y desacoplar eléctricamente los primer (C1p) y segundo (C1n) nodos de un condensador flotante a una pluralidad de nodos (Vin, Vpos, Vneg, GND), en el que la pluralidad de conmutadores comprende un primer conmutador (M5) que acopla el segundo nodo del condensador flotante a un nodo de tensión de salida negativa (Vneg), el primer conmutador está configurado para acoplar eléctricamente el segundo nodo del condensador flotante al nodo de tensión de salida negativa en respuesta a la detección de un evento de ESD entre un nodo de tensión de suministro (Vdd) y el nodo de tensión…

Disposición de iluminación por diodos.

(11/03/2015) Una disposición de iluminación por diodos (1A, 1B, 1C), que comprende - una disposición de diodos emisores de luz que comprende, al menos, dos diodos emisores de luz conectados en serie expuestos, conectados en paralelo con una disposición de diodos de protección contra descargas electrostáticas, caracterizada por - una disposición de desviación de descargas electrostáticas que se extiende próxima físicamente a una interconexión entre los diodos emisores de luz adyacentes de la disposición de diodos emisores de luz , cuya disposición de desviación está realizada para desviar una descarga electrostática (S2) desde la interconexión hasta una zona de bajo potencial…

Configuración de memoria de acceso aleatorio magnética (MRAM) con patrón uniforme.

(09/07/2014) Una matriz de memoria, que comprende: un patrón de células binarias adyacentes de tamaño uniforme; y caracterizado por comprender: un conjunto de circuitos de distribución de señales configurado para ofrecer un área con un volumen total coincidente con un volumen total de un número entero de las células binarias de tamaño uniforme.

SISTEMA PARA PROTEGER CIRCUITOS INTEGRADOS.

(07/03/2012) Un método para añadir una capa adicional a un circuito integrado , el método comprende: proporcionar un circuito integrado que tenga una capa de interconexión : depositar, sustancialmente sobre toda una superficie expuesta del circuito integrado , una capa adicional de material cuya conductividad puede ser alterada; y producir un subcircuito en la capa adicional , estando el subcircuito en comunicación eléctrica operativa con el circuito integrado , en el que el paso de producción comprende una de las acciones siguientes: (a) Dopar en alfombra la capa adicional y alterar selectivamente la conductividad de una primera porción de la capa adicional mediante recocido selectivo; y (b) dopar selectivamente sólo la primera porción de la capa adicional de material, y alterar selectivamente la conductividad de…

FUNDENTE Y PROCEDIMIENTO PARA GALVANIZACION POR INMERSION EN CALIENTE.

(01/06/2007). Solicitante/s: GALVA POWER GROUP N.V. Inventor/es: WARICHET, DAVID, VAN HERCK, KAREL, VAN LIERDE, ANDRE, GERAIN, NATHALIE, MATTHIJS, EDWARD.

Fundente para la galvanización por inmersión en caliente que comprende de: - 60 a 80% en peso de cloruro de Zinc (ZnCl2); - 7 a 20% en peso de cloruro amónico (NH4Cl); - 2 a 20% en peso de por lo menos una sal de metal alcalino o alcalinotérreo; - 0, 1 a 5% en peso de por lo menos uno de entre los compuestos siguientes: NiCl2, CoCl2, MnCl2; y - 0, 1 a 1, 5% en peso de por lo menos uno de entre los compuestos siguientes: PbCl2, SnCl2, BiCl3, SbCl3.

CIRCUITO ELECTRONICO INTEGRADO QUE COMPRENDE UN OSCILADOR Y ELEMENTOS DE CIRCUITO PASIVOS.

(16/10/2006). Ver ilustración. Solicitante/s: AVANCERADE LOGIKMASKINER AB. Inventor/es: AHLM, ROGER.

