CIP-2021 : G01R 31/3181 : Ensayos funcionales (G01R 31/3177 tiene prioridad).
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G FISICA.
G01 METROLOGIA; ENSAYOS.
G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12).
G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46).
G01R 31/3181 · · · Ensayos funcionales (G01R 31/3177 tiene prioridad).
CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.
Mecanismo informatizado para evaluación de vulnerabilidad en disposiciones con interceptores.
(27/11/2019). Solicitante/s: Winbond Electronics Corp. Inventor/es: TEPER,VALERY.
Un mecanismo informatizado para evaluación de vulnerabilidad en una disposición que tiene células y unidades de circuitos como interceptores , que comprende al menos un aparato informatizado configurado para realizar operaciones que incluye:
recibir la disposición con interceptores incorporados en posiciones preestablecidas;
virtualmente induciendo fallos en la disposición al modelar un fenómeno físico que afecta los tiempos en la disposición ;
detectar violaciones de tiempo en las células e interceptores que responden a los fallos inducidos en función de las discrepancias entre los tiempos y las especificaciones proporcionadas de los mismos; y determinar la vulnerabilidad de la disposición a fallos de acuerdo con las violaciones de tiempo detectadas fuera de los interceptores.
PDF original: ES-2768874_T3.pdf
Gestión remota de pruebas de circuitos lógicos digitales.
(14/12/2016). Solicitante/s: TELEFONAKTIEBOLAGET LM ERICSSON (PUBL). Inventor/es: SMEETS,BERNARD, NÄSLUND,Mats, DUBROVA,ELENA, CARLSSON,GUNNAR, FORNEHED,JOHN.
Un dispositivo electrónico que comprende:
un circuito lógico digital , y un módulo de prueba que se adaptan para:
recibir uno o más parámetros adecuados de la prueba para generar uno o más patrones de la prueba para el circuito lógico digital desde un dispositivo remoto de gestión de la prueba,
generar uno o más patrones de la prueba basados en los parámetros de la prueba,
aplicar los patrones de la prueba al circuito lógico digital,
recibir una o más respuestas a la prueba desde el circuito lógico digital, y
compactar las respuestas a la prueba en una firma de la prueba,
estando el dispositivo electrónico caracterizado en que el módulo de prueba se adapta además para:
recibir una firma esperada correspondiente a los patrones de la prueba desde el dispositivo remoto de gestión de la prueba, y
determinar el resultado de la prueba basado en la comparación de la firma esperada con la firma de la prueba.
PDF original: ES-2655503_T3.pdf
PROCEDIMIENTO PARA EL FUNCIONAMIENTO DE UN MODULO QUE PRESENTA ELEMENTOS LOGICOS Y ELEMENTOS DE MEMORIA.
(16/05/2005) Procedimiento para el funcionamiento de un módulo, que presenta elementos lógicos y elementos de memoria, o de un grupo estructural, que presenta elementos lógicos y elementos de memoria, pudiendo ser accionados el módulo o el grupo estructural en diferentes tipos de funcionamiento, uno e los cuales es el funcionamiento normal y uno es un funcionamiento de prueba, caracterizado porque - el tiempo de funcionamiento del módulo o del grupo estructural es dividido en divisiones de tiempo, - los diferentes tipos de funcionamiento son realizados de una manera periódica en el modo múltiple por división de tiempo sin interrupción, siendo asociada cada división…
METODO PARA ANALISIS Y TEST FUNCIONAL DE CIRCUITO DIGITALES DE GRAN DIMENSION MEDIANTE EMULADORES HARDWARE.
(16/11/2004). Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSIDAD DE SEVILLA. Inventor/es: TORRALBA SILGADO,ANTONIO, GARCIA FRANQUELO,LEOPOLDO, AGUIRRE ECHANOVE,MIGUEL, TOMBS,JONATHAN.
Método para análisis y test funcional de circuito digitales de gran dimensión mediante emuladores HARDWARE. Parte de un número indefinido de eventos o condiciones , (1')... (1n ), respectivos circuitos detectores , (2')... (2n), actuantes en combinación con un detector de flanco , que recibe información del pad externo de reactivación , y con la colaboración de un pad externo de control, del sistema, es posible vigilar tanto eventos deterministas como eventos temporales, concretamente vigilar una condición determinista en tiempo de ejecución, vigilar una condición temporal en tiempo de ejecución, generar una señal o bandera que registre el evento, cualquiera que sea su naturaleza, congelar el circuito para facilitar su análisis desde un sistema gráfico o similar, y comunicar al sistema que se ha producido un evento e identificar cuál de los eventos programados se ha producido.
