Analizador de muestras.
Analizador de muestras (1) para analizar una muestra, que comprende:
una sección de sujeción que comprende una pluralidad de regiones de sujeción para sujetar depósitos de reactivo (300), conteniendo cada uno de los depósitos de reactivo (300) un reactivo;
medios de análisis para analizar una muestra de medición preparada mezclando una muestra y el reactivo;
un panel táctil para la visualización de una pluralidad de zonas (421, 422) de visualización que corresponden a la pluralidad de regiones de sujeción; y
medios de control para controlar la sección de sujeción de manera que se mueva una región de sujeción que corresponde a la zona (421, 422) de visualización seleccionada mediante el uso de un panel táctil a una posición en la que el reactivo se sustituye o añade.
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E17185276.
Solicitante: SYSMEX CORPORATION.
Nacionalidad solicitante: Japón.
Dirección: 5-1 Wakinohama-Kaigandori 1-chome Chuo-ku Kobe-shiHyogo 651-0073 JAPON.
Inventor/es: FUJITA,KYOZO, KITAGAWA,NOBUHIRO, KANEKO,SHUHEI.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N35/00 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › Análisis automático no limitado a procedimientos o a materiales tratados en uno sólo de los grupos G01N 1/00 - G01N 33/00; Manipulación de materiales a este efecto.
- G01N35/02 G01N […] › G01N 35/00 Análisis automático no limitado a procedimientos o a materiales tratados en uno sólo de los grupos G01N 1/00 - G01N 33/00; Manipulación de materiales a este efecto. › utilizando una serie de recipientes con muestras desplazadas por un transportador que pasa delante de uno o más puestos de tratamiento o análisis.
PDF original: ES-2714182_T3.pdf
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