CIP-2021 : G01N 1/32 : Pulido; Decapado.

CIP-2021GG01G01NG01N 1/00G01N 1/32[2] › Pulido; Decapado.

G FISICA.

G01 METROLOGIA; ENSAYOS.

G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q).

G01N 1/00 Muestreo; Preparación de muestras para la investigación (manipulación de materiales para un análisis automático G01N 35/00).

G01N 1/32 · · Pulido; Decapado.

CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.

Dispositivo de sujeción para pulido de probetas miniatura.

(18/02/2014) 1. Dispositivo de sujeción para pulido de probetas miniatura que comprende una primera matriz y una segunda matriz de las que se enfrentan una superficie de unión de cada una cuando dichas matrices se unen entre sí mediante un medio de fijación y unos medios centradores que se proyectan desde la superficie de unión de una matriz para introducirse en orificios correspondientes de la otra matriz , caracterizado porque al menos dos rebajes con profundidades diferentes están dispuestos en al menos dos superficies exteriores de la primera matriz , pudiendo ser encajadas en dichos rebajes sendas probetas a pulir, siendo la profundidad de dichos rebajes menor…

Célula de disolución de muestra sólida capa a capa.

(10/04/2013) Célula de disolución continua de una muestra sólida que se va a analizar, que comprende un cuerpo ,adaptado para entrar en contacto con una superficie de la muestra , que comprende una cavidad , adecuada para formar, en combinación con la superficie de la muestra , una cámara de reacción; por lo menos una entrada para introducir un reactivo químico en la cámara de reacción, siendo elreactivo químico adecuado para atacar químicamente la muestra a partir del nivel de su superficie , en unespesor controlado, con una velocidad de ataque regulable, y para formar un producto de reacción; por lo menos una salida para extraer…

DISPOSITIVO DE PULIDO CON PORTAMUESTRAS.

(16/04/2003). Solicitante/s: COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE. Inventor/es: MIRAGAYA, JOSE.

LA INVENCION SE REFIERE A UN DISPOSITIVO DE PULIDO DE MUESTRAS QUE COMPRENDE UN PORTAMUESTRAS QUE PUEDE SER COLOCADO EN UN ORIFICIO DEL DISCO DE SOPORTE Y QUE ASEGURA LA SUJECION DE LA MUESTRA A PULIR SIN QUE ESTA HAYA SIDO PREVIAMENTE REVESTIDA CON RESINA. APLICACION EN METALOGRAFIA.

EQUIPO PARA LA AMOLADURA DE MUESTRAS DE MATERIAL.

(16/11/2002). Solicitante/s: NORSK HYDRO ASA. Inventor/es: THORESEN, BJORN, THORKILSEN, GEIR.

EQUIPO PARA EL AFILADO DE MUESTRAS DE MATERIAL, POR EJEMPLO EL AFILADO DE UNA MUESTRA DE ROCA ENSAMBLADA EN UNA PLATINA DE MICROSCOPIO INCLUYE UNA CONSOLA Y UNA ESTRUCTURA DE ARMAZON CON UNA PLATAFORMA GIRATORIA QUE ESTA DISPUESTA PARA SOPORTAR VARIAS MUESTRAS DE MATERIAL. ENCIMA DE LA PLATAFORMA GIRATORIA HAY DISPUESTA AL MENOS UN CUELLO DE AFILADO VERTICAL MOVIL . UNA UNIDAD DE CONTROL PROGRAMABLE CONTROLA EL PROCESO DE AFILADO.

IDENTIFICACION DE PLASTICOS.

(16/04/1999) PARA HACER POSIBLE QUE UN ESPECTROMETRO SE UTILICE PARA TOMAR LECTURAS DE ANALISIS DE ARTICULOS DE PLASTICO DE DIFERENTES FORMAS Y GRADO DE PREPARACION, EL ESPECTROMETRO SE ENCIERRA DENTRO DE UN ALOJAMIENTO QUE TIENE UN DISPOSITIVO DE INTERFACE UNIDO A LA VENTANA DE DETECCION . EL DISPOSITIVO DE INTERFACE ES SENSIBLE AL POSICIONAMIENTO DE UNA MUESTRA EN POSICION PARA LLEVAR A CABO LAS TAREAS DE PREPARACION DE LA MUESTRA A MEDIDA QUE LA MUESTRA ES LLEVADA A LA POSICION DE ANALISIS OPUESTA A LA VENTANA DE DETECCION . EL DISPOSITIVO DE INTERFACE COMPRENDE UNA PARED FRONTAL CON UNA ABERTURA PARA LAS MUESTRAS…

ATAQUE ELECTRONICO DE METALES PARA REVELAR LA CALIDAD INTERNA.

(16/05/1995). Solicitante/s: STELCO INC. Inventor/es: KELLY, JOHN, HAMILTON, GUEST, LEONARD, EVAN.

LA CALIDAD INTERNA DE LAS PIEZAS FUNDIDAS CONTINUAMENTE Y DE OTRAS MUESTRAS DE ACERO A MODO DE LINGOTES, TOCHOS, LUPIAS, LAMINAS Y BARRAS SE DETERMINA DE MANERA RAPIDA PARA PERMITIR IDENTIFICAR Y CORREGIR CON TIEMPO LAS CONDICIONES DE FUNDICION QUE POTENCIALMENTE PUEDEN CAUSAR PROBLEMAS. SE DECAPA ANODICAMENTE UNA MUESTRA DE ACERO DE LA PIEZA DE FUNDICION, DESPUES DE PULIRLA PARA ELIMINAR CUALQUIER ZONA AFECTADA POR EL CALOR Y DE OBTENER EL GRADO DE RUGOSIDAD SUPERFICIAL DESEADO, UTILIZANDO UN ACIDO HIDROCLORICO DILUIDO A TEMPERATURA AMBIENTE PARA DECAPAR EL METAL DE LA SUPERFICIE Y PODER VER LA CALIDAD INTERNA. TRAS LA RETIRADA DE LA MUESTRA DEL APARATO DE DECAPADO, SE LAVA, SE SECA Y SE EXAMINA VISUALMENTE LA MUESTRA PARA DETERMINAR LA CALIDAD INTERNA.

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