Centelleador de gran formato para dispositivo de formación de imágenes, módulo centelleador y procedimiento de fabricación de un centelleador.
Centelleador (2) para dispositivo de formación de imágenes que comprende una primera placa (4) de un primer material apto para emitir fotones (Φ
) en función de la radiación incidente (R), y al menos una segunda placa (5) de un segundo material apto para emitir fotones (Φ ) en función de la radiación incidente (R), estando la primera placa (4) y la segunda placa (5) ensambladas por los cantos respectivos de la primera placa y de la segunda placa mediante unos medios de unión (6), al menos el primer material es un cristal de un material de masa por unidad de volumen superior a 5g/cm3, y una de las dos caras más grandes de al menos la primera placa es opaca y absorbente, caracterizado por que los medios de unión (6) son medios que absorben la totalidad o parte de los fotones (Φ ) emitidos por las placas 4, 5), en el que los cantos se pulen ópticamente.
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E12189079.
Solicitante: COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVES.
Nacionalidad solicitante: Francia.
Dirección: BATIMENT "LE PONANT D" 25, RUE LEBLANC 75015 PARIS FRANCIA.
Inventor/es: PARTOUCHE-SEBBAN,DAVID, ABRAHAM,ISABELLE.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01T1/20 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01T MEDIDA DE RADIACIONES NUCLEARES O DE RAYOS X (análisis de materiales por radiaciones, espectrometría de masas G01N 23/00; tubos para determinar la presencia, intensidad, densidad o energía de una radiación o de partículas H01J 47/00). › G01T 1/00 Medida de los rayos X, rayos gamma, radiaciones corpusculares o de las radiaciones cósmicas (G01T 3/00, G01T 5/00 tienen prioridad). › con detectores de centelleo.
PDF original: ES-2642322_T3.pdf
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