CIP 2015 : G01B 9/04 : Microscopios de medida.

CIP2015GG01G01BG01B 9/00G01B 9/04[1] › Microscopios de medida.

Notas[t] desde G01 hasta G12: INSTRUMENTOS

G SECCION G — FISICA.

G01 METROLOGIA; ENSAYOS.

G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.

G01B 9/00 Instrumentos según se especifica en los subgrupos y caracterizados por la utilización de medios de medida ópticos (disposiciones para la medida de parámetros particulares G01B 11/00).

G01B 9/04 · Microscopios de medida.

CIP2015: Invenciones publicadas en esta sección.

Microscopio confocal con correlación de apertura.

(01/02/2017) Microscopio confocal que comprende - un dispositivo de iluminación para iluminar una muestra; - una unidad de disco rotativo que comprende una máscara de apertura rotativa con una primera sección ópticamente abierta y una segunda sección estructurada para codificar la iluminación; - una unidad de toma de imágenes para captar una primera imagen , que está asociada a la primera sección, y una segunda imagen , que está asociada a la segunda sección, a través de la máscara de apertura o una máscara descodificadora; - una platina portaobjetos verticalmente desplazable y/o un accionamiento de foco verticalmente desplazable con un medio de captación…

Sistema para el cálculo de propiedades de material usando radiación de terahercios de reflexión y una estructura de referencia externa.

(08/06/2016) Un sistema para interpretar una radiación de terahercios, comprendiendo el sistema : un transmisor de terahercios que está configurado para emitir un pulso de radiación de terahercios a través de un primer acceso ; un receptor de terahercios que está configurado para recibir al menos una porción del pulso de radiación de terahercios a través del primer acceso , en el que el receptor de terahercios está configurado para emitir una señal en función de la radiación recibida por el receptor de terahercios ; una primera interfase óptica que proporciona una interferencia óptica al pulso de radiación de terahercios, en el que la primera…

MÉTODO PARA OBTENER IMÁGENES MULTIESPECTRALES DE REFLECTANCIA ABSOLUTA.

(07/06/2013) Se describe un procedimiento para llevar a cabo medidas cuantitativas en diferentes bandas de interés mediante un microscopio óptico de reflexión (o de luz transmitida) modificado. Dichas medidas se realizan de forma automatizada gracias a la intervención de una unidad de control que se acopla con el microscopio modificado para asistir en la calibración del dispositivo. Adicionalmente, también lleva a cabo correcciones de las imágenes tomadas de acuerdo con la banda de interés para que cada nivel de gris se asocie con un nivel de reflectancia real de la muestra (o de transmitancia) para la que se ha tomado la imagen.

PROCEDIMIENTO Y SISTEMA PARA LA OBTENCIÓN DE IMÁGENES CUANTITATIVAS EN MICROSCOPÍA ÓPTICA DE FASE.

(24/09/2012) Procedimiento y sistema para la obtención de imágenes cuantitativas en microscopia óptica de fase. Procedimiento para la obtención de imágenes de muestras en microscopía óptica que permite obtener imágenes con información completa cuantitativa de fase o diferencia de camino óptico de muestras (M) microscópicas mediante la generación de imágenes simultaneas de gradiente de fase. La luz emergente de la muestra, iluminada por una diversidad de ondas planas, se divide en cuatro haces mediante el uso de medios ópticos o electro-ópticos. Simultáneamente se genera la imagen de la muestra con los cuatro haces sobre un sensor matricial. Las imágenes están directamente relacionadas con el gradiente. Un algoritmo de integración numérica obtiene la fase a partir de la información…

PROCEDIMIENTO Y SISTEMA PARA LA OBTENCIÓN DE IMÁGENES CUANTITATIVAS EN MICROSCOPÍA ÓPTICA DE FASE.

(07/09/2012). Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSIDAD DE MURCIA. Inventor/es: IGLESIAS CASARRUBIOS,JOSÉ IGNACIO.