Un circuito electrónico integrado que comprende un elemento de retardo formado por un conductor eléctrico y al menos un componente electrónico activo conectado a dicho conductor eléctrico , en el que dicho conductor está formado de manera que se minimiza su inductancia, es decir, en un bucle con secciones conductoras paralelas para que las direcciones de la corriente en secciones conductoras adyacentes sean opuestas entre sí, y dicho conductor está formado por un material conductor sobre una capa aislante , caracterizado porque la capa aislante está rodeada por material semiconductor y el espesor de la capa aislante supera los 10 ìm para proporcionar un acoplamiento de baja capacidad entre el conductor y el material semiconductor circundante.

PUENTE DE CONEXION (FUSIBLE) SEPARABLE E INTERRUPCION DE LA LINEA (ANTI-FUSIBLE) CONECTABLE ASI COMO PROCEDIMIENTO PARA LA FABRICACION Y ACTIVACION DE UN FUSIBLE Y DE UN ANTI-FUSIBLE.

(01/02/2004). Ver ilustración. Solicitante/s: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Inventor/es: POCKRANDT, WOLFGANG, WINNERL, JOSEF, ZETTLER, THOMAS, GEORGAKOS, GEORG.

LA INVENCION TRATA DE UN PUENTE DE UNION SEPARABLE (FUSE) CON UNA PISTA DE CONDUCTORES ELECTRICAMENTE CONDUCTORA, QUE ESTA CONFIGURADA EN UN SUSTRATO (2, 2A) HECHO DE UN MATERIAL SEMICONDUCTOR DE UN PRIMER MODO DE CONDUCTIVIDAD, QUE ES CONTINUA EN EXTENSION LONGITUDINAL Y QUE MUESTRA EN TRANSVERSAL RESPECTO A LA EXTENSION LONGITUDINAL UN DETERMINADO ANCHO, MOSTRANDO UN SEGUNDO MODO DE CONDUCTIVIDAD OPUESTO AL PRIMER MODO DE CONDUCTIVIDAD, TENIENDO EL MATERIAL SEMICONDUCTOR DEL PRIMER MODO DE CONDUCTIVIDAD UNA CONCENTRACION TAL CON RESPECTO AL MATERIAL DE LA PISTA DE CONDUCTORES QUE, A UNA TEMPERATURA DE ACTIVACION PREDETERMINADA QUE ES MAYOR QUE LA TEMPERATURA DE FUNCIONAMIENTO DEL PUENTE DE UNION , TIENE LUGAR UNA INTERRUPCION POR TODO EL ANCHO (M) DE LA PISTA DE CONDUCTORES DEBIDO A LA DIFUSION DEL MATERIAL SEMICONDUCTOR DEL PRIMER MODO DE CONDUCTIVIDAD Y/O DEL MATERIAL DE LA PISTA DE CONDUCTORES DEL SEGUNDO MODO DE CONDUCTIVIDAD.

CIRCUITO INTEGRADO REGULADOR DE LA TENSION DE CARGA DE UNA BATERIA A TRAVES DE UN ALTERNADOR ESPECIALMENTE PARA VEHICULOS AUTOMOVILES.

(16/11/2003). Solicitante/s: VALEO EQUIPEMENTS ELECTRIQUES MOTEUR. Inventor/es: PIERRET, JEAN-MARIE.

