MÓDULO FOTOVOLTAICO CON SISTEMA PARA IDENTIFICACIÓN DE CAUSA DE DISMINUCIÓN DE POTENCIA ELÉCTRICA E INDEPENDENCIA DE FALLA.
La presente invención describe una arquitectura de integración de celdas fotovoltaicas y un método de operación de las mismas que permite la colección y análisis de señales individuales secuenciadas desde cada celda o grupo de celdas para identificación de causa raíz en la disminución de potencia eléctrica total,
ocasionada por posible contaminación de partículas de polvo, materia sólida o acuosa, sombras fijas o dinámicas y/o fracturas. La configuración cuenta con sensores de corriente eléctrica y de voltaje con los cuales se detecta cada disminución en la potencia eléctrica. El método permite seguir una falla de disminución de potencia eléctrica en toda la matriz de celdas fotovoltaicas para desplegar una conclusión al usuario referente al mantenimiento preventivo y correctivo.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/MX2016/000140.
Solicitante: CISCOMANI DAVILA, Geovani Francesco.
Nacionalidad solicitante: México.
Dirección: Av. Vía Palomar No. 13 Residencial La Paloma Hermosillo, Sonora, 83148 83148, MÉXICO.
Inventor/es: PARDO GUZMAN,Dino Alejandro, GUTIERREZ LIZARRAGA,Hiram.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- H01L31/02 ELECTRICIDAD. › H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS. › H01L DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES; DISPOSITIVOS ELECTRICOS DE ESTADO SOLIDO NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR (utilización de dispositivos semiconductores para medida G01; resistencias en general H01C; imanes, inductancias, transformadores H01F; condensadores en general H01G; dispositivos electrolíticos H01G 9/00; pilas, acumuladores H01M; guías de ondas, resonadores o líneas del tipo guía de ondas H01P; conectadores de líneas, colectores de corriente H01R; dispositivos de emisión estimulada H01S; resonadores electromecánicos H03H; altavoces, micrófonos, cabezas de lectura para gramófonos o transductores acústicos electromecánicos análogos H04R; fuentes de luz eléctricas en general H05B; circuitos impresos, circuitos híbridos, envolturas o detalles de construcción de aparatos eléctricos, fabricación de conjuntos de componentes eléctricos H05K; empleo de dispositivos semiconductores en circuitos que tienen una aplicación particular, ver la subclase relativa a la aplicación). › H01L 31/00 Dispositivos semiconductores sensibles a la radiación infrarroja, a la luz, a la radiación electromagnética de ondas más cortas, o a la radiación corpuscular, y adaptados bien para la conversión de la energía de tales radiaciones en energía eléctrica, o bien para el control de la energía eléctrica por dicha radiación; Procesos o aparatos especialmente adaptados a la fabricación o el tratamiento de estos dispositivos o de sus partes constitutivas; Sus detalles (H01L 51/42 tiene prioridad; dispositivos consistentes en una pluralidad de componentes de estado sólido formados en o sobre un sustrato común, diferentes a las combinaciones de componentes sensibles a la radiación con una o varias fuentes de luz eléctrica H01L 27/00). › Detalles.
- H02S50/10 H […] › H02 PRODUCCION, CONVERSION O DISTRIBUCION DE LA ENERGIA ELECTRICA. › H02S GENERACIÓN DE ENERGÍA ELÉCTRICA MEDIANTE LA CONVERSIÓN DE LA RADIACIÓN INFRARROJA, LUZ VISIBLE O LUZ ULTRAVIOLETA, p. ej. UTILIZANDO MÓDULOS FOTOVOLTAICOS [FV] (obtención de energía eléctrica a partir de fuentes radiactivas G21H 1/12; dispositivos semiconductores inorgánicos sensibles a la luz H01L 31/00; dispositivos termoeléctricos H01L 35/00; dispositivos piroeléctricos H01L 37/00; dispositivos semiconductores orgánicos sensibles a la luz H01L 51/42). › H02S 50/00 Monitorización o ensayos de sistemas FV, p. ej equilibrio de carga o identificación de fallos. › Ensayos de dispositivos FV, p. ej. de módulos FV o células FV individuales (ensayo de dispositivos semiconductores durante su fabricación H01L 21/66).
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