Procedimiento para la obtención de imágenes de muestras en microscopía óptica que permite obtener imágenes con información completa cuantitativa de fase o diferencia de camino óptico de muestras (M) microscópicas mediante la generación de imágenes simultaneas de gradiente de fase. La luz emergente de la muestra, iluminada por una diversidad de ondas planas, se divide en cuatro haces mediante el uso de medios ópticos o electro- ópticos. Simultáneamente se genera la imagen de la muestra con los cuatro haces sobre un sensor matricial. Las imágenes están directamente relacionadas con el gradiente. Un algoritmo de integración numérica obtiene la fase a partir de la información de gradiente. De utilidad especial como técnica de microscopia en biología y biomedicina.

Procedimiento y dispositivo de formación de imagen microscópica interferencial de un objeto a cadencia elevada.

(08/08/2012) Procedimiento de formación de imagen microscópica interferencial de un objeto en el que: - se envía un haz procedente de una fuente de luz de pequeña longitud de coherencia en cada uno delos brazos de un microscopio interferencial de dos ondas, incluyendo uno de los brazos un objeto que se va aanalizar e incluyendo el otro brazo un espejo de referencia , - se introduce una modulación sinusoidal de frecuencia f, que tiene una amplitud Ψ y una fase desincronización θ, de la diferencia de fase óptica entre los dos brazos del interferómetro, resultando dichamodulación de la oscilación mecánica de un conjunto de elementos del interferómetro, -…

PERFILOMETRO OPTICO DE TECNOLOGIA DUAL (CONFOCAL E INTERFEROMETRICA) PARA LA INSPECCION Y MEDICION TRIDIMENSIONAL DE SUPERFICIES.

(16/08/2006). Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSITAT POLITECNICA DE CATALUNYA. Inventor/es: LAGUARTA BERTRAN,FERRAN, ARTIGAS PURSALS,ROGER, CADEVALL ARTIGUES,CRISTINA.

Comprende una fuente de luz (LED), unos divisores de haz (por lo menos uno es polarizante), y medios de generación de patrones de iluminación (microvisualizador LCOS) y objetivos microscópicos intercambiables que son objetivos convencionales con los que se pueden obtener imágenes confocales y objetivos interferométricos con los que se pueden obtener imágenes interferométricas. El microvisua1izador puede generar una secuencia de patrones de iluminación para obtener imágenes confocales o una apertura total de todos los píxeles de iluminación para obtener imágenes interferométricas. Presenta un diseño compacto que permite la medida rápida y sin contacto de la forma y la textura de todo tipo de superficies a escala micro y nanométrica, incluso en muestras estructuradas o estratificadas que contienen materiales diferentes.

PROCEDIMIENTO PARA LA FABRICACION DE FLEJES DE GEOMETRIA CIRCULAR CON UN ESPEJO EN SU EXTREMO PARA LA DETECCION DE SU DEFELXION.

(16/10/2000). Solicitante/s: UNIVERSIDAD AUTONOMA DE MADRID. Inventor/es: COLCHERO PAETZ, JAIME, REINALDO FALANGON, MANUEL, BUENDIA ALMANSA, ANDRES, BARO VIDAL, ARTURO.

Procedimiento para la fabricación de flejes de geometría circular con un espejo en su extremo para la detección de su deflexión, que consiste en adherir al extremo del fleje una capa delgada de un material reflejante, tal y como puede ser oro, depositado sobre un substrato adecuado. Cuando la unión de la capa reflejante al fleje es mayor que la adhesión de esta capa al substrato, y si la capa reflejante es lo suficientemente delgada, únicamente se desprende del substrato un pequeño fragmento de la capa reflejante desempeñando este fragmento la función de espejo.

MICROSCOPIO DE FUERZAS DE BAJO RUIDO, CON AMPLIO CAMPO DE VISIBILIDAD.

(01/12/1999). Ver ilustración. Solicitante/s: BARO VIDAL, ARTURO GOMEZ HERRERO, JULIO COLCHERO PAETZ, JAIME VIRGILIO GOMEZ RODRIGUEZ, JOSE MARIA.