LA INVENCION SE REFIERE A UN CIRCUITO INTEGRADO PARA REGULAR LA EXCITACION DE UN ALTERNADOR DE VEHICULO AUTOMOVIL. EL CIRCUITO COMPRENDE UN TRANSISTOR CON EFECTO DE CAMPO (MOS), UNA UNIDAD DE CONTROL QUE CONTROLA EL TRANSISTOR CON EFECTO CAMPO, UN DIODO DE RUEDA LIBRE (DRL) Y UNA RESISTENCIA INTEGRADA (R) ENTRE EL DIODO DE RUEDA LIBRE (DRL) Y UN TERMINAL DE SALIDA (OU). SEGUN LA INVENCION, ESTANDO EL CIRCUITO INTEGRADO REALIZADO CON TECNOLOGIA HORIZONTAL, LA RESISTENCIA (R) SE REALIZA EN UNA BOLSA DE UN CIERTO TIPO DE CONDUCTIVIDAD (N) QUE PERTENECE AL DIODO DE RUEDA LIBRE Y LLEVA AL MENOS UNA CAJA RESISTIVA DE ESTE MISMO TIPO (N++), ALOJADA PARCIALMENTE EN AL MENOS UNA CAJA DE AISLAMIENTO ASOCIADA DE OTRO TIPO DE CONDUCTIVIDAD Y SEPARADA DE DICHO SUSTRATO. CADA CAJA RESISTIVA ESTA CONECTADA EN UN EXTREMO AL TERMINAL DE SALIDA (OUT), Y A DISTANCIA DE DICHO EXTREMO, A DICHA BOLSA . APLICACION EN LA MEJORA DEL COMPORTAMIENTO DEL CIRCUITO EN LAS INVERSIONES ACCIDENTALES DE POLARIDAD.

CIRCUITO INTEGRADO AISLADO TERMICAMENTE.

(16/11/2002). Ver ilustración. Solicitante/s: HONEYWELL INC.. Inventor/es: DRIES, MICHAEL, F., ROISEN, ROGER, L.

EN UN CIRCUITO TERMICAMENTE AISLADO FORMADO SOBRE UN SEMICONDUCTOR SOBRE UNA ESTRUCTURA AISLANTE QUE INCLUYE UN SEMICONDUCTOR RODEADO POR UNA PORCION EXTERIOR DE SEMICONDUCTOR CON UN AISLADOR ENTRE MEDIAS, UNA CAVIDAD FORMADA EN EL SUBSTRATO DE SEMICONDUCTOR SUBYACENTE OPUESTO AL ISLOTE ASEGURA UN AISLAMIENTO TERMICO.

CIRCUITO INTEGRADO PROTEGIDO CONTRA DESCARGAS ELECTROSTATICAS, CON UMBRAL DE PROTECCION VARIABLE.

(01/12/2000) EL INVENTO CONCIERNE A LA PROTECCION DE CIRCUITOS INTEGRADOS CONTRA DESCARGAS ELESTROSTATICAS. PARA ASEGURAR UNA PROTECCION TANTO EFICAZ COMO POSIBLE CONTRA LAS DESCARGAS ELECTROSTATICAS POR APLICACION EN ALUD DE UN DIODO (D) SIN QUE UNAS SOBRETENSIONES DE ORIGEN NO ELECTROSTATICO NO DESCONECTEN INTEMPESTIVAMENTE ESTA APLICACION EN ALUD, EL INVENTO PROPONE LA SOLUCION SIGUIENTE: POR UNA REJILLA AISLADA (G) RODEANDO EL CATODO DEL DIODO (D), SE MODIFICA EL UMBRAL DE PASO EN ALUD DEL DIODO EN FUNCION DEL DECLIVE DE LAS SOBRETENSIONES QUE SE PRESENTAN EN EL BORNE (B) A PROTEGER. LA REJILLA (G) ESTA UNIDA AL BORNE (B) POR UN CIRCUITO INTEGRADOR (R, C) DE TAL FORMA QUE LAS SOBRETENSIONES SON APLICADAS A LA REJILLA CON UN CIERTO RETRASO, INDUCIENDO ENTRE CATODO Y REJILLA UNA DIFERENCIA…

CIRCUITO INYECTOR DE CARGA DE ALTA VELOCIDAD Y BAJA DERIVA.

