(10/06/2015) Sistema de inspección de superficies dispuesto para detectar características de desplazamiento relativo y/o de vibración de diversos puntos de una pluralidad de elementos que forman parte de una estructura mecánica , comprendiendo dicho sistema: una fuente de luz dispuesta para generar, al menos, un haz de luz ; un detector sensible a la posición dispuesto para recibir el haz de luz cuando es reflejado fuera de la estructura mecánica y para generar, al menos, una señal de salida en respuesta a la recepción de dicho haz de luz; un sistema de control electrónico ; un medio de exploración para el desplazamiento relativo de dicho haz de luz con relación a la estructura mecánica con el fin de explorar dicha estructura…

(01/03/2013) Un microscopio de sonda de barrido que comprende una sonda , un accionador piezoeléctrico para hacer oscilar la sonda , un amplificador invertido que tiene una entrada de amplificador invertido, una salida de amplificador y unarama de retroalimentación entre dicha salida de amplificador y dicha entrada de amplificador invertido,caracterizado por que el accionador piezoeléctrico es accionado por una corriente de retroalimentación a travésde dicha rama de retroalimentación, y una fuente de corriente para alimentar una corriente de entrada oscilante a dicha entrada de amplificadorinvertido.