Microscopio de fuerzas para medir diferentes propiedades de la superficie de una muestra, provisto de sistema óptico de posicionamiento y calibración. Este microscopio se caracteriza por su diseño, que reduce sensiblemente el ruido mecánico y también la deriva térmica, y por estar controlado con medios electrónicos digitales. Además, permite un fácil ajuste de los componentes ópticos, una calibración y una visión global mediante un microscopio óptico de gran resolución. Figura 1.

MEJORAS RELATIVAS A MICROSCOPIOS METALOGRAFICOS UTILES PARA LA CARACTERIZACION DE TROQUELES PARA LA EXTRACCION DE CONDUCTORES.

(16/06/1997). Solicitante/s: CENTRO DE INVESTIGACION Y DESARROLLO CONDUMEX, S.A. DE C.V. Inventor/es: LONGORIA, DANIEL AGUILERA, GARCIA, DANIEL CARDENAS, RUIZ, FERNANDO LUENGAS.

LA INVENCION SE REFIERE A LAS MEJORAS EN UN MICROSCOPIO METALOGRAFICO CONVENCIONAL AL CUAL SE HAN HECHO CAMBIOS EN LAS PARTES PRINCIPALES DEL CUERPO, LA PLATINA Y EL SISTEMA DE ILUMINACION QUE SE INTEGRA MEDIANTE DOS SUBSISTEMAS, LOS CAMBIOS DE LAS PARTES PRINCIPALES SON COMO SIGUE: INTEGRACION DE UN CIRCUITO ELECTRONICO PARA EL CONTROL, LA MONITORIZACION, LA SELECCION Y EL AJUSTE DE LA INTENSIDAD DE LA LUZ. CAMBIOS EN LAS FUENTES DE LUZ. LA INSTALACION DE UN SISTEMA COLIMADOR PARA LA ILUMINACION DISCOPICA. INTEGRACION DE ESCALAS LINEALES A LOS EJES HORIZONTALES Y VERTICALES DE LA PLATINA. LA INSTALACION DE UN DISPOSITIVO DE POSICIONAMIENTO EN LA PLATINA. LA INTEGRACION DEL SUMINISTRO DE ENERGIA DE LA CAMARA DENTRO DEL CUERPO DEL MICROSCOPIO. EL CABLEADO INTERNO PARA LA ALIMENTACION DE LA CAMARA QUE SUMINISTRA LAS SEÑALES PARA LA SALIDA DE SINCRONIA Y DE VIDEO. LOS CAMBIOS PERMITEN OBTENER UNA CARACTERIZACION IDEAL DE LOS TROQUELES.

MICROSCOPIO DE EFECTO TUNEL.

(16/05/1989). Solicitante/s: BARO VIDAL, ARTURO MARIA.

EN EL MICROSCOPIO DE EFECTO TUNEL UNA PUNTA DE RADIO PEQUEÑO (100 NM) SE SITUA A UNA DISTANCIA DE 1 NM DE LA MUESTRA. EL MOVIMIENTO VERTICAL DE LA PUNTA EN FUNCION DE SU POSICION SOBRE LA MUESTRA PROPORCIONA UNA IMAGEN TRIDIMENSIONAL REAL DE SU SUPERFICIE. PUNTOS BASICOS EN EL MOVIMIENTO DE APROXIMACION DE LA MUESTRA A LA PUNTA HASTA OBTENER LA DISTANCIA DE 1 NM, Y EL MOVIMIENTO DE LA PUNTA. EN ESTA PATENTE, EL MOVIMIENTO DE LA MUESTRA SE REALIZA MEDIANTE MICROMETRO MECANICO. ESTE MOVIMIENTO ES SEGURO Y REPRODUCIBLE DADAS LAS CARACTERISTICAS DE LOS MICROMETROS ACTUALES. EL MOVIMIENTO DE LA PUNTA ES MEDIANTE UN SISTEMA TRIRRECTANGULAR DE PIEZO ELECTRICOS INDEPENDIENTES.

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