(01/07/2000) UN DISPOSITIVO PARA CONVERTIR PULSOS LOGICOS BINARIOS EN CORRIENTE DE SALIDA Y SIENDO LA CORRIENTE DE SALIDA CONMUTABLE ENTRE POLARIDAD POSITIVA Y NEGATIVA. EL DISPOSITIVO PROPORCIONA UN CIRCUITO DE BOMBEO DE CARGA QUE ES ADECUADO PARA LA ETAPA DETECTOR DE FASE EN UN CIRCUITO DE LAZO DE FASE CERRADA (PLL). EL CIRCUITO DE BOMBEO DE CARGA CONSTA DE UNA ETAPA DE ENTRADA PARA LOS PULSOS LOGICOS BINARIOS "UP" Y UNA SEGUNDA ETAPA PARA LOS PULSOS LOGICOS BINARIOS "DOWN". LAS ETAPAS DE ENTRADA CONSTAN DE PARES DE TRANSISTORES EMITIDOSACOPLADOS. EL CIRCUITO INCLUYE FUENTES DE CORRIENTE Y SUMIDEROS DE CORRIENTE PARA GENERAR LA CORRIENTE DE SALIDA EN LAS ETAPAS DE ENTRADA EN RESPUESTA A LOS…

DISPOSITIVO DE SEGURIDAD ACTIVA CON MEMORIA ELECTRONICA.

(16/12/1998). Solicitante/s: SCHLUMBERGER INDUSTRIES S.A.. Inventor/es: RHELIMI, ALAIN.

LA PRESENTE INVENCION SE REFIERE A UN DISPOSITIVO DE SEGURIDAD QUE CONTIENE INFORMACIONES SECRETAS, DEL TIPO QUE COMPRENDE UNA ZONA DE MEMORIA DE UN CIRCUITO INTEGRADO QUE RECIBE DICHAS INFORMACIONES Y MEDIOS DE PROTECCION QUE RECUBREN SOLIDARIAMENTE AL MENOS LA ZONA DE MEMORIA. LOS MEDIOS DE PROTECCIONES ESTAN CONSTITUIDOS POR AL MENOS UN SEGUNDO CIRCUITO INTEGRADO . EL DISPOSITIVO COMPRENDE ADEMAS MEDIOS DE CONEXION (9,9') INTERACTIVOS ENTRE LOS DOS CIRCUITOS INTEGRADOS, Y MEDIOS DE DESTRUCCION DE LAS INFORMACIONES SECRETAS EN CASO DE RUPTURA O PERTURBACION DE LA CONEXION.

ETAPA FINAL DE TRANSMISOR INTEGRADA MONOLITICAMENTE.

(16/10/1997). Solicitante/s: ROBERT BOSCH GMBH. Inventor/es: KIENZLER, RAINER, FLEISCHER, ULRICH, ELBRACHT, BERTHOLD.

SE PROPONE UNA ETAPA FINAL TRANSMISORA PARA UN SISTEMA DE TRANSMISION DE DATOS QUE ABARCA POR LO MENOS UNA UNIDAD DE CONTROL Y LINEAS DE TRANSMISION DE DATOS, EN PARTICULAR PARA UN SISTEMA DE BUS-CAN QUE COMPRENDE POR LO MENOS UN CONTROLADOR CAN Y UN BUS-CAN (CB), EL CUAL SE CARACTERIZA PORQUE LOS ELEMENTOS DE CONEXION INDIVIDUALES ESTAN INTEGRADOS MONOLITICAMENTE. POR LA DISPOSICION ESPECIAL Y POR LA DISPOSICION TECNICA DE CONMUTACION DE LOS DIFERENTES ELEMENTOS (3,5; R1,D1,T1; R2,D2,T2; D10,D20) DE LA ETAPA FINAL TRANSMISORA, SE REDUCEN A UN MINIMO LAS REPERCUSIONES DE INTERFERENCIAS, POR EJEMPLO, DE CORTOCIRCUITOS DE LAS LINEAS DE DATOS CONTRA MASA O CONTRA LAS TENSIONES DE ALIMENTACION. POR ELLO SE ALCANZAN MEDIANTE LA SELECCION ESPECIAL DE LOS PRE-EXCITADORES TIEMPOS DE RETARDO MINIMOS, DE FORMA QUE SE PUEDEN TRANSMITIR SEÑALES CON ELEVADAS TASAS DE DATOS.

