PERFECCIONAMIENTOS EN LA FABRICACION DE DETECTORES DE PARTICULAS DE SEMI-CONDUCTOR DE ESTRUCTURAS NIP.

(16/04/1975). Solicitante/s: COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE.

Perfeccionamientos en la fabricación de detectores de partículas de semi-conductor de estructuras NIP, caracterizados porque se frota la zona N de un detector NIP difundido y migrado al litio clásico, porque se deposita por evaporación en vacío sobre la muestra IP restante una capa metálica únicamente sobre la zona intrínseca I, y porque se implanta iones litio, en dicha zona intrínseca a través de dicha capa metálica.