Sistemas y procedimientos para determinar la osmolaridad de una muestra.

Un sistema que comprende:

(i) un sensor que comprende una superficie de detección que comprende una región revestida,

en el que el sensor comprende una pluralidad de facetas dispuestas para dirigir una señal óptica en una dirección dada y está configurado para:

dirigir una primera señal óptica para interactuar con la superficie de detección en un primer ángulo incidente, en el que el primer ángulo incidente varía de 62 a 67 grados; y

dirigir una segunda señal óptica para interactuar con la superficie de detección en un segundo ángulo incidente, en el que el segundo ángulo incidente varía de 40 a 45 grados; y

(ii) un chasis óptico que comprende:

un componente generador de señal óptica;

un componente de detección;

un procesador;

un controlador; y

un medio legible por ordenador que comprende instrucciones que, cuando son ejecutadas por el procesador, hacen que el controlador:

dirija una señal óptica que tiene una primera longitud de onda para interactuar con la superficie de detección en el primer ángulo incidente para generar una primera señal de resonancia de plasmón superficial (SPR);

genere una serie de imágenes de la primera señal SPR durante un primer intervalo de tiempo utilizando el componente de detección; determine una serie de posiciones de píxeles que corresponden a un valor mínimo de la primera señal SPR durante el primer intervalo de tiempo;

dirija una señal óptica que tiene una segunda longitud de onda para interactuar con la superficie de detección en el primer ángulo incidente para generar una segunda señal SPR;

genere una serie de imágenes de la segunda señal SPR durante un segundo intervalo de tiempo utilizando el componente de detección; determine una serie de posiciones de píxeles que corresponden a un valor mínimo de la segunda señal SPR durante el segundo intervalo de tiempo;

compare la serie de posiciones de píxeles que corresponden al valor mínimo de la primera señal SPR durante el primer intervalo de tiempo con la posición de píxel de al menos un elemento de referencia para generar una primera función SPR de corrección de referencia; compare la serie de posiciones de píxeles que corresponden al valor mínimo de la segunda señal SPR durante el segundo intervalo de tiempo con la posición de píxel de al menos un elemento de referencia para generar una segunda función SPR de corrección de referencia; y

compare una o más características de la primera función SPR de corrección de referencia y la segunda función SPR de corrección de referencia para determinar un valor de píxel delta SPR de corrección de referencia.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/US2016/061424.

Solicitante: LacriSciences LLC.

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: 4910 Massachusetts Avenue NW, Suite 21 Washington DC 20016 ESTADOS UNIDOS DE AMERICA.

Inventor/es: GEDDES,CHRIS D, GAVARIS,PAUL T, GHOVANLOU,ALI H.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • A61B3/10 NECESIDADES CORRIENTES DE LA VIDA.A61 CIENCIAS MEDICAS O VETERINARIAS; HIGIENE.A61B DIAGNOSTICO; CIRUGIA; IDENTIFICACION (análisis de material biológico G01N, p.ej. G01N 33/48). › A61B 3/00 Aparatos para el examen óptico o clínico de los ojos; Instrumentos para examinar los ojos (examen ocular utilizando ondas ultrasónicas, sónicas o infrasónicas A61B 8/10). › del tipo de medida objetiva, es decir instrumentos para el examen de los ojos con independencia de las percepciones o reacciones del paciente.
  • G01N21/43 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › midiendo el ángulo crítico.
  • G01N21/552 G01N 21/00 […] › Atenuación de la reflexión total.
  • G01N33/84 G01N […] › G01N 33/00 Investigación o análisis de materiales por métodos específicos no cubiertos por los grupos G01N 1/00 - G01N 31/00. › en los que intervienen compuestos inorgánicos o el pH.

PDF original: ES-2773778_T3.pdf

 

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