TRANSISTOR DE CANAL-P.

(01/10/1997). Solicitante/s: ROBERT BOSCH GMBH. Inventor/es: BYRNE, GERARD.

SE PROPONE UN TRANSISTOR DE CANAL P CON UN ELECTRODO = DE DRENAJE, ELECTRODO DE FUENTE Y UN ELECTRODO DE BULK, POR LO QUE EL ELECTRODO DE DRENAJE Y EL ELECTRODO DE FUENTE SE CONFORMAN COMO "REGION P" EN UNA BANDEJA-N Y LA BANDEJA SE COLOCA EN LA REGION P AMBIENTAL. EL ELECTRODO DE BULK SE CONECTA SIMULTANEAMENTE A LA CONEXION DE LA BANDEJA Y AL ELECTRODO DE FUENTE, MIENTRAS EL ELECTRODO DE DRENAJE SE CONECTA EN EL POLO (+) POSITIVO DE LA TENSION DE FUNCIONAMIENTO. A TRAVES DE ESTA DISPOSICION CON PEQUEÑAS NECESIDADES SUPERFICIALES SE CONSIGUE UNA RESISTENCIA SEGURA DEL POLO, ESTOS PIERDEN UNA PEQUEÑA CORRIENTE DESPRECIABLE SOLAMENTE A TEMPERATURA ELEVADA Y SOLAMENTE SE NECESITA UNA UNICA BANDEJA SOBRE LA CUAL PUEDE COLOCARSE TAMBIEN OTROS ELEMENTOS DE CONSTRUCCION.

CIRCUITO PARA LA PROTECCION DE LA TENSION DE ALIMENTACION EN UN CIRCUITO INTEGRADO CMOS.

(16/04/1997). Solicitante/s: AUSTRIA MIKRO SYSTEME INTERNATIONAL AKTIENGESELLSCHAFT. Inventor/es: TRONTELJ, JANEZ, PROF. DR., TRONTELJ, LOJZE, PROF. DR., PLETERSEK, ANTON, DR., KUNC, VINKO MAG.

EN UN CIRCUITO PARA LA PROTECCION DE LA TENSION DE ALIMENTACION EN UN CIRCUITO DE APLICACION INTEGRADO CMOS, SE FABRICA UN TRANSISTOR BIPOLAR (BT) EN UN SUBSTRATO COMUN (S) CONJUNTAMENTE CON EL RESTO DE CIRCUITOS Y EL CIRCUITO DE APLICACION, DE TAL MODO, QUE EL COLECTOR (K), EL CUAL REPRESENTA A LA VEZ TAMBIEN EL PRIMER CONTACTO EN EL SUBSTRATO, SE ENCUENTRA A UNA DISTANCIA EN LA MAGNITUD DE 1,5 VECES LA PROFUNDIDAD DE LA ISLA (O), EN DONDE SE ENCUENTRA EL EMISOR (E) Y LA BASE (B). ENTRE EL COLECTOR (K) Y EL SEGUNDO CONTACTO EN EL SUBSTRATO (SK) MONTADO A UNA DISTANCIA LEJANA DE EL, SE ENCUENTRA LA ZONA PROHIBIDA (FIG.2), PARA AQUELLOS TIPOS DE TRANSISTORES, A LOS CUALES LES SON OPUESTOS EL TIPO DE CONDUCTIVIDAD DEL SUBSTRATO (S).

DISPOSICION DE CIRCUITO INTEGRADO MONOLITICAMENTE.

(16/02/1997). Solicitante/s: ROBERT BOSCH GMBH. Inventor/es: DAVIES, NEIL, DENNER, VOLKMAR, TROELENBERG, WOLFGANG, BRAUCHLE, PETER, FOX, WILLIAM-NEIL.

