(30/09/2010) Un procedimiento de determinación del rendimiento de campo lejano de un dispositivo RFID , comprendiendo el procedimiento: realización de una prueba de campo cercano en el dispositivo RFID ; determinación del rendimiento de campo lejano del dispositivo RFID a partir de los resultados de prueba de las pruebas de campo cercano; y caracterizado porque la determinación incluye determinación un parámetro numérico de rendimiento de campo lejano y uso de un algoritmo matemático para determinar el rendimiento de campo lejano; y en el que el uso del algoritmo matemático incluye el cálculo del parámetro de rendimiento de campo lejano

(16/03/2006) Aparato para probar un circuito integrado sobre una oblea que comprende: a) un circuito de prueba formado sobre la oblea con el circuito integrado, comprendiendo el circuito de prueba: i) un circuito oscilador en anillo variable que tiene un circuito oscilador en anillo base y una pluralidad de subcircuitos acoplados al circuito oscilador en anillo base; y, ii) un circuito de control para acoplar de manera selectiva los subcircuitos al circuito de oscilador en anillo base para cambiar la frecuencia de oscilación de dicho circuito oscilador en anillo variable en base a un subcircuito seleccionado; y, b) una unidad de prueba independiente de la oblea, estando la unidad de prueba unida sin hilos al circuito…