SE PROPONE UN CIRCUITO INTEGRADO MONOLITICAMENTE, QUE ESTA POSICIONADO EN UN SEMICONDUCTOR DE SILICIO MONOCRISTALINO EN FORMA DE DISCO DE UN PRIMER TIPO DE CONDUCTIVIDAD QUE TIENE UNA PRIMERA Y UNA SEGUNDA SUPERFICIE PRINCIPAL. EL CIRCUITO INTEGRADO MONOLITICAMENTE CONTIENE UN TRANSISTOR (T1) DE POTENCIA MOSFET VERTICAL, COMPUESTO DE UNA SERIE DE TRANSISTORES PARCIALES CONECTADOS MUTUAMENTE EN PARALELO Y ESTA RODEADO POR UN ANILLO PROTECTOR DE UN SEGUNDO TIPO DE CONDUCTIVIDAD OPUESTA A LA DEL CUERPO SEMICONDUCTOR . AL MENOS UNA ZONA DEL TIPO DE CONDUCTIVIDAD DEL CUERPO SEMICONDUCTOR , PERO CON UNA MAYOR DISCONTINUIDAD DE CONCENTRACION, ESTA DIFUNDIDA DENTRO DEL ANILLO PROTECTOR DESDE LA PRIMERA SUPERFICIE PRINCIPAL PARA FORMAR POR LO MENOS UN COMPONENTE (T2) DEL CIRCUITO PERIFERICO ACTIVO Y/O PASIVO, EL CUAL ESTA DISEÑADO PARA FUNCION DE PROTECCION Y/O REGULACION Y/O CONTROL.

DISPOSITIVO DE PROTECCION SCR DE BAJO VOLTAJE DE DISPARO Y ESTRUCTURA.

(16/12/1995). Solicitante/s: DAVID SARNOFF RESEARCH CENTER, INC. SHARP CORPORATION. Inventor/es: AVERY, LESLIE, RONALD.

SE EXPONE UN DISPOSITIVO PARA PROTEGER UN CIRCUITO INTEGRADO DE LA ENERGIA TRANSITORIA. EL DISPOSITIVO PROPORCIONA UNA SCR PROVISTA DE UNA TENSION DE DISPARO REDUCIDA.

SISTEMA DE PROTECCION DE VOLTAJE.

(01/12/1995). Solicitante/s: ADVANCED MICRO DEVICES INC.. Inventor/es: WOO, ANN K.

UN SISTEMA DE PROTECCION ESTATICO DE ELECTRICIDAD PARA UTILIZACION CON UN COMPONENTE MOS (METAL OXIDE SEMICONDUCTOR METAL-OXIDO-SEMICONDUCTOR) , QUE TIENE UNA ENTRADA DE PUERTA INCLUYENDO UNA CAPA DE OXIDO. UNA PUERTA DE TRANSMISION QUE TIENE UN GENERADOR Y UN ELEMENTO DE LA CORRIENTE DE DRENAJE, COMO UNA ENTRADA Y SALIDA RESPECTIVAMENTE, SE CONECTA A LA ENTRADA DE PUERTA DEL COMPONENTE MOS PARA PROTEGERLO DE LAS DESCARGAS REPENTINAS DE SOBREVOLTAJE ELECTRICO. EL GENERADOR DE LA PUERTA DE TRANSMISION Y EL ELEMENTO DE LA CORRIENTE DE DRENAJE, INCLUYEN UNA CAPA DE OXIDO SUSTANCIALMENTE MAS GRUESA QUE LA CAPA DE OXIDO DE LA ENTRADA DE PUERTA DEL COMPONENTE MOS.

CIRCUITO DE PROTECCIONES PARA PROCESOS BIPOLARES.

(01/12/1995). Solicitante/s: ADVANCED MICRO DEVICES INC.. Inventor/es: HURST, ROGER SCOTT, GILFEATHER, GLEN.

CIRCUITO DE PROTECCION PARA CIRCUITOS INTEGRADOS BIPOLARES PARA EVITAR QUE LAS DESCARGAS ELECTROSTATICAS LE ORIGINEN DAÑOS ACCIDENTALES. CONSTA DE UNA PLURALIDAD DE REDES DE FIJACION (12A-12N), CADA UNA DE LAS CUALES (12A-12N) ESTA CONECTADA ENTRE UNA DE LAS CLAVIJAS DE ENTRADA/SALIDA (P1-PN) DEL CIRCUITO INTEGRADO Y UNA LINEA DE BUS COMUN , QUE ESTA CONECTADA A UNA CLAVIJA EXTERNA DE SUBSTRATO (PS). CADA UNA DE LAS REDES DE FIJACION (12A-12N) INCLUYE UN RECTIFICADOR CONTROLADO DE SILICIO (T1), UN DIODO (D1), UN PRIMER RESISTOR (R1) Y UN SEGUNDO RESISTOR (R2). CUANDO CUALQUIERA DE LAS CLAVIJAS EXTERNAS DE ENTRADA/SALIDA (P1-PN) RECIBA UN VOLTAJE MAS ELEVADO QUE UN VALOR PREDETERMINADO Y CUALQUIERA DE LAS RESTANTES CLAVIJAS EXTERNAS DE ENTRADA/SALIDA (PN-PN) SE PONE EN CONTACTO CON UN POTENCIAL DE TIERRA, SE FORMA UNA VIA DE DESCARGA POR EL RECTIFICADOR CONTROLADO DE SILICIO Y UN DIODO UNICO PARA PROTEGER EL CIRCUITO INTERNO.

APARATO DE BOMBA DE CARGA.

(01/11/1995). Solicitante/s: ADVANCED MICRO DEVICES INC.. Inventor/es: BILL, COLIN STEWART, VAN BUSKIRK, MICHAEL A., MONTALVO, ANTONIO J.

SE SUMINISTRA UN CIRCUITO DE BOMBA DE CARGA COMPRENDIENDO UN CONDENSADOR MOS, UN CONDENSADOR ("CONDENSADOR EN SERIES") CONECTADO EN SERIES, UN DIODO MOSFET, Y UNA GRAPA DE TENSION CONECTADA AL NUDO COMUN DEL CONDENSADOR MOS Y EL CONDENSADOR EN SERIES. UN NUMERO DE ESTOS CIRCUITOS DE BOMBA DE CARGA PUEDE SER PUESTO EN CASCADA PARA FORMAR UN CIRCUITO DE VARIAS ETAPAS DE BOMBEO DE CARGA. CADA CIRCUITO PUEDE ALCANZAR UNA TENSION DE SALIDA MAYOR QUE LA TENSION DE ROTURA DE OXIDO DE CADA CONDENSADOR INDIVIDUAL MOS. ESTE CIRCUITO DE BOMBA DE CARGA PUEDE TAMBIEN FUNCIONAR BAJO CONDICIONES BAJAS DE SUMINISTRO DE ENERGIA DE TENSION.

BUFFER DE SALIDA DE CIRCUITO INTEGRADO CON PROTECCION ESD MEJORADA.

(01/09/1994). Solicitante/s: AMERICAN TELEPHONE AND TELEGRAPH COMPANY. Inventor/es: SMOOHA YEHUDA.

LA PROTECCION MEJORADA FRENTE A LAS DESCARGAS ELECTROSTATICAS (ESD) SE OBTIENE PARA UN BUFFER DE SALIDA DE CIRCUITO INTEGRADO CONECTANDOLO A UNA ZONA DE UNION A TRAVES DE UNA RESISTENCIA . EN UNA DISPOSICION, LA RESISTENCIA ESTA ENB EL TERMINAL DE DRENADOR DEL TRANSISTOR DE CANAL N . EN UNA DISPOSICION MEJOR, EL DISPOSITIVO DE CONMUTACION DE CANAL N ESTA CONECTADO A LA ZONA DE UNION POR MEDIO DE MULTIPLES RESISTENCIAS . LAS RESISTENCIAS PUEDEN ESTAR FORMADAS EN FORMA DE CONDUCTORES DEPOSITADOS, TIPICAMENTE SILICIO O POLISICIO DOPADO. LA ZONA DE UNION TIENE TAMBIEN DISPOSITIVOS DE FIJACION FRENTE A SOBRETENSIONES, TIPICAMENTE DIODOS Y/O TRANSISTORES CONECTADOS A LOS CONDUCTORES DE ALIMENTACION CORRESPONDIENTES (VDD, VSS). EL USO DE RESISTENCIAS MULTIPLES EVITA LOS FALLOS DEBIDOS A PERTURBACIONES PRODUCIDAS POR FENOMENOS ESD.

CIRCUITO MONOLITICO TRANSISTORIZADO INTEGRABLE PARA LA LIMITACION DE SOBRETENSIONES POSITIVAS.

(16/08/1994). Solicitante/s: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Inventor/es: KRIEDT, HANS, DIPL.-ING., ZIETEMANN, HEINZ, DIPL.-PHYS.

SE DESCRIBE UN CIRCUITO MONOLITICO TRANSISTORIZADO INTEGRABLE PARA LA LIMITACION DE SOBRETENSIONES POSITIVAS TRANSITORIAS EN UN CONDUCTOR ELECTRICO (L1) EN EL QUE EL EMISOR DE UN TRANSISTOR PNP (T1) SE CONECTA CON EL CONDUCTOR (L1), EN EL QUE EL COLECTOR DEL TRANSISTOR PNP (T1) ESTA CONECTADO CON UN POTENCIAL DE REFERENCIA (MASA), EN EL QUE LA BASE DEL TRANSISTOR PNP (T1) SE CONECTA, A TRAVES DE LA CONEXION EN PARALELO DE UNA RESISTENCIA (R1) DE VALOR ALTO Y DE UNA PRIMERA CAPACIDAD (C1) CON EL CONDUCTOR (L1), EN EL QUE LA BASE DEL TRANSISTOR PNP (T1) SE CONECTA, A TRAVES DE UNA SEGUNDA CAPACIDAD (C2) CON EL POTENCIAL DE REFERENCIA (MASA) Y EN EL QUE ESTE TRANSISTOR PNP (T1) SOLO ES CONDUCTOR, CUANDO SE REBASA UN VALOR UMBRAL DE POTENCIAL PREFIJADO, POSITIVO CON RELACION AL POTENCIAL DE REFERENCIA (MASA). ADEMAS, SE DESCRIBE UNA CONFIGURACION DE SEMICONDUCTORES PARA LA REALIZACION DEL CIRCUITO.

CIRCUITO MONOLITICO TRANSISTORIZADO INTEGRABLE PARA LA LIMITACION DE SOBRETENSIONES NEGATIVAS.

(01/01/1994). Solicitante/s: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Inventor/es: DIETZE, ANDREAS, DIPL.-ING., KRIEDT, HANS.

SE DESCRIBE UN CIRCUITO MONOLITICO TRANSISTORIZADO INTEGRABLE PARA LA PROTECCION DE UN INTERRUPTOR ELECTRICO CONTRA SOBRETENSIONES NEGATIVAS TRANSITORIAS EN EL QUE EL EMISOR DE UN TRANSISTOR NPN SE CONECTA CON EL CONDUCTOR A PROTEGER, EN EL QUE EL COLECTOR DE ESTE TRANSISTOR NPN SE CONECTA CON EL POTENCIAL DE ALIMENTACION POSITIVO Y EN EL QUE LA BASE DEL TRANSISTOR PNP SE CONECTA CON EL ANODO DE UN DIODO, CUYO CATODO ESTA CONECTADO CON UN POTENCIAL DE REFERENCIA.

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